公开(公告)号：BR112012021520A2

公开(公告)日：2016-07-05

申请号：BR112012021520

申请日：2011-02-23

Applicant: RAPISCAN SYSTEMS INC

Inventor： BROWN CRAIG MATHEW ,  STEVENSON JOHN DAVID ,  BENDAHAN JOSEPH ,  GOZANI TSAHI ,  LANGEVELD WILLEM GERHARDUS JOHANNES

IPC: G01N23/10

公开(公告)号：GB2490635A

公开(公告)日：2012-11-07

申请号：GB201215364

申请日：2011-02-23

Applicant: RAPISCAN SYSTEMS INC

Inventor： BENDAHAN JOSEPH ,  BROWN CRAIG MATHEW ,  GOZANI TSASHI ,  LANGEVELD WILLEM GERHARDUS JOHANNES ,  STEVENSON JOHN DAVID

IPC: G01N23/10 ,  G01N23/203 ,  G01V5/00

Abstract: The application discloses systems and methods for X-ray scanning for identifying material composition of an object being scanned. The system includes at least one X-ray source for projecting an X-ray beam on the object, where at least a portion of the projected X-ray beam is transmitted through the object, and an array of detectors for measuring energy spectra of the transmitted X-rays. The measured energy spectra are used to determine atomic number of the object for identifying the material composition of the object. The X-ray scanning system may also have an array of collimated high energy backscattered X-ray detectors for measuring the energy spectrum of X-rays scattered by the object at an angle greater than 90 degrees, where the measured energy spectrum is used in conjunction with the transmission energy spectrum to determine atomic numbers of the object for identifying the material composition of the object.

公开(公告)号：MX2012009921A

公开(公告)日：2012-12-17

申请号：MX2012009921

申请日：2011-02-23

Applicant: RAPISCAN SYSTEMS INC

Inventor： BENDAHAN JOSEPH ,  BROWN CRAIG MATHEW ,  GOZANI TSAHI ,  LANGEVELD WILLEM GERHARDUS JOHANNES ,  STEVENSON JOHN DAVID

IPC: G01N23/10

Abstract: La solicitud divulga sistemas y métodos para escaneado de rayos X para identificar la composición del material de un objeto que está siendo escaneado. El sistema incluye al menos una fuente de rayos X para proyectar un haz de rayos X sobre el objeto, donde al menos una porción del haz de rayos X proyectado se transmite a través del objeto, y un arreglo de detectores para medir espectros de energía de los rayos X transmitidos. Los espectros de energía medidos se utilizan para determinar el número atómico del objeto para identificar la composición del material del objeto. El sistema de escaneado de rayos X puede también tener un arreglo de detectores de rayos X retrodispersados de alta energía colimados para medir el espectro de energía de rayos X dispersados por el objeto en un ángulo mayor a los 90 grados, donde el espectro de energía medida se utiliza en conjunto con el espectro de energía de transmisión para determinar los números atómicos del objeto para identificar la composición del material del objeto.

公开(公告)号：EP2539697A4

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：EP11748024

申请日：2011-02-23

Applicant: RAPISCAN SYSTEMS INC

Inventor： BENDAHAN JOSEPH ,  BROWN CRAIG MATHEW ,  GOZANI TSAHI ,  LANGEVELD WILLEM GERHARDUS JOHANNES ,  STEVENSON JOHN DAVID

IPC: G01N23/10 ,  G01N23/087 ,  G01N23/203 ,  G01V5/00

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N23/10 ,  G01N23/20083 ,  G01N23/203 ,  G01V5/0016 ,  G01V5/0025