低温下剥离半导体层的方法

    公开(公告)号:CN102197473A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN200980143152.4

    申请日:2009-10-29

    CPC classification number: H01L21/187 H01L21/76251

    Abstract: 本发明涉及一种用于制造UTBOX型结构的方法,包括:a)组装被称为“施予”衬底(1)的衬底与被称为“接受”衬底(2)的衬底,两个衬底的至少其中之一包括厚度小于50nm的绝缘层(3);b)在低于400℃的温度下的用于加强两个衬底之间的组装的第一热处理,其在组装过程中和/或在组装之后执行以加强所述组装;c)在高于900℃的温度下的第二热处理,在400℃和900℃之间的暴露时间在1分钟内或30秒以下。

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