公开(公告)号：CN105628210B

公开(公告)日：2018-12-25

申请号：CN201510777582.9

申请日：2015-11-13

Applicant: SLM方案集团股份公司

Inventor： 迪特尔·施瓦策 ,  丹尼尔·阿尔贝茨

IPC: G01J5/00 ,  G01J5/02

Abstract: 本发明公开一种高温检测装置、其校准方法及用于生产三维工件的设备。在用于生产三维工件的设备中使用的高温检测装置包括：高温检测单元(10)，被配置为接收检测平面的不同点处在检测方向上发出的热辐射；以及校准装置(12)，包括基板(14)和多个光导(16)，每个光导(16)具有用于将光耦合到光导(16)中的第一端(18)和用于从光导(16)发出光的第二端(20)，第二端(20)被固定到基板(14)。基板(14)适于，在高温检测装置的校准状态下，以使得多个光导(16)的第二端(20)设置在检测平面(38)中并在检测方向上发射光的方式，相对于高温检测单元(10)可移除地设置。

公开(公告)号：CN105628210A

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201510777582.9

申请日：2015-11-13

Applicant: SLM方案集团股份公司

Inventor： 迪特尔·施瓦策 ,  丹尼尔·阿尔贝茨

IPC: G01J5/00 ,  G01J5/02

CPC classification number: G01J5/0821 ,  B22F2003/1056 ,  B29C64/153 ,  B29C64/20 ,  B29C64/386 ,  B33Y30/00 ,  B33Y50/02 ,  G01J5/0003 ,  G01J5/004 ,  G01J5/047 ,  G01J5/0809 ,  G01J5/089 ,  G01J5/0896 ,  G01J5/522 ,  G01J5/60 ,  G01J5/602 ,  G01J2005/0048 ,  Y02P10/295 ,  G01J5/02 ,  G01J2005/0059

Abstract: 本发明公开一种高温检测装置、其校准方法及用于生产三维工件的设备。在用于生产三维工件的设备中使用的高温检测装置包括：高温检测单元(10)，被配置为接收检测平面的不同点处在检测方向上发出的热辐射；以及校准装置(12)，包括基板(14)和多个光导(16)，每个光导(16)具有用于将光耦合到光导(16)中的第一端(18)和用于从光导(16)发出光的第二端(20)，第二端(20)被固定到基板(14)。基板(14)适于，在高温检测装置的校准状态下，以使得多个光导(16)的第二端(20)设置在检测平面(38)中并在检测方向上发射光的方式，相对于高温检测单元(10)可移除地设置。