公开(公告)号：EP1804199B1

公开(公告)日：2011-04-06

申请号：EP06126561.7

申请日：2006-12-19

Applicant: ST MICROELECTRONICS S.A.

Inventor： Malherbe, Alexandre ,  Duval, Benjamin

IPC: G06K19/073

CPC classification number: G06K19/07363 ,  G06K19/073

公开(公告)号：EP1873537B1

公开(公告)日：2011-02-16

申请号：EP07109751.3

申请日：2007-06-06

Applicant: ST MICROELECTRONICS S.A.

Inventor： Malherbe, Alexandre ,  Duval, Benjamin

IPC: G01R31/30 ,  G06F21/00 ,  G11C16/22 ,  G06K19/073 ,  G01R19/165 ,  G01R31/317

CPC classification number: G01R31/3004 ,  G01R19/16552 ,  G01R31/002 ,  G01R31/31721 ,  G06F21/75 ,  G06F21/755 ,  G06K19/07363 ,  H01L23/576 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

公开(公告)号：EP1804199A1

公开(公告)日：2007-07-04

申请号：EP06126561.7

申请日：2006-12-19

Applicant: ST MICROELECTRONICS S.A.

Inventor： Malherbe, Alexandre ,  Duval, Benjamin

IPC: G06K19/073

CPC classification number: G06K19/07363 ,  G06K19/073

Abstract: L'invention concerne un circuit de détection de pics parasites sur l'alimentation d'un circuit électronique, comportant au moins un premier transistor (MP51) dont la borne de commande est reliée à une borne (52) d'application d'un premier potentiel d'une tension d'alimentation (Vcc) du circuit et dont une première borne de conduction est reliée à une borne (52) d'application d'un deuxième potentiel (Vcc) par l'intermédiaire d'au moins un premier élément résistif (R1), la deuxième borne de conduction du premier transistor fournissant le résultat (Vd) de la détection.

Abstract translation: 电路具有晶体管（MP51），其控制端子连接到用于施加电源电压（Vcc）的正极端子（52）。 晶体管具有通过电阻元件（R1）连接到端子（52）的导电端子，并且通过电容元件（C）连接到接地端子（53）。 晶体管具有提供表示寄生虫尖峰检测的结果电压（Vd）的另一导电端子。 电阻和电容元件的值基于要检测的寄生虫尖峰的最小持续时间来选择。

公开(公告)号：EP1873537A1

公开(公告)日：2008-01-02

申请号：EP07109751.3

申请日：2007-06-06

Applicant: ST MICROELECTRONICS S.A.

Inventor： Malherbe, Alexandre ,  Duval, Benjamin

IPC: G01R31/30 ,  G06F21/00 ,  G11C16/22 ,  G06K19/073 ,  G01R19/165 ,  G01R31/317

CPC classification number: G01R31/3004 ,  G01R19/16552 ,  G01R31/002 ,  G01R31/31721 ,  G06F21/75 ,  G06F21/755 ,  G06K19/07363 ,  H01L23/576 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: L'invention concerne un procédé et un système de qualification d'un circuit intégré selon un détecteur de pics parasites d'alimentation comportant au moins des étapes : d'alimentation (81) du circuit intégré à tester sous au moins une première tension (V1); de vérification (82) d'une mise en route du circuit ; d'application (84) d'au moins un premier pic parasite (P) sur l'alimentation du circuit, en respectant un gabarit d'amplitude et de durée ; et de comparaison (86) de courants moyens consommés par le circuit avant et après le pic.

Abstract translation: 该方法包括供给集成电路用的电压进行测试，并验证所述电压足以使电路的开始行动。 寄生虫峰施加在电路的电源相对于幅度和持续时间，其中，所述峰的幅度被选择为保护电路的不同阶段的最小电源电压进行测试。 高峰期之前和之后由电路消耗的电流进行比较。 因此独立claimsoft被包括用于在集成电路的电源出线寄生虫峰值检测器的系统。