公开(公告)号：EP1592136A1

公开(公告)日：2005-11-02

申请号：EP05103149.0

申请日：2005-04-19

Applicant: ST MICROELECTRONICS S.A.

Inventor： Guilloux, Yveline ,  Palmade, Romain ,  Romain, Fabrice ,  Wuidart, Sylvie

IPC: H03M1/12

CPC classification number: H04L27/06 ,  H04L25/069

Abstract: L'invention concerne un procédé et un circuit (4) de détection d'un état binaire porté par un symbole analogique (AS), consistant à échantillonner (10) le symbole avec un signal d'échantillonnage basé sur une fréquence (CK) de période inférieure à la durée d'un symbole, sélectionner (11, 12, 14, 15, 16) un nombre d'échantillons significatifs inférieur au nombre d'échantillons qui serait obtenu avec un échantillonnage du symbole à ladite fréquence, et décider (13) de l'état du symbole à partir des échantillons sélectionnés.

Abstract translation: 该电路具有一个模拟 - 数字转换单元（10），用于利用基于具有比符号的持续时间短的周期的频率的采样信号。 多路复用器（12）选择小于通过频率采样符号获得的样本数量的多个有效样本，并且判定电路（13）基于所选择的样本来确定符号状态。 还包括用于确定由模拟符号支持的二进制状态的方法的独立权利要求。