公开(公告)号：FR3006812A1

公开(公告)日：2014-12-12

申请号：FR1355209

申请日：2013-06-06

Applicant: ST MICROELECTRONICS TOURS SAS

Inventor： BOUYSSOU EMILIEN ,  BIMBAUD IGOR

IPC: H01M10/44 ,  H01M10/42 ,  H02J7/00

Abstract: L'invention concerne un procédé de gestion de la durée de vie d'une batterie, dans lequel on provoque une décharge (41) de la batterie lorsque la température ambiante (T) excède un premier seuil (LT).

公开(公告)号：FR3062539A1

公开(公告)日：2018-08-03

申请号：FR1750773

申请日：2017-01-31

Applicant: ST MICROELECTRONICS TOURS SAS

Inventor： BIMBAUD IGOR ,  COLLEONI ERIC

IPC: H04M1/02

Abstract: L'invention concerne un étui (2) à rabat (24) pour téléphone portable, comportant, dans le rabat : au moins un logement (29) destiné à recevoir une carte (1) à microcircuit ; et au moins une première antenne (34) de communication sans contact, la première antenne étant électriquement connectée à une deuxième antenne (32) placée dans un fond (22) de l'étui.

公开(公告)号：FR3062539B1

公开(公告)日：2019-03-29

申请号：FR1750773

申请日：2017-01-31

Applicant: ST MICROELECTRONICS TOURS SAS

Inventor： BIMBAUD IGOR ,  COLLEONI ERIC

IPC: H04M1/02

Abstract: L'invention concerne un étui (2) à rabat (24) pour téléphone portable, comportant, dans le rabat : au moins un logement (29) destiné à recevoir une carte (1) à microcircuit ; et au moins une première antenne (34) de communication sans contact, la première antenne étant électriquement connectée à une deuxième antenne (32) placée dans un fond (22) de l'étui.