公开(公告)号：CN106255551A

公开(公告)日：2016-12-21

申请号：CN201480074150.5

申请日：2014-11-26

Applicant: STC.UNM ,  公司

Inventor： S.R.J.布吕克 ,  J.S.爱德华兹 ,  A.诺伊曼 ,  Y.库斯内特索瓦 ,  E.A.门多扎

IPC: B01L7/00 ,  C12M1/34 ,  C12Q1/68

CPC classification number: G01N33/48721 ,  B01L3/502707 ,  B01L3/502761 ,  B01L2200/0663 ,  B01L2200/0689 ,  B01L2200/12 ,  B01L2300/046 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/087 ,  B01L2300/0896 ,  B01L2300/16 ,  B01L2300/168 ,  B01L2400/0421 ,  C12Q1/6869 ,  C23C16/345 ,  C23C16/45525 ,  C23C16/50 ,  G01N21/65 ,  G01N2021/653 ,  G01N2201/061 ,  C12Q2563/155 ,  C12Q2565/631

Abstract: 用于长阅读、无标记、光学纳米孔长链分子测序的方法和设备。总体来说，本公开描述新颖测序技术，其基于并入纳米通道以使用宽间隔(>波长)、～1-nm孔径“曲折”纳米孔来递送单一长链分子，所述纳米孔充分地减缓易位以便使用光学技术来提供大规模并行、单一碱基解析。使用简单胶状纳米颗粒的新颖、定向自组装纳米制造方案用于在纳米通道顶上形成纳米孔阵列，从而使长链分子展开。在纳米颗粒阵列的表面，工程化等离子/极化声子结构中的强烈局部电磁场允许使用光学技术来进行单一碱基解析。

公开(公告)号：CN106255551B

公开(公告)日：2021-12-24

申请号：CN201480074150.5

申请日：2014-11-26

Applicant: STC.UNM 公司

Inventor： S.R.J.布吕克 ,  J.S.爱德华兹 ,  A.诺伊曼 ,  Y.库斯内特索瓦 ,  E.A.门多扎

IPC: B01L3/00 ,  C12M1/34 ,  C12Q1/6869 ,  G01N21/64

Abstract: 用于长阅读、无标记、光学纳米孔长链分子测序的方法和设备。总体来说，本公开描述新颖测序技术，其基于并入纳米通道以使用宽间隔(>波长)、～1‑nm孔径“曲折”纳米孔来递送单一长链分子，所述纳米孔充分地减缓易位以便使用光学技术来提供大规模并行、单一碱基解析。使用简单胶状纳米颗粒的新颖、定向自组装纳米制造方案用于在纳米通道顶上形成纳米孔阵列，从而使长链分子展开。在纳米颗粒阵列的表面，工程化等离子/极化声子结构中的强烈局部电磁场允许使用光学技术来进行单一碱基解析。

公开(公告)号：CN106941779A

公开(公告)日：2017-07-11

申请号：CN201580042874.6

申请日：2015-06-09

Applicant: STC.UNM 公司

Inventor： S.R.J.布吕克 ,  A.诺伊曼 ,  P.扎克什-哈

IPC: G01J1/06 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J1/06 ,  G01J1/44 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/18 ,  G01J3/1895 ,  G01J3/2803 ,  G01J2001/448 ,  G02B6/12004 ,  G02B6/122 ,  G02B6/124 ,  G02B2006/12061 ,  G02B2006/12107 ,  G02B2006/12138 ,  H01L27/1446 ,  H01L31/02019 ,  H01L31/02164 ,  H01L31/02327 ,  H01L31/103

Abstract: 一种2D传感器阵列包括半导体衬底和布置在半导体衬底上的多个像素。每一个像素包括耦合区和结区，以及平板波导结构，所述平板波导结构布置在半导体衬底上并且从耦合区延伸到区。平板波导包括布置在第一包覆层与第二包覆层之间的限制层。第一包覆和第二包覆每一个具有比限制层的折射率低的折射率。每一个像素还包括布置在耦合区中和平板波导内的耦合结构。耦合结构包括具有不同折射率的至少两种材料，其布置为由光栅周期限定的光栅。结区包括与电接触件连通的p‑n结以用于偏置和收集由入射辐射的吸收引起的载流子。

公开(公告)号：CN111912370B

公开(公告)日：2024-10-18

申请号：CN202010384812.6

申请日：2020-05-09

Applicant: 黑拉有限责任两合公司

Inventor： A.诺伊曼

IPC: G01B21/08 ,  G01B15/02

Abstract: 用于检查电子构件的涂层的方法。在用于检查电子构件的涂层的方法中，其中该电子构件具有至少一个电阻元件而且其中至少一个涂层的层厚度以热成像法来确定，反映发明本质地规定：使该电阻元件电触点接通；向该电阻元件施加电压；随时间地检测该电子构件在该电阻元件的区域内的温度；而且根据随时间的温度变化过程来推断该电子构件的涂层在该电阻元件的区域内的层厚度。

公开(公告)号：CN103389228B

公开(公告)日：2018-03-27

申请号：CN201310168435.2

申请日：2013-05-09

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： P.内夫 ,  M.乌利希 ,  A.诺伊曼

IPC: G01N1/22 ,  G01N15/10

CPC classification number: G01N1/2273 ,  G01N1/2214 ,  G01N1/38

Abstract: 一种用于微生物的空气分析的样品收集单元（14），所述样品收集单元具有壳体（16）和样品处理段（17）。所述壳体（16）具有样品进入口（18）、视窗（19）和空气排出口（20）。所述样品处理段（17）具有接合垫（21）、带有测试区域（23）的测试带（22）和吸收区段（25）。所述样品收集单元（14）还具有用以容纳用于溶剂的容器（27）的装置（26）和用于释放溶剂的装置（28）。所述样品收集单元（14）优选地构造为形式为盒（51）的一次性构件。将所述用于溶剂的容器（27）集成在样品收集单元（14）中实现了对相应的样品容纳方法的简化及自动化。

公开(公告)号：CN112352288A

公开(公告)日：2021-02-09

申请号：CN201980044483.6

申请日：2019-06-12

Applicant: 德尔格制造股份两合公司

Inventor： U.格尔德-卡利施 ,  A.诺伊曼

IPC: G16H40/60

Abstract: 本发明是一种用于运行A型医疗设备（10）连同B型医疗设备（12）的方法，其中医疗设备（10、12）彼此通信连接，其中A型医疗设备（10）包括适合于以不同语言显示文本的显示装置（14），其中B型医疗设备（12）没有自己的文本显示可能性，其中B型医疗设备（12）为了显示文本化或至少部分文本化的信息（20）向A型医疗设备（10）发送带有信息标识符（44）的数据电报（22），以及其中A型医疗设备（10）在接收到信息标识符（44）时从医疗设备数据库（26）加载与信息标识符（44）匹配的信息（20），以及借助于自己的显示装置（14）并且为B型医疗设备（12）显示该信息。

公开(公告)号：CN105164798B

公开(公告)日：2018-11-20

申请号：CN201480025065.X

申请日：2014-03-12

Applicant: 施韦策电子公司

Inventor： T.戈特瓦尔德 ,  A.诺伊曼

IPC: H01L21/60 ,  H01L23/538 ,  H01L25/07

Abstract: 一种电子组件(36)，具有至少一个嵌入层序列中的电子元件(14)，其中，所述电子元件(14)布置在导电中心层(16)的凹槽中，并且在两面直接邻接相应的树脂层(12,20)。

公开(公告)号：CN105164798A

公开(公告)日：2015-12-16

申请号：CN201480025065.X

申请日：2014-03-12

Applicant: 施韦策电子公司

Inventor： T.戈特瓦尔德 ,  A.诺伊曼

IPC: H01L21/60 ,  H01L23/538 ,  H01L25/07

CPC classification number: H01L25/072 ,  H01L21/4857 ,  H01L21/486 ,  H01L23/49822 ,  H01L23/49827 ,  H01L23/49844 ,  H01L23/5389 ,  H01L24/19 ,  H01L24/20 ,  H01L24/24 ,  H01L24/25 ,  H01L24/29 ,  H01L24/32 ,  H01L24/75 ,  H01L24/82 ,  H01L24/83 ,  H01L24/92 ,  H01L25/50 ,  H01L2224/04105 ,  H01L2224/221 ,  H01L2224/24137 ,  H01L2224/2518 ,  H01L2224/32013 ,  H01L2224/75252 ,  H01L2224/7625 ,  H01L2224/82001 ,  H01L2224/82007 ,  H01L2224/82039 ,  H01L2224/82105 ,  H01L2224/83048 ,  H01L2224/83192 ,  H01L2224/832 ,  H01L2224/8388 ,  H01L2224/92144 ,  H01L2924/13091 ,  H01L2924/3511 ,  H05K1/185 ,  H05K3/4608 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2224/274 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2224/2929

Abstract: 一种电子组件(36)，具有至少一个嵌入层序列中的电子元件(14)，其中，所述电子元件(14)布置在导电中心层(16)的凹槽中，并且在两面直接邻接相应的树脂层(12,20)。

公开(公告)号：CN111912370A

公开(公告)日：2020-11-10

申请号：CN202010384812.6

申请日：2020-05-09

Applicant: 黑拉有限责任两合公司

Inventor： A.诺伊曼

IPC: G01B21/08 ,  G01B15/02

Abstract: 用于检查电子构件的涂层的方法。在用于检查电子构件的涂层的方法中，其中该电子构件具有至少一个电阻元件而且其中至少一个涂层的层厚度以热成像法来确定，反映发明本质地规定：使该电阻元件电触点接通；向该电阻元件施加电压；随时间地检测该电子构件在该电阻元件的区域内的温度；而且根据随时间的温度变化过程来推断该电子构件的涂层在该电阻元件的区域内的层厚度。

公开(公告)号：CN111378061A

公开(公告)日：2020-07-07

申请号：CN202010234755.3

申请日：2013-10-03

Applicant: 巴塞尔聚烯烃意大利有限公司

Inventor： M.加尔万 ,  A.诺伊曼 ,  T.卡普托 ,  S.斯奎尔佐尼 ,  A.马祖科 ,  O.富斯科 ,  B.加迪 ,  G.科利纳

IPC: C08F210/06 ,  C08F210/16 ,  C08F4/651

Abstract: 本发明涉及用于制备丙烯无规共聚物的方法。一种用于制备至多6.0重量％的乙烯单元的丙烯无规共聚物的方法，该丙烯无规共聚物适用于制造管材，通过在催化剂体系的存在下使丙烯和乙烯共聚获得，该催化剂体系包括通过使以下组分接触而获得的产物：（a）固体催化剂组分，其包括卤化镁、具有至少一个Ti-卤键的钛化合物以及至少两种电子给体化合物，电子给体化合物的一种相对于给体的总量以40至90摩尔％的量存在并选自琥珀酸酯或盐，而另一种选自1,3-二醚，（b）烃基铝化合物，和（c）任选地外部电子给体化合物。