公开(公告)号：WO2003023725A1

公开(公告)日：2003-03-20

申请号：PCT/FR2002/003081

申请日：2002-09-10

Applicant: STMICROELECTRONICS S.A. ,  WUIDART, Luc ,  BALTHAZAR, Pierre

Inventor： WUIDART, Luc ,  BALTHAZAR, Pierre

IPC: G07F7/12

CPC classification number: G07F7/1008 ,  G06Q20/341 ,  G06Q20/4097 ,  G07F7/082 ,  H04L9/3247 ,  H04L2209/12

Abstract: L'invention concerne un procédé de fourniture d'une quantité privée (s) dans un circuit intégré participant à une procédure d'authentification au moyen d'un dispositif externe tenant compte de cette quantité privée, ladite quantité privée étant fonction d'une signature (SIGN) d'au moins une mémoire (4, 10, 11, 12) associée au circuit intégré pour vérifier l'intégrité de cette mémoire.

Abstract translation: 本发明涉及一种通过考虑所述私人数量的外部设备在涉及认证过程的集成电路中提供私人数量的方法。 为了验证所述存储元件的完整性，专用量是与集成电路相关联的至少一个存储元件（4,10,11,12）的签名（SIGN）的函数。

公开(公告)号：EP1436792A1

公开(公告)日：2004-07-14

申请号：EP02790494.5

申请日：2002-09-10

Applicant: STMicroelectronics S.A.

Inventor： WUIDART, Luc ,  BALTHAZAR, Pierre

IPC: G07F7/12

CPC classification number: G07F7/1008 ,  G06Q20/341 ,  G06Q20/4097 ,  G07F7/082 ,  H04L9/3247 ,  H04L2209/12

Abstract: The invention relates to a method of supplying a private quantity (s) in an integrated circuit involved in an authentication procedure by means of an external device that takes said private quantity into account. In order to verify the integrity of said memory element, the private quantity is a function of a signature (SIGN) of at least one memory element (4, 10, 11, 12) associated with the integrated circuit.

公开(公告)号：EP1436792B1

公开(公告)日：2007-11-21

申请号：EP02790494.5

申请日：2002-09-10

Applicant: STMicroelectronics S.A.

Inventor： WUIDART, Luc ,  BALTHAZAR, Pierre

IPC: G07F7/12

CPC classification number: G07F7/1008 ,  G06Q20/341 ,  G06Q20/4097 ,  G07F7/082 ,  H04L9/3247 ,  H04L2209/12

Abstract: The invention relates to a method of supplying a private quantity (s) in an integrated circuit involved in an authentication procedure by means of an external device that takes said private quantity into account. In order to verify the integrity of said memory element, the private quantity is a function of a signature (SIGN) of at least one memory element (4, 10, 11, 12) associated with the integrated circuit.

Abstract translation: 本发明涉及借助于考虑所述私人数量的外部装置在涉及认证过程的集成电路中提供私人数量的方法。 为了验证所述存储器元件的完整性，私有量是与集成电路相关联的至少一个存储器元件（4,10,11,12）的签名（SIGN）的函数。