公开(公告)号：EP1291817B1

公开(公告)日：2007-07-04

申请号：EP02354131.1

申请日：2002-09-03

Applicant: STMicroelectronics S.A.

Inventor： Wuidart, Sylvie ,  Wuidart, Luc ,  Bardouillet, Michel ,  Ballthazar, Pierre

IPC: G06K19/073

CPC classification number: G06K19/0716 ,  G06K19/073 ,  G06K19/07372

公开(公告)号：EP1291817A1

公开(公告)日：2003-03-12

申请号：EP02354131.1

申请日：2002-09-03

Applicant: STMicroelectronics S.A.

Inventor： Wuidart, Sylvie ,  Wuidart, Luc ,  Bardouillet, Michel ,  Ballthazar, Pierre

IPC: G06K19/073

CPC classification number: G06K19/0716 ,  G06K19/073 ,  G06K19/07372

Abstract: L'invention concerne un procédé et un circuit de détection de variations d'au moins un paramètre environnemental (V, T) d'un circuit intégré (1), qui consiste à évaluer un retard (τ) de propagation d'un front dans des éléments retardateurs (21) sensibles à des variations du paramètre environnemental, et à comparer le retard courant par rapport à au moins une valeur de référence (REF).

Abstract translation: 用于检测集成电路（1）中的环境参数（V，T）的变化的方法：（a）评估对变化参数环境敏感的延迟部件（21）的传播延迟; 将延迟电流与参考值（REF）进行比较。 将测量的延迟电流与两个预定的最小和最大电平进行比较，或者对于集成电路定义一个授权的工作范围的唯一参考值。 可编程延迟器的值被确定为当前值和参考值之间的差值的函数。 可能的变化范围是预定的。