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1.发明公开
公开(公告)号：EP1482724A1
公开(公告)日：2004-12-01
申请号：EP03291155.4
申请日：2003-05-19
Applicant: STMicroelectronics S.A. , STMicroelectronics S.r.l.
Inventor： Messina, Giuseppe , Battiato, Sebastiano , Castorina, Alfio , Plaza, Laurent
IPC: H04N1/60
CPC classification number: G06T5/007 , G06K9/00234 , G06T5/40 , H04N1/6027
Abstract: On décrit une méthode de traitement d'images numériques comprenant les phases de:
extraction d'informations chromatiques d'une image prise par un dispositif de prise d'images et concernant un sujet humain;
localisation de régions d'intérêt visuel; et
correction d'exposition de l'image prise par une normalisation d'une échelle de gris de l'image prise basée sur les régions d'intérêt visuel.
Avantageusement selon l'invention, la méthode comprend une phase de reconnaissance de zones correspondant à la peau du sujet photographié, ces zones étant utilisées comme régions d'intérêt visuel pour la phase de correction d'exposition.Abstract translation: 该方法包括提取由图像捕获装置捕获的图像的色信息和关于人受试者，和定位的视觉兴趣的区域。 图像的曝光是通过基于该区域中的灰度级的标准化校正。 对应于拍摄对象的皮肤区的认可。 该区域被用作用于曝光校正利益视觉的区域。
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2.发明授权
公开(公告)号：EP1482724B1
公开(公告)日：2007-07-11
申请号：EP03291155.4
申请日：2003-05-19
Applicant: STMicroelectronics S.A. , STMicroelectronics S.r.l.
Inventor： Messina, Giuseppe , Battiato, Sebastiano , Castorina, Alfio , Plaza, Laurent
IPC: H04N1/60
CPC classification number: G06T5/007 , G06K9/00234 , G06T5/40 , H04N1/6027
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3.发明公开Détermination d'un indice de netteté d'une image numérique 有权Bestimmung einesSchärfekennwertsfürein digitales Bild
公开(公告)号：EP1431906A1
公开(公告)日：2004-06-23
申请号：EP03300219.7
申请日：2003-11-19
Applicant: STMicroelectronics S.A.
Inventor： Tisse, Christel-Loic , Plaza, Laurent , Petitjean, Guillaume
CPC classification number: G06K9/00597
Abstract: L'invention concerne un procédé et système de détermination d'un indice caractéristique de la netteté d'une image numérique (EI), consistant (6) à cumuler la norme quadratique de gradients horizontaux et verticaux de valeurs de luminance de pixels de l'image, les pixels étant choisis au moins en fonction d'un premier seuil de luminance maximale d'autres pixels dans la direction concernée.
Abstract translation: 该方法涉及累积像素的亮度值的水平和垂直梯度的二次方程，以确定累积的总数。 根据相关方向上的最大亮度阈值与相邻像素的比较来选择像素。 通过将累积总和除以累积二次规范的数量获得得分。 还包括用于确定数字图像的定义的系统的独立权利要求
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4.发明公开Génération de quantités secrètes d'identification d'un circuit intégré 审中-公开Erzeugung von Geheimzahlen zur Kennzeichnung einer integrierten Schaltung
公开(公告)号：EP1359551A1
公开(公告)日：2003-11-05
申请号：EP02354189.9
申请日：2002-11-29
Applicant: STMicroelectronics S.A.
Inventor： Wuidart, Luc , Bardouillet, Michel , Plaza, Laurent
IPC: G07F7/10
CPC classification number: G07F7/1008 , G06Q20/341 , G07F7/082 , H01L23/576 , H01L2223/5444 , H01L2924/0002 , H04L9/0866 , H01L2924/00
Abstract: L'invention concerne un procédé et un circuit de génération d'une quantité secrète (KEY) à partir d'un identifiant d'un circuit intégré (2), dans lesquels on génère un premier mot numérique à partir d'un réseau de paramètres physiques sensibles aux dispersions technologiques et de procédé de fabrication du circuit intégré dont ils constituent une signature (3), et on soumet ce premier mot à au moins un registre à décalage à rétroaction linéaire (6), la sortie dudit registre à décalage constituant ladite quantité secrète.
Abstract translation: 从与集成电路芯片制造相关的物理参数网络（PPN）中提取特定于集成电路芯片的数字标识符。 提取的标识符被提交到几个线性追溯移位寄存器（20'），以便输出相应的密钥或加密密钥。 还包括用于生成秘密或加密密钥的电路的独立权利要求。
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公开(公告)号：EP1431906B1
公开(公告)日：2007-02-14
申请号：EP03300219.7
申请日：2003-11-19
Applicant: STMicroelectronics S.A.
Inventor： Tisse, Christel-Loic , Plaza, Laurent , Petitjean, Guillaume
CPC classification number: G06K9/00597
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Patent Agency Ranking6.发明公开Régéneration d'une quantité secrète à partir d'un identifiant d'un circuit intégré 审中-公开恢复使用集成电路的代码的代码数
公开(公告)号：EP1359550A1
公开(公告)日：2003-11-05
申请号：EP02354155.0
申请日：2002-10-07
Applicant: STMicroelectronics S.A.
Inventor： Wuidart, Luc , Bardouillet, Michel , Plaza, Laurent
IPC: G07F7/10
CPC classification number: G07F7/1008 , G06Q20/341 , G07F7/082 , H01L23/544 , H01L23/57 , H01L2223/54473 , H01L2924/0002 , H04L9/0866 , H01L2924/00
Abstract: L'invention concerne un procédé et circuit de génération d'une quantité secrète (KEY) à partir d'un identifiant d'un circuit intégré (2), consistant à combiner (13) un premier mot numérique (12) issu d'un réseau de paramètres physiques sensible aux dispersions technologiques et de procédé de fabrication du circuit intégré dont ils constituent une signature (10) avec un deuxième mot stocké dans un élément (14) de mémoire non volatile.
Abstract translation: 私有日期上请求生成并是短暂的，在现有的存储器（21），用于邮资时间。 日期寿命是可变的，并且与连续世代缩短。 私有日期获得至少部分地从物理参数的一个网络，通过部分地从存储器提供一个字，并部分地由电路的噪声。
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7.发明授权Evaluation de la netteté d'une image d'iris d'oeil 有权Auswertung derSchärfeeines Bildes der Iris eines Auges
公开(公告)号：EP1431907B1
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：EP03300220.5
申请日：2003-11-19
Applicant: STMicroelectronics S.A.
Inventor： Tisse, Christel-Loic , Plaza, Laurent , Petitjean, Guillaume
CPC classification number: G06K9/00597 , G06T7/70 , G06T2207/20132 , G06T2207/30201
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公开(公告)号：EP1431907A1
公开(公告)日：2004-06-23
申请号：EP03300220.5
申请日：2003-11-19
Applicant: STMicroelectronics S.A.
Inventor： Tisse, Christel-Loic , Plaza, Laurent , Petitjean, Guillaume
CPC classification number: G06K9/00597 , G06T7/70 , G06T2207/20132 , G06T2207/30201
Abstract: L'invention concerne un procédé et système d'évaluation de netteté d'une image (I) d'iris d'oeil ou analogue, consistant à localiser (5) approximativement la pupille dans l'image, définir (56) à partir de la position approximative de la pupille une fenêtre d'examen centrée sur cette position, et appliquer (6) un opérateur de cumul de gradients aux valeurs de luminance des pixels de la fenêtre d'examen, le cumul étant proportionnel à l'indice de netteté de l'image.
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9.发明公开Diversification d'un identifiant unique d'un circuit intégré 审中-公开Diversifikation der Kennzahl einer integrierten Schaltung
公开(公告)号：EP1391853A1
公开(公告)日：2004-02-25
申请号：EP02354156.8
申请日：2002-10-07
Applicant: STMicroelectronics S.A.
Inventor： Wuidart, Luc , Bardouillet, Michel , Plaza, Laurent
IPC: G07F7/10
CPC classification number: G07F7/1008 , G06Q20/341 , G06Q20/40975 , H01L23/544 , H01L23/57 , H01L2223/54473 , H01L2924/0002 , H04L9/0866 , H04L9/3278 , H01L2924/00
Abstract: L'invention concerne un procédé et un circuit de génération de plusieurs quantités secrètes (KEYi) par un circuit intégré en fonction de la destination de ces quantités secrètes, caractérisé en ce qu'il consiste à prendre en compte un premier mot numérique constituant identifiant unique de la puce de circuit intégré et provenant d'un réseau de paramètres physiques (2) et à individualiser cet identifiant en fonction de l'application.
Abstract translation: 专用数据是根据请求生成的，是短暂的，存在于存储器（21）中一段时间。 基准寿命是可变的，并且连续几代缩短。 私人数据至少部分地由物理参数的网络获得，部分由从存储器提供的字部分地获得，并且部分地由电路噪声获得。
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10.发明公开
公开(公告)号：EP1306796A1
公开(公告)日：2003-05-02
申请号：EP02354166.7
申请日：2002-10-21
Applicant: STMicroelectronics S.A.
Inventor： Plaza, Laurent
CPC classification number: G06K9/4647 , G06K9/00228 , G06K9/6203 , G06K9/6212
Abstract: L'invention concerne un procédé et un système de détection d'un motif dans une image numérique par comparaison successive du contenu de fenêtres courantes (31) de l'image par rapport au contenu d'au moins une fenêtre de référence représentative du motif, la fenêtre de référence contenant des valeurs de variance ou d'écart type de sous-blocs de pixels du motif et les fenêtres courantes contenant des valeurs de variance ou d'écart type de sous-blocs de pixels de l'image, les sous-blocs étant de même taille dans les fenêtres courante et de référence.
Abstract translation: 通过对图像的当前窗口（31）的内容相对于代表图案的参考窗口的内容的连续比较来检测数字图像内的图案的方法。 参考窗口包含主题像素子块中的方差值，而当前窗口包含图像像素子块中的方差值，子块在当前和参考窗口中具有相同的大小。 本发明还涉及相应的系统。
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