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公开(公告)号：WO2006074725A1
公开(公告)日：2006-07-20
申请号：PCT/EP2005/011799
申请日：2005-11-04
Inventor： JOSSTEN, Heinz-Gerd
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Spektralanalyse von Metallproben mit folgenden Schritten: a. Aufnehmen eines Spektrums eines unbekannten Probe mit einer Anzahl von voreingestellten Anregungsparametern, b. Vergleichen des Spektrums mit gespeicherten Spektren einer Anzahl von Leitproben, c. Ermitteln der Leitprobe mit der besten Übereinstimmung der Spektren, d. Einstellen der Anregungsparameter, die zu der im Schritt c. ermittelten besten nächstkommenden Leitprobe gespeichert sind, e. Aufnehmen des Spektrums der unbekannten Probe mit den im Schritt d. eingestellten Anregungsparametern, f. Berechnen der Intensitätsverhältnisse von zu der Leitprobe gespeicherten Analyselinien und internen Standards des in Schritt e. aufgenommenen Spektrums.
Abstract translation: 本发明涉及一种用于通过以下步骤金属样品的谱分析的方法：一。 接收的未知样品的光谱与多个预置的激励参数，B。 频谱与多个对照样品，C的存储的光谱进行比较。 确定对照样品光谱的最佳匹配，D。 调整所述激励参数，在步骤c。 确定的最佳接近的对照样品存储，例如 记录与所述步骤d未知样品的光谱。 设置激励参数，F。 计算存储对于控制样品分析线和在步骤e内标的强度比。 记录的光谱。
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公开(公告)号：EP1839038A1
公开(公告)日：2007-10-03
申请号：EP05803479.4
申请日：2005-11-04
Applicant: Spectro Analytical Instruments
Inventor： JOSSTEN, Heinz-Gerd
Abstract: The invention relates to a method for the spectral analysis of metallic samples, said method comprising the following steps: (a) a spectrum of an unknown sample with a number of preset excitation parameters is recorded; (b) the spectrum is compared with the stored spectra of a number of control samples; (c) the control samples are determined by the best concordance of the spectra; (d) the excitation parameters stored for the best successive control samples determined in step (c) are set; (e) the spectrum of the unknown sample with the excitation parameters set in step (d) is recorded; and (f) the intensity ratios of analysis lines stored for the control sample and internal standards of the spectrum recorded in step (e) are calculated.
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