Atmosphärendruck-Ionenquellen-Schnittstelle

    公开(公告)号:DE102020129071B4

    公开(公告)日:2025-02-27

    申请号:DE102020129071

    申请日:2020-11-04

    Abstract: Schnittstelle (20) zum Empfangen von Ionen in einem Trägergas von einer Atmosphärendruck-Ionenquelle an einem Spektrometer, das konfiguriert ist, um die empfangenen Ionen bei einem niedrigeren Druck zu analysieren, wobei die Schnittstelle (20) umfasst:eine Schnittstellenvakuumkammer (22), die eine nachgeschaltete Öffnung (80) aufweist;eine Trägeranordnung (45), die eine Axialbohrung (30) definiert, die so angeordnet ist, dass sich ein entfernbares Kapillarröhrchen durch dieses erstreckt, wobei Ionen von der Atmosphärendruck-Ionenquelle durch das Kapillarröhrchen empfangen und in Richtung der nachgeschalteten Öffnung (80) gelenkt werden; undeinen Strahlstörer (40), der nachgeschaltet von der Axialbohrung (30) positioniert und so konfiguriert ist, dass er den Gasfluss zwischen der Axialbohrung (30) und der nachgeschalteten Öffnung (80) nur dann unterbricht, wenn das Kapillarröhrchen nicht vollständig durch die Axialbohrung (30) eingeführt ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Schnittstelle (20) ferner ein Dichtungsventil umfasst, das sich entlang der Axialbohrung (30) befindet und so konfiguriert ist, dass es die Axialbohrung (30) abdichtet, wenn das Kapillarröhrchen entfernt wird.

    Multireflexions-Massenspektrometer

    公开(公告)号:DE102019129108B4

    公开(公告)日:2025-02-06

    申请号:DE102019129108

    申请日:2019-10-29

    Abstract: Multireflexions-Massenspektrometer (2), umfassend:zwei Ionenspiegel (6, 8, 906, 908), die voneinander beabstandet sind und einander in einer Richtung X gegenüberstehen, wobei jeder Spiegel im Allgemeinen entlang einer Driftrichtung Y langgestreckt ist, wobei die Driftrichtung Y orthogonal zur Richtung X ist,einen gepulsten Ioneninjektor (4, 40, 104, 204, 904) zum Injizieren von Ionenpulsen in den Raum zwischen den Ionenspiegeln (6, 8, 906, 908), wobei die Ionen in einem von Null verschiedenen Neigungswinkel zur Richtung X in den Raum eintreten,wobei die Ionen dadurch einen Ionenstrahl (5) bilden, der einem Zickzack-Ionenweg mit N Reflexionen zwischen den Ionenspiegeln (6, 8) in Richtung X folgt, während er entlang der Driftrichtung Y driftet,einen Detektor (14, 74, 114, 210, 974) zum Detektieren von Ionen nach Abschluss derselben Anzahl N von Reflexionen zwischen den Ionenspiegeln, undeine lonenfokussierungsanordnung, die zumindest teilweise zwischen den gegenüberliegenden Ionenspiegeln angeordnet und dazu konfiguriert ist, die Fokussierung des Ionenstrahls in der Driftrichtung Y bereitzustellen, so dass eine räumliche Verteilung des Ionenstrahls in der Driftrichtung Y durch ein einziges Minimum bei oder unmittelbar nach einer Reflexion mit einer Anzahl zwischen 0,25N und 0,75N verläuft, wobei alle detektierten Ionen nach Abschluss derselben Anzahl N von Reflexionen zwischen den Ionenspiegeln detektiert werden, wobei die lonenfokussierungsanordnung eine Driftfokussierlinse (12, 72, 92, 106, 972) zum Fokussieren der Ionen in der Driftrichtung Y umfasst, und wobei die Driftfokussierlinse eine konvergierende Linse ist.

    Verbesserungen in Bezug auf Flugzeit-Massenanalysatoren

    公开(公告)号:DE102022115452A1

    公开(公告)日:2022-12-29

    申请号:DE102022115452

    申请日:2022-06-21

    Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft eine Anordnung, umfassend eine Vakuumkammer und ein Flugzeitmassenspektrometer, wobei das Flugzeitmassenspektrometer in der Vakuumkammer enthalten ist. Das Flugzeitmassenspektrometer umfasst eine erste Elektrode und eine zweite Elektrode, wobei die zweite Elektrode von der ersten Elektrode mit einer Distanz beabstandet ist, die einen Abschnitt eines lonenflugwegs dazwischen definiert. Die Anordnung umfasst ferner einen ersten Träger zum Tragen der ersten Elektrode, wobei der erste Träger zwischen einer Innenseite der Vakuumkammer und der ersten Elektrode angeordnet ist. Der erste Träger ist dazu konfiguriert, eine Relativbewegung zwischen mindestens einem Abschnitt der Innenseite der Vakuumkammer und der ersten Elektrode zu ermöglichen. Die Innenseite der Vakuumkammer und die erste Elektrode sind thermisch gekoppelt. Die vorliegende Erfindung betrifft auch einen Mehrfachreflexionsflugzeitmassenanalysator. Die vorliegende Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zum Ausgasen, um Verunreinigungen von Oberflächen innerhalb einer Vakuumkammer durch Erwärmen und anschließendes Kühlen der Oberflächen zu entfernen.

    Ionenführung
    4.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102019003439A1

    公开(公告)日:2019-11-21

    申请号:DE102019003439

    申请日:2019-05-15

    Abstract: Eine Ionenführung kann einen Satz Plattenelektroden umfassen, wobei jede Plattenelektrode eine Vielzahl von Öffnungen aufweist, die durch diese hindurch ausgebildet sind. Der Satz Plattenelektroden ist räumlich derart angeordnet, dass eine relative Positionierung jeder Vielzahl von Öffnungen einer jeweiligen Plattenelektrode des Satzes Plattenelektroden und von jeweiligen benachbarten Plattenelektroden des Satzes Plattenelektroden eine kontinuierliche Ionenflugbahn durch die jeweilige Vielzahl von Öffnungen jeder Plattenelektrode des Satzes Plattenelektroden definiert. Die kontinuierliche Ionenflugbahn weist eine auf einer Helix und/oder Spirale beruhende Form auf.

    Einrichtung zur Ionentrennung
    5.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102024123769A1

    公开(公告)日:2025-02-27

    申请号:DE102024123769

    申请日:2024-08-20

    Inventor: STEWART HAMISH

    Abstract: Ionen werden entsprechend ihrem Masse-zu-Ladung-Verhältnis getrennt. Eine Trennungsregion empfängt die Ionen und erstreckt sich in eine erste Richtung und eine zweite Richtung, die sich von der ersten Richtung unterscheidet. Eine Elektrodenanordnung schließt die Ionen in der Trennungsregion ein. Die Elektrodenanordnung ist dazu konfiguriert, in der Trennungsregion ein zeitabhängiges Potenzial anzulegen, um eine Bewegung der Ionen in die erste Richtung zu bewirken, und ist dazu konfiguriert, in der Trennungsregion einen Potenzialgradienten anzulegen, wobei der Potenzialgradient dem zeitabhängigen Potenzial entgegengesetzt ist, so dass die Ionen entsprechend ihrem Masse-zu-Ladung-Verhältnis in unterschiedlichen Positionen in der ersten Richtung getrennt werden. Auf die Ionen wird eine Kraft in der zweiten Richtung ausgeübt, um eine Bewegung der Ionen in die zweite Richtung zu bewirken.

    Verfahren der Massenspektronomie, ein Massenspektrometer und Computersoftware

    公开(公告)号:DE102024114097A1

    公开(公告)日:2024-11-28

    申请号:DE102024114097

    申请日:2024-05-21

    Abstract: Es wird ein Verfahren der Massenspektrometrie bereitgestellt. Das Verfahren umfasst das Durchführen der folgenden Schritte für jeden einer Vielzahl von Unterbereichen, die aus einem gesamten m/z-Bereich ausgewählt sind:Sammeln einer Probe von zu analysierenden Vorläufer-Ionen in einem Ionenspeicher, wobei die Vorläufer-Ionen m/z-Werte innerhalb des Unterbereichs aufweisen;Sammeln einer Probe von zu analysierenden fragmentierten Vorläufer-Ionen in dem Ionenspeicher, wobei die fragmentierten Vorläufer-Ionen aus der Fragmentierung von Vorläufer-Ionen mit m/z-Werten innerhalb des Unterbereichs gebildet werden; undgleichzeitiges Analysieren der kombinierten Proben der Vorläufer-Ionen und der fragmentierten Vorläufer-Ionen in einem Massenanalysator.

    Flugzeitmassenanalysesystem
    7.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102024106974A1

    公开(公告)日:2024-10-17

    申请号:DE102024106974

    申请日:2024-03-12

    Abstract: Es wird ein Verfahren zum Kalibrieren eines Flugzeit- (TOF) -Massenanalysators bereitgestellt. Das Verfahren umfasst das Durchführen einer Vielzahl von Kalibrierungsanalysen von Kalibrierionen unter Verwendung des TOF-Massenanalysators. Jede Kalibrierungsanalyse umfasst das Messen der Flugzeiten der Kalibrierionen unter Verwendung des TOF-Massenanalysators, wobei der TOF-Massenanalysator einen zugeordneten Instrumentenparameter aufweist, der sich auf die Flugzeiten der Kalibrierionen auswirkt. Jede Kalibrierungsanalyse umfasst auch das Bestimmen einer Referenzkalibrierkurve für den TOF-Massenanalysator basierend auf den bekannten Masse-zu-Ladung-Verhältnissen der Kalibrierionen und den jeweiligen Flugzeiten, wobei die Referenzkalibrierkurve dem Instrumentenparameter des TOF-Massenanalysators für die jeweilige Kalibrierungsanalyse zugeordnet ist. Für jede der Vielzahl von Kalibrierungsanalysen ist ein Wert des Instrumentenparameters des TOF-Massenanalysators unterschiedlich. Das Verfahren umfasst auch das Bestimmen einer Kalibrierkurve zur Verwendung in einer TOF-Massenanalyse, die durch den TOF-Massenanalysator durchgeführt wird, wobei die Kalibrierkurve basierend auf der Vielzahl von Referenzkalibrierkurven und dem Instrumentenparameter des in der TOF-Massenanalyse zu verwendenden TOF-Massenanalysators bestimmt wird.

    Hybrid-Massenspektrometer und Datenerfassungsverfahren

    公开(公告)号:DE102024103780A1

    公开(公告)日:2024-08-22

    申请号:DE102024103780

    申请日:2024-02-12

    Abstract: Es wird ein Verfahren zum Betreiben eines Doppelanalysatormassenspektrometers beschrieben, um MS1-/MS2-Scans positiver und negativer Ionen von einer Probe zu erhalten. Das Verfahren umfasst: Betreiben einer Ionenquelle und einer Verarbeitungsregion mit einer ersten Polarität; Durchführen, durch einen ersten Massenanalysator mit der ersten Polarität, von MS1- oder MS2-Scan(s); Umschalten der Polarität des ersten Massenanalysators auf eine zweite Polarität; Durchführen, durch einen zweiten Massenanalysator mit der ersten Polarität, von MS1- oder MS2-Scan(s), wobei mindestens ein Teil der durch den zweiten Massenanalysator durchgeführten MS 1- oder MS2-Scan(s) während einer Totzeit durchgeführt wird, in der die Polarität des ersten Massenanalysators umschaltet wird. Alternativ kann das Verfahren umfassen: Betreiben eines ersten Massenanalysators mit einer ersten Polarität und Betreiben eines zweiten Massenanalysators mit einer zweiten Polarität, die der ersten Polarität entgegengesetzt ist, und nach dem Einleiten mindestens eines MS 1-Scans und/oder MS2-Scans durch den ersten Massenanalysator, Umschalten der Polarität der Quelle und der Ionenverarbeitungsregion auf eine zweite Polarität, die der ersten Polarität entgegengesetzt ist; und Durchführen mindestens eines MS1-Scans und/oder MS2-Scans der Ionen durch den zweiten Massenanalysator mit der zweiten Polarität.

    Atmosphärendruck-Ionenquellen-Schnittstelle

    公开(公告)号:DE102020129071A1

    公开(公告)日:2021-05-12

    申请号:DE102020129071

    申请日:2020-11-04

    Abstract: Eine Schnittstelle ist vorgesehen, um Ionen in einem Trägergas von einer Atmosphärendruck-Ionenquelle an einem Spektrometer zu empfangen. Das Spektrometer ist konfiguriert, um die empfangenen Ionen bei einem niedrigeren Druck zu analysieren. Die Schnittstelle umfasst: eine Schnittstellenvakuumkammer, die eine nachgeschaltete Öffnung aufweist; eine Trägeranordnung, die eine Axialbohrung definiert, die so angeordnet ist, dass sich ein entfernbares Kapillarröhrchen durch diese erstreckt, wobei Ionen von der Atmosphärendruck-Ionenquelle durch das Kapillarröhrchen empfangen und in Richtung der nachgeschalteten Öffnung gelenkt werden; und einen Strahlstörer, der nachgeschaltet von der Axialbohrung positioniert und konfiguriert ist, um den Gasfluss zwischen der Axialbohrung und der nachgeschalteten Öffnung nur dann zu unterbrechen, wenn das Kapillarröhrchen nicht vollständig durch die Axialbohrung eingeführt ist.

    Korrektur der Neigung der Ionenfront in einem Flugzeit (TOF)-Massenspektrometer

    公开(公告)号:DE102019113776A1

    公开(公告)日:2019-11-28

    申请号:DE102019113776

    申请日:2019-05-23

    Abstract: Eine Einrichtung zur Korrektur der Neigung der Flugzeit (TOF)-Ionenstrahlfront 40 für ein TOF-Massenspektrometer 1 korrigiert die Ebene der Strahlfront, so dass sie senkrecht zu einem lonenstoßdetektor 35 des TOF-Massenspektrometers 1 bleibt. Die Einrichtung zur Korrektur der Neigung 40 umfasst eine oder mehrere Elektroden 100, 110, 120, 130, die einen Kanal mit im Wesentlichen gleichem Potential definieren, welcher sich entlang einer Längsrichtung Z erstreckt. Der Kanal erstreckt sich auch quer zu der Z-Achse und weist eine erste relativ längere X-Querachse und eine zweite relativ kürzere Y-Querachse auf. Das Verhältnis der Länge der längeren zu der kürzeren Querachse ist mindestens 2. Die Länge des Kanals in der Z-Richtung variiert entsprechend der Querposition in der X-Richtung.

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