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公开(公告)号:DE102016003334A1
公开(公告)日:2017-09-14
申请号:DE102016003334
申请日:2016-03-14
Inventor: KÖRNER KLAUS , THIELE SIMON , HERKOMMER ALOIS
Abstract: Es handelt sich um eine Anordnung zur Raman-Spektroskopie mit einem Anregungs-Lichtquellen-System, welches Raman-Anregungslicht gleichzeitig oder seriell mit unterschiedlichen diskreten Wellenlängen einschaltet oder in der Wellenlänge durchgestimmt. Somit kommt Licht mit verschiedenen Wellenlängen bei der Raman-Anregung zur Anwendung. Die Fokussier-Optik der Anordnung ist für diese Anregungswellenlängen mit chromatischen Mitteln ausgebildet oder diese sind derselben zugeordnet, so dass sich einerseits ein Anregungsfokus beim Wellenlängen-Durchstimmen vorbestimmt in der Tiefe des Objektraums verschiebt. Andererseits entstehen beim gleichzeitigen oder seriellen Einschalten von Raman-Anregungslicht verschiedener Wellenlängen mehrere separierte Anregungs-Foki in der Tiefe des Objektraums. Beim Objektraum kann es sich auch um das Innere einer Aorta oder einer Schlagader handeln. Das im Objektraum in unterschiedlichen Tiefen Raman-gestreute Licht wird im Rücklauf separiert und der spektroskopischen Detektion zugeführt.
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公开(公告)号:DE102012023248A1
公开(公告)日:2014-04-30
申请号:DE102012023248
申请日:2012-11-20
Applicant: UNIVERSITÄT STUTTGART
Inventor: KÖRNER KLAUS , HERKOMMER ALOIS , OSTEN WOLFGANG
Abstract: Es handelt sich hierbei um ein Verfahren und eine Anordnung zur Fourier-Transformations-Spektroskopie, insbesondere auch zur bildgebenden Strahlungsquellen- und Stoff-Analyse aller Aggregatzustände sowie zur bildgebenden In-vivo-Gewebe-Diagnostik, einschließlich von Tumorgewebe. Die Anordnung ist insbesondere auch als mobiler Scout-Sensor oder als eine hochparallelisierte fest installierte Analyse-Station im jeweils dafür geeigneten Spektralbereich ausgebildet. Erfindungsgemäß wird mittels einer spektral breitbandigen Quelle elektromagnetischer Strahlung eine Bestrahlung mindestens eines länglichen Bereiches in den beiden Aperturflächen (A1, A2) des genutzten Zweistrahl-Interferometers mit Längsrichtung des bestrahlten länglichen Bereiches senkrecht zur Schnittebene V-M durchgeführt. Dabei sind die Endreflektoren in Hybrid-Form mit partiellen Retro-Reflexionseigenschaften ausgebildet. Es ergibt sich ein Vorteil für die Robustheit des Zweistrahl-Interferometers auch unter widrigen Bedingungen, da unerwünschter Tilt und unerwünschte Shear von Wellenfronten eingeschränkt und/oder auch zur numerischen Kompensation erfasst werden. Somit können zuverlässige Interferogramm-Daten zur Spektrenberechnung bereitgestellt werden.
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