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公开(公告)号:WO2021250179A1
公开(公告)日:2021-12-16
申请号:PCT/EP2021/065651
申请日:2021-06-10
Applicant: INSTRUMENT SYSTEMS OPTISCHE MESSTECHNIK GMBH
Inventor: LOBITZ, Matthias , NEUMEIER, Jürgen
IPC: G01J1/02 , G01J1/04 , G01M11/02 , G01J1/0242 , G01J1/0403 , G01J1/0437
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Messsystem und Verfahren zur Vermessung der radio- und photometrischen Eigenschaften einer flächigen Lichtquelle, mit einem Goniometer, einem mittels des Goniometers entlang einer oder mehrerer Raumkurve positionier- und ausrichtbaren Messmikroskop (1) und einer Lichtquellentragvorrichtung (17, 17a), sowie ein Verfahren zur Vermessung einer flächigen Lichtquelle. Es ist Ziel der Erfindung, das Messsystem und das Verfahren dahingehend weiterzubilden, dass die tatsächliche Abbildung des von der zu vermessenden Lichtquelle ausgesandten Signals auf der Netzhaut des menschlichen Auges (5) möglichst gut simuliert wird. Zur Lösung schlägt die Erfindung vor, dass zwischen dem Messmikroskop (1) und der Lichtquellentragvorrichtung (17, 17a) eine Pupillenblende (8) relativ zur Lichtquellentragvorrichtung (17,17a) ortsfest positionierbar ist, und das Messmikroskop (1) entlang der jeweiligen Raumkurve derart ausgerichtet ist, dass die optische Achse des Messmikroskops (1) durch das Zentrum der Pupillenblende (8) verläuft. Die Position und Ausrichtung der Pupillenblende (8) ist während eines Messvorgangs konstant.
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公开(公告)号:WO2023025693A2
公开(公告)日:2023-03-02
申请号:PCT/EP2022/073243
申请日:2022-08-19
Applicant: JT INTERNATIONAL SA
Inventor: DEBERGH, Patrick
IPC: A24F40/50 , G02B3/14 , G02B26/00 , G01J1/04 , A24D1/02 , A24D1/20 , A24F40/20 , A24F40/51 , G01J1/0411 , G01J1/0437 , G01J1/0448 , G02B26/005
Abstract: A smoking device (2) comprises an optical sensing system (5) for reading indicia (10) on a consumable article (1). Means are provided for adapting a characteristic of the optical sensing system (5) in response to a distance of the indicia (10) from the optical sensing system (5). The adapting means may change the focal length of an optical element (120) by applying a potential difference to change a refractive index of the optical element (120) or to change the curvature of an optical surface (130). The optical surface (130) may be an interface between two immiscible liquids (122,124) that have different electrical properties. The adapting means may alternatively move an element of the optical sensing system (5) in response to the distance of the indicia (10), for example by changing a shape of a support of an optical element (120). The optical element may comprise a pinhole (20) and the adapting means may change the size of its aperture.
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公开(公告)号:WO2021216162A2
公开(公告)日:2021-10-28
申请号:PCT/US2021/015798
申请日:2021-01-29
Applicant: APPLIED MATERIALS, INC.
Inventor: YANG, Zihao , ZHU, Mingwei , PATIBANDLA, Nag B. , YAHAV, Nir , VISSER, Robert Jan , DE LA ZERDA, Adi
IPC: G01J1/44 , G01J1/02 , H01B12/06 , G01J1/0407 , G01J1/0437 , G01J1/42 , G01J2001/0496 , G01J2001/442 , H01L39/10 , H01L39/12 , H01L39/2416 , H01L39/248
Abstract: A superconducting nanowire single photon detector (SNSPD) device includes a substrate, a distributed Bragg reflector on the substrate, a seed layer of a metal nitride on the distributed Bragg reflector, and a superconductive wire on the seed layer. The distributed Bragg reflector includes a plurality of bi-layers, each bilayer including lower layer of a first material and an upper layer of a second material having a higher index of refraction than the first material. The wire is a metal nitride different from the metal nitride of the seed material.
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公开(公告)号:WO2020253898A8
公开(公告)日:2020-12-24
申请号:PCT/DE2020/000134
申请日:2020-06-16
Inventor: KRAMER, Reinhard , MÄRTEN, Otto , WOLF, Stefan , ROßNAGEL, Johannes , NIEDRIG, Roman
IPC: B23K26/044 , B23K26/046 , G02B7/00 , G02B7/28 , G01J1/42 , G01J1/0411 , G01J1/0437 , G01J1/4228 , G01J1/4257 , G02B7/34
Abstract: Die Erfindung betrifft eine Strahlanalysevorrichtung zur Bestimmung eines Lichtstrahl-Zustandes, insbesondere zur Bestimmung der Fokuslage eines Lichtstrahls. Die Strahlanalysevorrichtung umfasst eine Teilstrahl-Abbildungsvorrichtung (10) mit wenigstens einer ersten Selektionsvorrichtung (11) zur Bildung eines ersten Teilstrahls (41) aus einem ersten Teil-Aperturbereich des ersten Messstrahls (40), und eine Abbildungseinrichtung (16) zur Abbildung des ersten Teilstrahls (41) zur Erzeugung eines ersten Strahlflecks (45) auf eine Detektoreinheit (20) mit einem ortsauflösenden Detektor (21). Ferner umfasst die Strahlanalysevorrichtung eine Auswertungseinheit (25) zur Verarbeitung der Signale der Detektoreinheit (20), zur Bestimmung einer lateralen Position (a1) des ersten Strahlflecks (45), und zur Bestimmung von zeitlichen Änderungen der lateralen Position (a1, a1') des ersten Strahlflecks (45, 45'). Die Erfindung betrifft auch ein Optisches System zur Fokuslagen-Kontrolle mit einer Laseroptik (60) und mit einer Strahlanalysevorrichtung. Die Erfindung betrifft auch ein entsprechendes Strahlanalyseverfahren sowie Verfahren zur Fokuslagen-Kontrolle einer Laseroptik und zur Fokuslagen-Nachführung einer Laseroptik.
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