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公开(公告)号:CN119728181A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411781452.8
申请日:2024-12-05
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: H04L9/40 , H04L43/20 , H04L49/351
Abstract: 一种时间触发以太网交换器安全性测试系统,针对时间触发以太网交换器的RTL设计进行测试,以RTL设计代码作为平台输入,基于综合工具把将电路设计转换为网表,并利用相应的模型库将网表进一步转换为具有安全属性标签的模型;同时,根据时间触发以太网交换器的安全性需求,确定待检测的安全属性,并利用形式化语言将其映射至模型中。对模型进行处理后,由检测工具进行验证,若发现失败结果,表明可能存在缺陷漏洞。本发明用于时间触发以太网交换器设计阶段安全性评测,检测时间触发以太网交换器中是否存在安全性漏洞、恶意模块,验证时间触发以太网交换器中用到的第三方IP是否存在硬件木马等问题,以及自定义模块中语法是否规范,是否存在安全漏洞。
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公开(公告)号:CN119668955A
公开(公告)日:2025-03-21
申请号:CN202411642066.0
申请日:2024-11-18
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/22 , G06F11/273
Abstract: 本发明设计了一种宇航用微处理器内核性能测评的装置,采用本发明的装置可用于宇航高可靠领域用微处理器的性能指标测评,作为所选用微处理器在宇航应用场景下的动态功耗特性、内核性能、操作系统适配性等关键性能的测评平台,配合基准软件和典型用例评价全工作温度范围内微处理器的性能指标。
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公开(公告)号:CN119438858A
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202411477916.6
申请日:2024-10-22
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28 , G01R31/317 , G01R31/3177 , G01R31/3185
Abstract: 一种进位链测试电路及测试方法,测试电路包括N个结构相同的测试单元,每个测试单元由可重配组合逻辑、进位链、输出选择电路与流水线四部分组成。测试方法通过预设配置覆盖进位链各个节点固定故障与元件功能的测试流程,通过通用的模块化测试电路设计,当需要进行大量进位链单元的测试时,只需将测试电路进行逻辑复制后再组合成测试链路即可。
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公开(公告)号:CN118112349A
公开(公告)日:2024-05-31
申请号:CN202410215520.8
申请日:2024-02-27
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 一种在轨微处理器智能故障诊断装置及方法。所述在轨智能故障诊断装置,包括运算放大器,采集被测微处理器的多路电源电流信息;模拟开关,周期性切换运算放大器采集的多路电源电流信息;差分运放,对运算放大器采集到的多路电源电流信息进行信号调理;ADC模块,将差分运放调理后的多路电源电流模拟量转化成数字信号,得到数字形式的电流功耗信息;滤波模块,对得到的数字形式的电流功耗信息进行过滤和降噪;神经网络诊断模块,构建故障诊断模型,从过滤和降噪后的电流信息中提取特征信息,利用神经网络与故障诊断模型进行对比,做出故障诊断。本发明能够覆盖微处理器在轨故障诊断,通用性高。
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公开(公告)号:CN119719003A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411812265.1
申请日:2024-12-10
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F15/16 , G06F15/163 , G06F13/42 , G06F11/07
Abstract: 本发明一种星上高可靠人工智能微系统电子装置,包括:处理系统、存储系统、信号接口和高可靠加固系统;处理系统,通过信号接口接收外部数据,计算和处理星上对地观测数据信息,并将计算和处理结果存入存储系统中;存储系统,用于存储处理系统的数据;信号接口,用于接收外部数据,并将数据传输给处理系统;高可靠加固系统,用于对处理系统、存储系统、信号接口进行容错与故障防护。
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公开(公告)号:CN119718864A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411831584.7
申请日:2024-12-12
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/34 , G06N3/0464 , G06N3/045 , G06N3/08 , G06N5/04
Abstract: 本发明一种面向宇航通信领域的宇航用AI芯片性能测评方法,包括:设计并训练神经网络CABNet;所述神经网络CABNet包含三个模块,均使用组合操作,第一个模块包括卷积、批归一化;第二个模块包括两个残差通道模块;第三个模块包括卷积、整流线性单元;通过神经网络CABNet对AI芯片进行测评,得到AI芯片性能测评指标。本发明解决了宇航用AI芯片典型通信场景下性能指标测评方法欠缺的问题。
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公开(公告)号:CN117852588A
公开(公告)日:2024-04-09
申请号:CN202311783926.8
申请日:2023-12-22
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06N3/0464 , G06N3/048
Abstract: 本发明公开了一种基于深层残差神经网络的AI芯片测评参数确定方法,包括:设计深层残差神经网络FDNet,对该深层残差神经网络FDNet进行训练得到浮点模型,并得到目标分类任务下的测评参数;将浮点模型进行量化得到定点模型,将定点模型部署于硬件板卡,通过在硬件板卡上的推理得到目标分类任务下的测评参数;得到的浮点模型和定点模型得到的测评参数,用于对使用深层残差神经网络FDNet时AI芯片的应用性能进行评价。本发明可以适用于多种宇航数据集,鲁棒性强。
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