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公开(公告)号：CN102642092B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201210107331.6
申请日：2012-04-13
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: B23K26/38 , B23K26/064
Abstract: 本发明涉及一种基于激光光束的微孔加工装置及方法，该装置包括：径向偏振光束生成单元，用于将激光光束转换为径向偏振光束，并将所述径向偏振光束发射至衍射光学元件；所述衍射光学元件，用于调制所述径向偏振光束的振幅和相位，并将调制后的所述径向偏振光束发射至聚焦透镜；所述聚焦透镜，用于将调制后的所述径向偏振光束进行聚焦，在所述聚焦透镜的焦点附近获取所述径向偏振光束的聚焦场，所述聚焦场的强度分布由所述衍射光学元件的结构和所述聚焦透镜的数值孔径确定，通过控制所述聚焦场的强度分布对待加工的材料进行微孔加工。本发明实施例可加工大深径比的微孔且提高了微孔的切割速度和效率。
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公开(公告)号：CN115809576B
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202211445585.9
申请日：2022-11-18
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G06F30/23 , G06T17/00 , G06F115/04 , G06F111/10 , G06F119/14 , G06F119/08 , G06F119/18
Abstract: 本发明公开了硅基MEMS工艺与多物理场耦合的器件性能评估方法，该方法包括：对具有硅基MEMS基底的器件进行制造工艺仿真，获得工艺仿真模型；对工艺仿真模型进行结构设计拓扑，获得拓扑重构后的三维模型；基于拓扑重构后的三维模型，建立工艺及设计耦合模型，并基于耦合物理环境确定耦合时的物理场；进行多物理场数值仿真计算；基于仿真计算结果进行器件性能评估。本发明解决了MEMS制造工艺和几何构型的耦合问题，创新性的数值算法及结构耦合，可以进行MEMS器件结构及制造工艺的优化，大大节省MEMS器件研发成本和周期。
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公开(公告)号：CN115809576A
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202211445585.9
申请日：2022-11-18
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G06F30/23 , G06T17/00 , G06F115/04 , G06F111/10 , G06F119/14 , G06F119/08 , G06F119/18
Abstract: 本发明公开了硅基MEMS工艺与多物理场耦合的器件性能评估方法，该方法包括：对具有硅基MEMS基底的器件进行制造工艺仿真，获得工艺仿真模型；对工艺仿真模型进行结构设计拓扑，获得拓扑重构后的三维模型；基于拓扑重构后的三维模型，建立工艺及设计耦合模型，并基于耦合物理环境确定耦合时的物理场；进行多物理场数值仿真计算；基于仿真计算结果进行器件性能评估。本发明解决了MEMS制造工艺和几何构型的耦合问题，创新性的数值算法及结构耦合，可以进行MEMS器件结构及制造工艺的优化，大大节省MEMS器件研发成本和周期。
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公开(公告)号：CN105301699B
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201510849698.9
申请日：2015-11-27
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G02B6/28
Abstract: 本发明涉及一种光纤延时装置，该光纤延时装置包括：由多个弧形块拼成的瓣式环形柱，光纤能够沿着周向缠绕在瓣式环形柱的外周壁上；以及调整机构。其中调整机构设置为能够促动各弧形块沿其径向向外移动，使得缠绕在该瓣式环形柱的外周壁上的光纤能够被径向扩张的瓣式环形柱拉伸。本发明的光纤延时装置能够对光纤进行拉伸并连续地改变该光纤的延迟时间，使得延迟时间的调整是连续形式的调整。
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公开(公告)号：CN105680368A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610146375.8
申请日：2016-03-15
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: H02G1/02
CPC classification number: H02G1/02
Abstract: 本发明提供了一种无限续航高压巡线飞行器，包括：支架、旋翼和主控制器，所述主控制器包括CPU、线路识别模块、数据采集模块、故障鉴定模块、无限续航模块；所述线路识别模块内置有摄像头，通过摄像头采集高压线图像；所述数据采集模块包括超声测距模块和红外测温模块，用来对高压线附近的温度进行采集；所述无限续航模块采用磁耦合共振技术，实现电能无线传输；所述线路识别模块、数据采集模块、故障鉴定模块、无限续航模块将采集到的信息传输给所述CPU，所述CPU判断出所需工作指令，并把工作指令发送到上述模块。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101800598B
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201010109453.X
申请日：2010-02-08
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种新的MZ外调制器平衡检测偏置控制方法，包括RF射频信号与导频信号经过信号合成器合成后送入MZ外调制器的信号端，经过调制后的光信号经过分光器，其中的一部分光信号进入光电探测器，光电探测器将该部分光信号转换成电信号，对电信号进行检测，检测出导频信号的基波和二次谐波或两种及两种以上谐波分量；之后对两种谐波分量的传输函数进行相除运算，并根据相除运算后的比值函数得到直流偏置的调整量；然后根据直流偏置的调整量得到偏置电压，将偏置电压送入MZ外调制器的直流偏置端，实现对MZ外调制器的最佳直流偏置点的闭环控制。可以消除激光器的输出光功率及链路损耗对直流偏置控制方法精度的影响，提高系统的精确度。
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公开(公告)号：CN101800598A
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN201010109453.X
申请日：2010-02-08
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种新的MZ外调制器平衡检测偏置控制方法，包括RF射频信号与导频信号经过信号合成器合成后送入MZ外调制器的信号端，经过调制后的光信号经过分光器，其中的一部分光信号进入光电探测器，光电探测器将该部分光信号转换成电信号，对电信号进行检测，检测出导频信号的基波和二次谐波或两种及两种以上谐波分量；之后对两种谐波分量的传输函数进行相除运算，并根据相除运算后的比值函数得到直流偏置的调整量；然后根据直流偏置的调整量得到偏置电压，将偏置电压送入MZ外调制器的直流偏置端，实现对MZ外调制器的最佳直流偏置点的闭环控制。可以消除激光器的输出光功率及链路损耗对直流偏置控制方法精度的影响，提高系统的精确度。
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公开(公告)号：CN114581653A
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202210074586.0
申请日：2022-01-21
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供了一种微孔板的液位检测方法、电子设备及介质，该方法包括：获取目标图像且对所述目标图像进行处理，得到第二中间图像；对第二中间图像进行角度矫正处理，获取第三中间图像；对第三中间图像进行ROI提取，获取每一微孔的ROI区域图像；对每一微孔的ROI区域图像进行直方图处理，得到每一微孔对应的关键图像；将每一微孔对应的关键图像进行滤波处理，得到最终图像；基于所述最终图像，获取目标图像对应的液位曲线；该方法能够适应外界光强改变、防止在采集图像的过程中，由于相机发生晃动等情况导致微孔板图像成像发生角度的偏移影响检测精度，且可以很好的保证精度要求，使液位容积的计算更加高效简洁，满足检测需求。
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公开(公告)号：CN102642092A
公开(公告)日：2012-08-22
申请号：CN201210107331.6
申请日：2012-04-13
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明涉及一种基于激光光束的微孔加工装置及方法，该装置包括：径向偏振光束生成单元，用于将激光光束转换为径向偏振光束，并将所述径向偏振光束发射至衍射光学元件；所述衍射光学元件，用于调制所述径向偏振光束的振幅和相位，并将调制后的所述径向偏振光束发射至聚焦透镜；所述聚焦透镜，用于将调制后的所述径向偏振光束进行聚焦，在所述聚焦透镜的焦点附近获取所述径向偏振光束的聚焦场，所述聚焦场的强度分布由所述衍射光学元件的结构和所述聚焦透镜的数值孔径确定，通过控制所述聚焦场的强度分布对待加工的材料进行微孔加工。本发明实施例可加工大深径比的微孔且提高了微孔的切割速度和效率。
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公开(公告)号：CN114577310B
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202210074579.0
申请日：2022-01-21
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01F23/80
Abstract: 本申请提供了一种用于微孔板的液位检测系统，所述系统包括处理器和存储有计算机程序的存储器，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：对驱动装置的参数进行设置；获取目标像素个数，能够采集到完整的液位信息；获取目标景深；目标像素个数和目标景深对所述目标摄像装置进行标定；通过所述目标摄像装置的预设相机采集帧率与所述驱动装置中传送速度进行相匹配，获取单行微孔板图像且将单行微孔板图像作为目标图像；该方法能够适应外界光强改变、防止在采集图像的过程中，由于相机发生晃动等情况导致微孔板图像成像发生角度的偏移影响检测精度，且可以很好的保证精度要求，使液位容积的计算更加高效简洁，满足检测需求。
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