公开(公告)号：CN102609573A

公开(公告)日：2012-07-25

申请号：CN201210016818.3

申请日：2012-01-18

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 刘检华 ,  宁汝新 ,  刘伟东 ,  蒋科 ,  任水平

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明提供一种产品装配尺寸和形位精度的预测方法及装置，其中方法包括：获得产品装配尺寸和形位精度的设计数据和测量数据；将设计数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差随机向量，将测量数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差确定向量；根据六元偏差随机向量以及六元偏差确定向量，构建产品装配尺寸和形位精度六元偏差统计量模型，并求解模型的均值向量、方差和协方差矩阵；根据六元偏差统计量模型以及产品的装配基准、装配约束，构建产品的装配偏差有向图；并根据装配偏差有向图，实现对产品装配的尺寸和形位精度进行累积；根据产品装配尺寸和形位精度的累积量，对产品的装配精度进行预测。本发明的方案可以使产品的装配精度的分析更加精确。

公开(公告)号：CN104036102B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201410314616.6

申请日：2014-07-02

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 丁晓宇 ,  刘检华 ,  蒋科 ,  刘少丽 ,  郭崇颖 ,  史建成 ,  刘海博

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明提供一种产品装配偏差的计算方法及装置，涉及机械工程领域。该方法包括：根据产品装配样机的公差信息和装配信息，确定所述样机的零件几何特征之间的定位关系；根据定位关系解析几何特征之间的理论约束方向，并解析定位优先级约束下几何特征之间的实际约束方向；根据实际约束方向，构建变动向量空间；根据变动向量空间及几何特征之间的定位关系，获取与产品装配样机的功能要求信息对应的装配偏差传递线路以及各条线路传递的约束方向；根据所述装配偏差传递线路，判断公差信息和装配信息是否存在冗余或缺失,获取一判断结果；根据产品装配样机的模型信息、公差信息以及判断结果，获取装配偏差传递路线上各偏差源的大小，完成装配偏差的计算。

公开(公告)号：CN104070355B

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201410313117.5

申请日：2014-07-02

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 丁晓宇 ,  刘检华 ,  蒋科 ,  宁汝新 ,  刘少丽 ,  郭崇颖 ,  史建成 ,  刘海博

IPC: B23P21/00

Abstract: 本发明提供了一种定位优先级约束下零件装配成功的方法及装置。所述方法，包括：获取产品数字化样机的装配信息；根据装配信息，获取零件内和零件间装配特征之间的定位关系；根据定位关系，获取装配特征在配合前相对于装配名义位置的变动参数；根据装配特征相对于装配名义位置的变动参数，获取间隙配合的约束条件；根据约束条件，获取零件装配成功率；将零件装配成功率与预设值进行比较，得出一比较结果；当比较结果表明装配成功率小于预设值时，提示调整零件的装配公差；根据调整后的装配公差再次获取零件装配成功率，直到所述零件装配成功率大于或等于预设值。采用上述方法调整的零件装配公差精度合理，保证了零件的准确安装。

公开(公告)号：CN102609573B

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：CN201210016818.3

申请日：2012-01-18

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 刘检华 ,  宁汝新 ,  刘伟东 ,  蒋科 ,  任水平

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明提供一种产品装配尺寸和形位精度的预测方法及装置，其中方法包括：获得产品装配尺寸和形位精度的设计数据和测量数据；将设计数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差随机向量，将测量数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差确定向量；根据六元偏差随机向量以及六元偏差确定向量，构建产品装配尺寸和形位精度六元偏差统计量模型，并求解模型的均值向量、方差和协方差矩阵；根据六元偏差统计量模型以及产品的装配基准、装配约束，构建产品的装配偏差有向图；并根据装配偏差有向图，实现对产品装配的尺寸和形位精度进行累积；根据产品装配尺寸和形位精度的累积量，对产品的装配精度进行预测。本发明的方案可以使产品的装配精度的分析更加精确。

公开(公告)号：CN104070355A

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：CN201410313117.5

申请日：2014-07-02

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 刘检华 ,  蒋科 ,  宁汝新 ,  刘少丽 ,  郭崇颖 ,  史建成 ,  刘海博

IPC: B23P21/00

CPC classification number: B23P21/00

Abstract: 本发明提供了一种定位优先级约束下零件装配成功的方法及装置。所述方法包括：获取产品数字化样机的装配信息；根据装配信息，获取零件内和零件间装配特征之间的定位关系；根据定位关系，获取装配特征在配合前相对于装配名义位置的变动参数；根据装配特征相对于装配名义位置的变动参数，获取间隙配合的约束条件；根据约束条件，获取零件装配成功率；将零件装配成功率与预设值进行比较，得出一比较结果；当比较结果表明装配成功率小于预设值时，提示调整零件的装配公差；根据调整后的装配公差再次获取零件装配成功率，直到所述零件装配成功率大于或等于预设值。采用上述方法调整的零件装配公差精度合理，保证了零件的准确安装。

公开(公告)号：CN104036102A

公开(公告)日：2014-09-10

申请号：CN201410314616.6

申请日：2014-07-02

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 刘检华 ,  蒋科 ,  刘少丽 ,  郭崇颖 ,  史建成 ,  刘海博

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明提供一种产品装配偏差的计算方法及装置，涉及机械工程领域。该方法包括：根据产品装配样机的公差信息和装配信息，确定所述样机的零件几何特征之间的定位关系；根据定位关系解析几何特征之间的理论约束方向，并解析定位优先级约束下几何特征之间的实际约束方向；根据实际约束方向，构建变动向量空间；根据变动向量空间及几何特征之间的定位关系，获取与产品装配样机的功能要求信息对应的装配偏差传递线路以及各条线路传递的约束方向；根据所述装配偏差传递线路，判断公差信息和装配信息是否存在冗余或缺失,获取一判断结果；根据产品装配样机的模型信息、公差信息以及判断结果，获取装配偏差传递路线上各偏差源的大小，完成装配偏差的计算。