公开(公告)号：CN102609573A

公开(公告)日：2012-07-25

申请号：CN201210016818.3

申请日：2012-01-18

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 刘检华 ,  宁汝新 ,  刘伟东 ,  蒋科 ,  任水平

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明提供一种产品装配尺寸和形位精度的预测方法及装置，其中方法包括：获得产品装配尺寸和形位精度的设计数据和测量数据；将设计数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差随机向量，将测量数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差确定向量；根据六元偏差随机向量以及六元偏差确定向量，构建产品装配尺寸和形位精度六元偏差统计量模型，并求解模型的均值向量、方差和协方差矩阵；根据六元偏差统计量模型以及产品的装配基准、装配约束，构建产品的装配偏差有向图；并根据装配偏差有向图，实现对产品装配的尺寸和形位精度进行累积；根据产品装配尺寸和形位精度的累积量，对产品的装配精度进行预测。本发明的方案可以使产品的装配精度的分析更加精确。

公开(公告)号：CN102609573B

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：CN201210016818.3

申请日：2012-01-18

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 刘检华 ,  宁汝新 ,  刘伟东 ,  蒋科 ,  任水平

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明提供一种产品装配尺寸和形位精度的预测方法及装置，其中方法包括：获得产品装配尺寸和形位精度的设计数据和测量数据；将设计数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差随机向量，将测量数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差确定向量；根据六元偏差随机向量以及六元偏差确定向量，构建产品装配尺寸和形位精度六元偏差统计量模型，并求解模型的均值向量、方差和协方差矩阵；根据六元偏差统计量模型以及产品的装配基准、装配约束，构建产品的装配偏差有向图；并根据装配偏差有向图，实现对产品装配的尺寸和形位精度进行累积；根据产品装配尺寸和形位精度的累积量，对产品的装配精度进行预测。本发明的方案可以使产品的装配精度的分析更加精确。