公开(公告)号：CN108796465A

公开(公告)日：2018-11-13

申请号：CN201710280946.1

申请日：2017-04-26

Applicant: 南通大学

Inventor： 杨建华 ,  黄小忠 ,  丁一 ,  钱月明 ,  于鹏飞 ,  祁万钰 ,  杨北平

IPC: C23C14/48 ,  C23C14/54

CPC classification number: C23C14/48 ,  C23C14/54

Abstract: 本发明提供了一种离子剂量和靶温检测方法，在离子溅射镀膜中对样品进行表面处理的检测过程中，对样品进行局部表面的掩蔽的方式进行表面处理的检测。采用这一系统可以减小同批样品预处理条件和真空处理条件波动的影响，可在不破坏真空的情况下提高材料真空表面处理的处理效率，避免频繁打开真空可能导致的污染，提高处理工艺的可重复性，加快处理技术的实用化进程。

公开(公告)号：CN103888092A

公开(公告)日：2014-06-25

申请号：CN201410092895.6

申请日：2014-03-13

Applicant: 南通大学

Inventor： 申红明 ,  许鹏 ,  蔡燕 ,  龚朝杰 ,  杨永杰 ,  方红健 ,  杨北平 ,  陈培 ,  陈秀秀

IPC: H03F3/45

Abstract: 本发明公开了一种差动传感器信号放大调理电路，包括差动放大器和同相比例放大器；差动传感器检测的差分信号接所述差动放大器的两个输入端，所述差动放大器的输出信号接同相比例放大器的同相输入端，所述同相比例放大器的反相输入端作为增益调整端，所述同相比例放大器的输出端作为整个信号放大调理电路的输出端。本发明用于将传感器送来的差分小信号进行放大，并将差分信号转换为单端信号输出，电路增益既便于调整又能控制在一定的范围内，具备较高的稳定性。

公开(公告)号：CN103674797A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201310727374.9

申请日：2013-12-25

Applicant: 南通大学

Inventor： 杨永杰 ,  申红民 ,  许鹏 ,  杨赛程 ,  张裕胜 ,  杨北平 ,  陈培

IPC: G01N15/06

Abstract: 本发明公开了颗粒物浓度检测传感器，包括半导体激光器、雪崩光电二极管和光电信号调理电路，雪崩光电二极管与光电信号调理电路连接，使半导体激光器与雪崩光电二极管之间形成检测通道。本发明结构简单、成本低，具有测量准确、反应快、误差小、灵敏度高、稳定性好的优点，能够对PM2.5浓度进行准确检测，有效地提高了检测精度。

公开(公告)号：CN113188938A

公开(公告)日：2021-07-30

申请号：CN202110472421.4

申请日：2021-04-29

Applicant: 南通大学

Inventor： 杨建华 ,  杨北平 ,  曹泽颖 ,  曹子健 ,  成鸣飞

IPC: G01N3/56 ,  G01N3/02 ,  G06T7/00 ,  G06T7/50

Abstract: 本发明公开了采用干涉法结合Photoshop软件评价表面改性层耐磨性的方法，包括样品掩蔽方法、漏计磨损的获得、干涉条纹的处理和磨损体积的测量。采用该方法，不仅可以减小同批样品预处理条件和真空处理条件波动的影响，可在不破坏真空的情况下提高材料真空表面处理的处理效率，提高处理工艺的可重复性，而且采用胶带清除松动的磨屑，可以有效消除通常磨损试验中往往出现的漏计磨损；采用SmartDeblur软件并结合人工识别确定干涉条纹可以有效地消除常见的伪磨损；采用PS软件的直方图工具测量相对耐磨性既直观又简便，从而有效地提高材料表面轻微磨损的测量效率，提高测量的可信度。

公开(公告)号：CN103888092B

公开(公告)日：2016-11-16

申请号：CN201410092895.6

申请日：2014-03-13

Applicant: 南通大学

Inventor： 申红明 ,  许鹏 ,  蔡燕 ,  龚朝杰 ,  杨永杰 ,  方红健 ,  杨北平 ,  陈培 ,  陈秀秀

IPC: H03F3/45

Abstract: 本发明公开了一种差动传感器信号放大调理电路，包括差动放大器和同相比例放大器；差动传感器检测的差分信号接所述差动放大器的两个输入端，所述差动放大器的输出信号接同相比例放大器的同相输入端，所述同相比例放大器的反相输入端作为增益调整端，所述同相比例放大器的输出端作为整个信号放大调理电路的输出端。本发明用于将传感器送来的差分小信号进行放大，并将差分信号转换为单端信号输出，电路增益既便于调整又能控制在一定的范围内，具备较高的稳定性。