基于FPGA的高精度时间间隔测量系统

    公开(公告)号:CN118915416A

    公开(公告)日:2024-11-08

    申请号:CN202411341615.0

    申请日:2024-09-25

    Abstract: 一种基于FPGA的高精度时间间隔测量系统,属于高精度时间测量技术领域。本发明针对现有采用TDL的时间测量方法时间测量范围小的问题。包括:粗测量模块,用于采用计数器对大于一个系统时钟周期的时间进行测量;粗测量结果表示为Tcoarse;细测量模块,用于采用抽头延时线对小于一个系统时钟周期的时间进行测量,细测量结果表示为Tfine,包括开始信号Start与其后相邻第一个系统时钟上升沿之间的时间间隔Tfine1和停止信号End与其后相邻第一个系统时钟上升沿之间的时间间隔Tfine2;由粗测量模块和细测量模块得到开始信号Start与停止信号End之间的测量时间间隔。本发明用于时间间隔测量。

    采用双相位采样与在线计算方式的延时发生系统

    公开(公告)号:CN117767924A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202311838231.5

    申请日:2023-12-28

    Abstract: 一种采用双相位采样与在线计算方式的延时发生系统,属于数字延时技术领域。本发明针对现有采用进位延时链法的延时器时间分辨率相对较低并且不具备实时性的问题。包括延时前链模块,其采样电路采用双相位采样的方式根据触发信号上升沿的产生时刻及在触发信号上升沿产生之后系统时钟第一个上升沿时刻确定前链延时时长,并通过6条延时前链实现前链延时时长的延时和测量;粗延时模块采用两个二进制计数器计算实现粗延时;延时后链模块,根据设定的延迟时间、前链延时时长和粗延时时长确定后链延时时长,并在粗延时模块计数达到预设值后通过延时后链实现后链延时时长的延时;多个CARRY4单元首尾级联形成延时前链和延时后链。本发明用于实现精细延时。

    高频高精度激光回波仿真系统

    公开(公告)号:CN110456329B

    公开(公告)日:2021-03-02

    申请号:CN201910768744.0

    申请日:2019-08-20

    Abstract: 高频高精度激光回波仿真系统,涉及光电信息系统技术领域。本发明是为了解决现有激光回波仿真系统传输速度低,可扩展性差,成本高,难以同时实现高精度与大动态可调范围的问题。上位机用于模拟激光从每个目标点返回至激光阵列中每个激光探测器所用的时间,作为延时时间,将该时间发给数据接收卡,还用于接收配置完成信号并输出触发信号;数据接收卡对多个延时时间进行处理,以光信号形式分别传给各驱动控制卡;驱动控制卡用于接收一个延时时间,转为并行,将并行延时时间分为范围延时和精度延时,经过处理输出驱动控制信号;激光阵列中每一个激光探测器均接收一个驱动控制信号,接收从目标点返回的激光,实现回波信号模拟。它用于模拟激光回波。

    高精度可调合成电阻、基于该合成电阻的自动测试系统及方法

    公开(公告)号:CN105023677B

    公开(公告)日:2017-11-03

    申请号:CN201510478097.1

    申请日:2015-08-06

    Abstract: 高精度可调合成电阻、基于该合成电阻的自动测试系统及方法,涉及高精度电阻的开发与设计领域。本发明为了解决现有的合成电阻及其自动测试系统搭建复杂、测量精度低及现有的合成电阻的自动测试系统测试方式复杂,且受环境影响使得测量精度较低的问题。高精度可调合成电阻中,根据一号输入接线端和二号输入接线端的输入信号,调节端口电压与电流的比值,来模拟输出电阻R。高精度可调合成电阻的自动测试系统,通过两个万用表分别测量合成电阻的电压和电流,并通过串口将测量结果传送至PC机,PC机内完成测量结果的存储及处理,实现自动测试。本发明还适用于其它电阻及电阻的自动测试。

    基于FPGA的高精度电阻校准系统及采用该系统实现的电阻校准方法

    公开(公告)号:CN106918795A

    公开(公告)日:2017-07-04

    申请号:CN201710170912.7

    申请日:2017-03-21

    CPC classification number: G01R35/005

    Abstract: 基于FPGA的高精度电阻校准系统及采用该系统实现的电阻校准方法,属于电阻校准领域。解决了现有输出线性可调电阻的电阻校准系统结构复杂、精度和灵活性低的问题。它包括输入缓冲电路、数模转换电路、FPGA处理器、上位机和电源;FPGA处理器,根据上位机发出的指令信号,控制输入缓冲电路进行量程切换,还用于发出数字量控制信号对数模转换电路输出电压的幅值进行控制;所述的输入缓冲电路,用于将被侧仪器输出的激励电流信号转化为数字电压信号,数模转换电路,用于对接收的数字电压信号转化为模拟电压信号。本发明主要用于校准数字万用表等测量仪器的欧姆档。

    具有可测性功能的开关电源及测试方法

    公开(公告)号:CN103701303A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201310738168.8

    申请日:2013-12-29

    Abstract: 具有可测性功能的开关电源及测试方法,属于电源领域,本发明为解决现有开关电源不具有可测试性,当电源出现故障时,存在人工测试流程复杂、测试时间长、维修保障困难、维修费用高等诸多问题。本发明涉及通用的开关电源,在开关电源中选择八个测试点,四个测试点取自变压器的初级侧,四个测试点取自变压器的次级侧,对八个电压进行处理后,发送给处理器,按TP4;TP5;TP1、TP2、TP3(组内并列);TP6、TP7、TP8(组内并列)的顺序进行判断,轻松获取故障信息,并在显示器上显示,让维修人员快速,准确地诊断故障,隔离出故障元器件。大量的减少了人工判断的工作量。

    基于BIST的数据采集系统及其实现采集、自测试的方法

    公开(公告)号:CN101930221B

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201010128968.4

    申请日:2010-03-22

    Abstract: 基于BIST的数据采集系统及其实现采集、自测试的方法,它涉及数据采集技术领域,它解决了现有的数据采集器可测性低、可靠性低的问题。本发明的数据采集系统主要包括FPGA控制模块、DSP主控制器、混合边界扫描芯片、边界扫描控制芯片和测试信号发生器,本发明的方法主要由FPGA控制模块完成数据采集功能,由DSP主控制器实现数据采集系统在数据采集和自测试之间的切换控制,由测试信号发生器实现测试信号的发出,由边界扫描控制芯片实现对FPGA的测试。本发明为提高数据采集系统的可测性发展提供了基础。

    基于片上系统SOC的BIST通用基础测试模块及测试系统及利用此系统的测试方法

    公开(公告)号:CN101893684B

    公开(公告)日:2012-06-06

    申请号:CN201010108917.5

    申请日:2010-02-10

    Abstract: 基于片上系统SOC的BIST通用基础测试模块及测试系统及利用此系统的测试方法,它涉及一种混合电路的测试模块及测试方法,它解决了现有的自动测试设备存在的体积大、成本高、限制电流、测试不灵活的问题,测试功能模块由片上系统SOC、跟随器、模拟开关和电平转换电路连接而成。测试系统除包括测试功能模块外,还包括控制器。测试方法具体如下:一、片上系统SOC控制模拟开关由工作状态转换到测试状态;二、产生激励信号;三、对响应信号进行A/D采样,并存储采样结果;四、根据采样结果的数据传输方式进行数据处理并显示结果;五、片上系统SOC控制模拟开关测试状态转换到工作状态。本发明适用于混合电路的测试。

    二维离散小波变换电路及应用该电路的图像压缩方法

    公开(公告)号:CN102333222A

    公开(公告)日:2012-01-25

    申请号:CN201110325978.1

    申请日:2011-10-24

    Abstract: 二维离散小波变换电路及应用该电路的图像压缩方法,本发明涉及一种二维离散小波变换电路,本发明还涉及应用该电路的图像压缩方法。以解决进行离散小波变换这一环节时,现有的VLSI架构行变换和列变换都是分离的,需要进行大量的中间数据的存储和满足复杂的时序要求,造成VLSI内部结构复杂,硬件利用率低的问题。用于图像压缩。离散小波变换电路中采用四个数字滤波器同时对图像中的像素进行行扫描滤波和列扫描滤波,改变了传统技术的需要先进行行扫描变换,再进行列扫描变换方式所带来的大量的中间数据的存储和满足复杂的时序要求。图像压缩方法采用了本发明的二维离散小波变换电路,有效消除了方块效应,提高数字图像压缩处理效率和速度。

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