一种非接触式孔垂直度测量方法

    公开(公告)号:CN116734775B

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202311006824.5

    申请日:2023-08-11

    Abstract: 本发明公开了一种非接触式孔垂直度测量方法,属于飞机装配测量技术领域,其特征在于,包括以下步骤:S1、搭建测量装置,进行采集和拍摄,产生的数据接入计算机进行处理;S2、在摄像机范围内和激光位移传感器的测量范围内标定测量装置;S3、调整测量装置;S4、移动测量装置,在移动中采集和处理图像;S5、调整测量装置姿态,在移动中采集和处理图像;S6、捕捉A、B和O三点重合;S7、计算孔的垂直度。本发明在移动和姿态调整中,摄像机实时采集,无需计算像素与实际物理距离之间的换算关系,有效降低计算的复杂性,提高了测量的便捷性和测量精度。

    一种快速检测飞机零件大半径的方法及装置

    公开(公告)号:CN113739742A

    公开(公告)日:2021-12-03

    申请号:CN202110983882.8

    申请日:2021-08-25

    Abstract: 本发明公开了一种快速检测飞机零件大半径的方法及装置,方法包括S1、在飞机零件表面的待测区域选择三点;S2、确保三点所在平面垂直于待测区域,同时三点构成等腰三角形;S3、测量第一距离、第二距离和第三距离中的至少两个;S4、构建直角三角形,使用三角函数和/或勾股定理建立等式关系,得到待测区域的半径;装置包括标尺,以及连接在标尺上的:主尺、第一测量杆和第二测量杆,主尺位于第一测量杆和第二测量杆之间,第一测量杆的测量端和第二测量杆的测量端相对于标尺的距离相同;该检测方法简便有效,降低了检测难度,方便操作,提高了检测效率,节省检测成本,适用性强,检测装置体积较小,方便携带,具有较强的实用性和可操作性。

    一种光学三维测量方法、装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN119444826A

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202411133107.3

    申请日:2024-08-19

    Abstract: 本申请公开了一种光学三维测量方法、装置、设备及介质,涉及光学三维测量技术领域,用于解决现有技术中在遮挡情况下光学三维测量精度较低的问题。所述方法包括:根据光场子孔径图像阵列,构建四个代价体积;利用自注意力机制,为未被遮挡的视图特征和被遮挡的视图特征分别赋予相应的权重值,获得相应的特征权重矩阵;根据特征权重矩阵,分别对四个代价体积进行加权求和与特征提取,获得四个深度图像;对光场原始图像的中心视角图像和四个深度图像进行引导滤波,获得四个滤波后的深度图像;将四个滤波后的深度图像进行级联操作,获得目标深度图像。以通过自注意力机制和引导滤波,来解决遮挡问题,来提升三维测量精度。

    一种非接触式孔垂直度测量方法

    公开(公告)号:CN116734775A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202311006824.5

    申请日:2023-08-11

    Abstract: 本发明公开了一种非接触式孔垂直度测量方法,属于飞机装配测量技术领域,其特征在于,包括以下步骤:S1、搭建测量装置,进行采集和拍摄,产生的数据接入计算机进行处理;S2、在摄像机范围内和激光位移传感器的测量范围内标定测量装置;S3、调整测量装置;S4、移动测量装置,在移动中采集和处理图像;S5、调整测量装置姿态,在移动中采集和处理图像;S6、捕捉A、B和O三点重合;S7、计算孔的垂直度。本发明在移动和姿态调整中,摄像机实时采集,无需计算像素与实际物理距离之间的换算关系,有效降低计算的复杂性,提高了测量的便捷性和测量精度。

    小批量误差数据的自动校正与分布拟合方法

    公开(公告)号:CN115455359A

    公开(公告)日:2022-12-09

    申请号:CN202210876577.3

    申请日:2022-07-25

    Abstract: 本发明属于航空生产领域,具体涉及一种基于Anderson–Darling检验和循环估计的小批量误差数据的自动校正与分布拟合方法,包括如下步骤:从记录表中读取产品同一特征的年度误差数据;对误差数据进行异常数据的清除;构建四个连续分布下的Anderson–Darling检验统计量;构建连续分布下的检验统计量的p值;采用循环估计对每个数据进行自动校正;设定不同的补偿值重复,以找到最优的补偿值。本方法能够自动搜寻最优的校正值,可以快速并有效地弥补因测量方式不当或操作人员更换引起的数据偏差,促使数据集与数据的真实分布更加相近,同时为后续的统计过程控制与控制图的构建提供基础。

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