图像二值化处理方法及其应用、电子设备、介质

    公开(公告)号:CN118037746A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410081177.2

    申请日:2024-01-19

    Abstract: 本发明公开了一种图像二值化处理方法及其应用、电子设备、介质,图像二值化处理方法,用于获取图像二值化处理阈值对图像进行处理;获取待处理图像,并将三通道图像转换为单通道灰度图;对步骤S1中转换后的图像像素值的分布进行统计,得到图像像素值的分布;计算步骤S2中图像像素值分布的一阶梯度;对阈值进行粗划分,获取步骤S3中一阶梯度的局部极小值;计算类方差和均值对,阈值进行细划分,得到图像二值化处理阈值。本方法减小了采用人工根据像素分布图选取划分点所需的时间,提高了阈值选取的准确率,计算过程简单,无需参数设置,减小了对计算机算力的要求,可广泛应用于图像二值化阈值的选取及图像二值化处理。

    一种零部件表面缺陷快速检测样板的设计方法

    公开(公告)号:CN111666629B

    公开(公告)日:2022-07-15

    申请号:CN202010414138.1

    申请日:2020-05-15

    Abstract: 本发明公开了一种零部件表面缺陷快速检测样板的设计方法,包括步骤S100:根据零部件检测要求,制作零部件平面几何量检测样板,将设计的相同形状样板在同一水平线上排布,且不同形状样板沿同一竖直线排布,不同样板间距离≥2mm;步骤S200:制作零部件空间几何量检测样板,将设计的相同形状样板沿同一水平线排布,且不同形状样板沿同一竖直线排布,不同样板间距离≥2mm。本发明解决了表面缺陷传统检测工具存在的测量过程复杂、测量结果不准确及现有精密光学测量设备测量效率低的问题。

    一种用于飞机外形曲面阶差测量工具及测量方法

    公开(公告)号:CN113607032B

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202110824479.0

    申请日:2021-07-21

    Abstract: 本发明涉及机械测量领域,特别是一种用于飞机外形曲面阶差测量工具及测量方法,包括工具底座、直筒压入环、指示表和拧紧开关,所述工具底座上设置有测量环和贯穿其上表面和下表面的指示表安装孔,所述指示表安装孔内设置有直筒压入环,所述直筒压入环中设置有指示表,所述工具底座的侧面设置有拧紧开关。本发明专利的曲面阶差测量工具,结构简单,使用方便,可以满足不同精度的阶差测量需求。可根据不同阶差调整指示表高度,实现多种尺寸阶差的测量。利用本发明专利的曲面阶差测量方法,还可以快速测量两曲面间的弯曲程度,提高测量效率。可使用两种不同的方法对曲面阶差进行测量,通过两种方法得到更为准确的结果,并且可以进行互为验证。

    一种射线束角度测试方法

    公开(公告)号:CN108459343B

    公开(公告)日:2021-11-30

    申请号:CN201711376494.3

    申请日:2017-12-19

    Abstract: 本发明公开一种射线束角度测试方法,步骤为:S1制作一个指示试块,包括一个底座和一根穿插在底座上的金属丝;S2确保检测面与胶片平行,将指示试块放置于所需检测的区域边界处,与产品一同进行射线检测透照,其影像随产品影像同时保存;S3在底片影像上测量出指示试块的金属丝沿焊缝垂直方向的投影长度,即垂直长度L;S4利用几何比例关系,可以计算出指示试块投影的垂直长度L是否满足要求。本发明在对产品进行射线检测时,与产品一起检测,将射线束角度信息通过高密度金属丝的影像与焊缝影像一并记录保存,还原了产品的射线束角度信息,达到了可追溯的目的。本发明经济、且显著的提高射线束角度的质量控制,极大的提高检测可靠性。

    一种用于复合材料结构超声检测的R角试块及制作方法

    公开(公告)号:CN109406629A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201811199279.5

    申请日:2018-10-15

    Inventor: 吴晓红 张越 杨扬

    Abstract: 本发明公开一种用于复合材料结构超声检测的R角试块及制作方法,所述R角试块为一个“R角层压板阶梯”的结构,在五个厚度台阶中中间厚度区和近表厚度区分别预制了人工缺陷,以模拟实际工作中可能自然产生的分层缺陷。人工缺陷缺陷共10个,其中试块外形尺寸为长300mm,两边各宽50mm,R角曲率半径为5mm,缺陷尺寸为3mm×3mm,缺陷呈错位等间隔排布。本发明的R角试块能真实的模拟分层缺陷,可以用于超声检测方法对不同结构、不同厚度整体化复合材料结构检测适用性的验证研究、缺陷的定量评定分析,还可以用于实际工作时对检测设备有效性的验证,从而保证产品质量。

    一种缺陷检测用红外检测系统的校验方法

    公开(公告)号:CN119846020A

    公开(公告)日:2025-04-18

    申请号:CN202510084417.9

    申请日:2025-01-20

    Abstract: 本发明涉及无损检测技术领域,特别是涉及一种缺陷检测用红外检测系统的校验方法,包括:明确缺陷检测有关的关键参数需求;根据关键参数需求,设计得到温度差灵敏度的厚度阶梯差和空间分辨率线对,并制成相应的试块;采用红外检测系统在标准测试环境下对试块中的温度差灵敏度测试区域和空间分辨率测试区域进行图像采集;在采集的图像中,选择温度差灵敏度测试区域中薄阶梯上的温度时间曲线,绘制温度时间曲线的线性趋势线,找到线性趋势线与温度时间曲线交叉时的X点;选择X点所对应的时间点,以该时间点的瞬时图像为基础,进行空间分辨率和温度差灵敏度分析。通过本校验方法,能快速、准确的对缺陷检测用红外检测系统的空间分辨率和温度差灵敏度一致性进行确认。

    基于太赫兹成像的玻璃纤维基复材损伤识别方法和装置

    公开(公告)号:CN114739947B

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202210299873.1

    申请日:2022-03-25

    Abstract: 本发明涉及无损检测领域,具体涉及一种基于太赫兹成像的玻璃纤维基复材损伤识别方法和装置,包括获取具有不同深度缺陷的多种缺陷样件的参考信号波形;利用太赫兹检测系统采集待测目标的检测数据,对其进行傅里叶变换,得到待识别信号波形;将待识别信号波形和参考信号波形进行对比,确定待测目标的缺陷深度;其中,利用太赫兹检测系统采集检测数据的方法为,发送第一发射信号和第二发射信号,将其进行合路,将合路后的信号聚焦于待测目标,接收反射信号,将反射信号进行分路,得到第一反射信号和第二反射信号,将其分别转换为中频信号,两路中频信号按照相同的频率间隔进行线性插值,获得待测目标的检测数据。能够实现不同深度处的分层缺陷识别。

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