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公开(公告)号：CN100552374C
公开(公告)日：2009-10-21
申请号：CN200680004225.8
申请日：2006-02-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明提供，使用连接于旋转轴且在外周面磁化有极性交替变化的磁极的靶，来高精度、高分辨率地检测多圈旋转的绝对旋转角度的装置。此装置具有：第1旋转体(101)，其与输入轴相连接，并保持着靶(103)且有可旋转多圈的齿轮，该靶(103)在外周面等间隔地拥有被磁化的极性交替变化的磁极；第2旋转体(108)，其与第1旋转体(101)的齿轮相连接，以低于第1旋转体(101)的速度旋转，且在中心部配置着磁铁(109)；以及第1检测部(110)以及第2检测部(111)，其检测第1旋转体(101)及第2旋转体(102)的旋转角度。本发明可以利用简单的结构来高精度、高分辨率地检测绝对旋转角度。
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公开(公告)号：CN101115968A
公开(公告)日：2008-01-30
申请号：CN200680004225.8
申请日：2006-02-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明提供，使用连接于旋转轴且在外周面磁化有极性交替变化的磁极的靶，来高精度、高分辨率地检测多圈旋转的绝对旋转角度的装置。此装置具有：第1旋转体(101)，其与输入轴相连接，并保持着靶(103)且有可旋转多圈的齿轮，该靶(103)在外周面等间隔地拥有被磁化的极性交替变化的磁极；第2旋转体(108)，其与第1旋转体(101)的齿轮相连接，以低于第1旋转体(101)的速度旋转，且在中心部配置着磁铁(109)；以及第1检测部(110)以及第2检测部(111)，其检测第1旋转体(101)及第2旋转体(102)的旋转角度。本发明可以利用简单的结构来高精度、高分辨率地检测绝对旋转角度。
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公开(公告)号：CN1203497C
公开(公告)日：2005-05-25
申请号：CN01800951.4
申请日：2001-07-05
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H05B33/02 , H01H13/702 , H01H2219/018
Abstract: 本发明提供用作各种电子设备的操作部的背景灯，操作时能够得到良好、稳定的有节度的触感，加工容易的EL片和使用EL片的开关。在隔膜部的根部外围的弯折部近旁不形成EL元件层，而只形成与透光性电极层和与背面电极层连接的导电性图形。又可以在该处不形成任何东西，而使绝缘膜坯料露出。
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公开(公告)号：CN1366689A
公开(公告)日：2002-08-28
申请号：CN01800951.4
申请日：2001-07-05
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H05B33/02 , H01H13/702 , H01H2219/018
Abstract: 本发明提供用作各种电子设备的操作部的背景灯,操作时能够得到良好、稳定的有节度的触感,加工容易的EL片和使用EL片的开关。在隔膜部的根部外围的弯折部近旁不形成EL元件层,而只形成与透光性电极层和与背面电极层连接的导电性图形。又可以在该处不形成任何东西,而使绝缘膜坯料露出。
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