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公开(公告)号：CN1142536C
公开(公告)日：2004-03-17
申请号：CN99812461.3
申请日：1999-10-29
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G09F9/00
CPC classification number: H05K5/02 , H01J2217/49 , H01J2217/492 , Y10S248/917
Abstract: 一种显示装置，具有显示图象的显示画面的PDP1和配置有对PDP1进行驱动的电路的电路板9被安装在板状的底架2上。电路板9因底架2而对PDP1屏蔽，不会受到PDP1辐射的无用辐射噪声。显示装置还设有分别具有导电性的后盖6和机壳7。后盖6和机壳7在内部收容装在底架2上的PDP1和电路板9。后盖6和机壳7分别与底架2之间电气绝缘。由此可防止来自PDP1和电路板9上的电路的无用辐射噪声外泄。
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公开(公告)号：CN1592648A
公开(公告)日：2005-03-09
申请号：CN03801530.7
申请日：2003-03-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: B01D11/0226 , B01D11/0284 , B29C47/369 , B29C47/6025 , B29C47/6037 , B29C47/6056 , B29C47/6062 , C08J11/08 , Y02W30/701
Abstract: 以往难以利用溶剂以高的除去率(抽取率)将废塑料中含有的难燃剂等的添加剂进行抽取除去。本发明的抽取机，其包括：抽取剂注入部(4)，其向包含应抽取的难燃剂的热可塑性树脂，注入对难燃剂进行抽取用的规定的抽取剂；混合部(6)，其将注入的规定的抽取剂与热可塑性树脂进行混合；以及抽取剂排出部(5)，其从混合了规定的抽取剂后的热可塑性树脂中、排出规定的抽取剂。
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公开(公告)号：CN1643369A
公开(公告)日：2005-07-20
申请号：CN03806120.1
申请日：2003-03-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/67
CPC classification number: G01N21/67
Abstract: 本发明的金属鉴别装置的特征在于包括电弧放电装置，该电弧放电装置含有在其自身和待鉴别的对象之间引起放电，从而激发待鉴别的对象并使其发光的放电电极、用于收集电弧放电装置发出的光的光纤、用于测量由光纤收集的光的发射光谱的分光光度计、作为鉴别处理部分的个人计算机，用于将分光光度计测量的发射光谱的数据与预先存储的多个标准样品的发射光谱数据进行比较来鉴别待鉴别的对象的类型，以及破坏待鉴别的对象的表面的至少一部分的破坏处理部分。
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公开(公告)号：CN1324474A
公开(公告)日：2001-11-28
申请号：CN99812461.3
申请日：1999-10-29
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G09F9/00
CPC classification number: H05K5/02 , H01J2217/49 , H01J2217/492 , Y10S248/917
Abstract: 一种显示装置,具有显示图象的显示画面的PDP1和配置有对PDP1进行驱动的电路的电路板9被安装在板状的底架2上。电路板9因底架2而对PDP1屏蔽,不会受到PDP1辐射的无用辐射噪声。显示装置还设有分别具有导电性的后盖6和机壳7。后盖6和机壳7在内部收容装在底架2上的PDP1和电路板9。后盖6和机壳7分别与底架2之间电气绝缘。由此可防止来自PDP1和电路板9上的电路的无用辐射噪声外泄。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1332733C
公开(公告)日：2007-08-22
申请号：CN03801530.7
申请日：2003-03-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: B01D11/0226 , B01D11/0284 , B29C47/369 , B29C47/6025 , B29C47/6037 , B29C47/6056 , B29C47/6062 , C08J11/08 , Y02W30/701
Abstract: 本发明公开了一种抽取装置。本发明的抽取机，其包括：原料供给部、固形物排出口、抽取剂注入口、抽取剂排出口以及使筒的内部压力上升的升压机构，由此可利用溶剂以高的除去率(抽取率)将废塑料中含有的难燃剂等的添加剂进行抽取除去。
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公开(公告)号：CN1206040C
公开(公告)日：2005-06-15
申请号：CN00801014.5
申请日：2000-05-29
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: B02C13/18
CPC classification number: B02C13/18 , B03B9/061 , Y02W30/521 , Y02W30/82 , Y02W30/822
Abstract: 一种用于将其上安装有电子元件的印刷电路板轧成数平方厘米至十平方厘米大小的碎片、并从印刷电路板中分离出某些元件和覆皮电线的轧碎装置。该轧碎装置包括：在其旋转中心处安装有大致锥形或截头锥形突出中柱(6)的转子(3)，自锥形突柱中柱(6)径向水平延伸的数个延伸部分(3a)，在这些延伸部分(3a)上安装有突柱(3和4)，用于转动转子(3)的驱动马达(8)，其中容设有转子(3)的筒状壳体(1)，以及安装在筒状壳体(1)的内侧上的数个突柱(2)。
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公开(公告)号：CN1463359A
公开(公告)日：2003-12-24
申请号：CN02801843.5
申请日：2002-03-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/27
CPC classification number: G01N21/3563 , B29B17/02 , B29B2017/0203 , B29B2017/0279 , G01N21/552 , Y02W30/622
Abstract: 在准备塑料材料试验片，利用衰减全反射法测定前述试验片的红外光谱，通过将获得的红外光谱与已知塑料的红外光谱进行比较对照，识别前述塑料材料的种类的方法中，前述试验片具有切断面，使衰减全反射结晶体与前述试验片的切断面相接触，实施前述试验片的红外光谱的测定。
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公开(公告)号：CN1267723C
公开(公告)日：2006-08-02
申请号：CN02801843.5
申请日：2002-03-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/27
CPC classification number: G01N21/3563 , B29B17/02 , B29B2017/0203 , B29B2017/0279 , G01N21/552 , Y02W30/622
Abstract: 在本发明的塑料识别方法中，准备塑料材料的试验片，用衰减全反射法测定试验片的红外光谱，将得到的红外光谱与已知塑料的红外光谱进行比较，由此识别塑料材料种类，其特征是，试验片具有切断面，通过使衰减全反射用结晶体与切断面接触来实施试验片红外光谱测定，结晶体表面的至少一部分是球面，其被配置成与切断面点接触。本发明的塑料识别装置包括：利用衰减全反射法测定塑料材料的试验片的红外光谱的测定部，它具有衰减全反射晶体和红外质谱仪；将试验片保持在与结晶体接触的状态的保持部；将试验片的红外光谱与已知塑料的红外光谱进行比较的识别部，保持部将具有切断面的试验片保持在切断面与结晶体相接触的状态，结晶体表面的至少一部分是球面，其被配置成与切断面点接触。
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公开(公告)号：CN1310643A
公开(公告)日：2001-08-29
申请号：CN00801014.5
申请日：2000-05-29
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: B02C13/18 , B03B9/061 , Y02W30/521 , Y02W30/82 , Y02W30/822
Abstract: 一种用于将其上安装有电子元件的印刷电路板轧成数平方厘米至十平方厘米大小的碎片、并从印刷电路板中分离出某些元件和覆皮电线的轧碎装置。该轧碎装置包括:在其旋转中心处安装有大致锥形或截头锥形突出中柱(6)的转子(3),自锥形突柱中柱(6)径向水平延伸的数个延伸部分(3a),在这些延伸部分(3a)上安装有突柱(3和4),用于转动转子(3)的驱动马达(8),其中容设有转子(3)的筒状壳体(1),以及安装在筒状壳体(1)的内侧上的数个突柱(2)。
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