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公开(公告)号:CN104422469B
公开(公告)日:2018-02-13
申请号:CN201410605327.1
申请日:2014-09-03
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01D5/34
CPC classification number: G01D5/34784 , G01D5/34715 , G01D5/34723 , G01D5/34746
Abstract: 一种光电编码器包括:具有基于伪随机数据的绝对图案的绝对标尺、和探测头,该探测头包括向绝对标尺的绝对图案发射光的光源和从绝对图案接收光的光接收单元,并且其检测探测头相对于绝对标尺的绝对位置。在光电编码器中,绝对图案由以重复方式布置的光栅部和暗部组成。光电编码器进一步包括:干涉图案生成装置,其与光栅部组合起来产生干涉图案;以及包括干涉图案信号处理单元,其基于光接收单元接收的干涉图案来检测绝对图案的伪随机数据。
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公开(公告)号:CN106500599A
公开(公告)日:2017-03-15
申请号:CN201610811576.5
申请日:2016-09-08
Applicant: 株式会社三丰
Inventor: 夜久亨
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明涉及一种编码器。标尺包括在测量方向上布置的光栅图案。检测头可以相对于标尺在测量方向上移动,并且输出指示图案的检测结果的电信号。运算单元计算检测头相对于标尺的相对位移。检测头使光照射标尺。光接收单元包括在测量方向上布置的光接收元件阵列、并且将施加至光接收元件阵列的照射光的检测结果作为电信号输出。光学系统通过使用在测量方向上布置的透镜阵列使来自标尺的光在光接收单元的光接收表面上形成干涉条纹。透镜阵列中的邻接透镜之间的透镜阵列间距不等于光栅图案的间距的整数倍。
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公开(公告)号:CN104422469A
公开(公告)日:2015-03-18
申请号:CN201410605327.1
申请日:2014-09-03
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01D5/34
CPC classification number: G01D5/34784 , G01D5/34715 , G01D5/34723 , G01D5/34746
Abstract: 一种光电编码器包括:具有基于伪随机数据的绝对图案的绝对标尺、和探测头,该探测头包括向绝对标尺的绝对图案发射光的光源和从绝对图案接收光的光接收单元,并且其检测探测头相对于绝对标尺的绝对位置。在光电编码器中,绝对图案由以重复方式布置的光栅部和暗部组成。光电编码器进一步包括:干涉图案生成装置,其与光栅部组合起来产生干涉图案;以及包括干涉图案信号处理单元,其基于光接收单元接收的干涉图案来检测绝对图案的伪随机数据。
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公开(公告)号:CN102279009A
公开(公告)日:2011-12-14
申请号:CN201110075828.X
申请日:2011-03-29
Applicant: 株式会社三丰
Inventor: 埃里克.H.阿尔滕多夫 , 长滨龙也 , 水谷都 , 夜久亨
IPC: G01D5/347
CPC classification number: G01D5/34
Abstract: 提供了一种能够在光接收元件中获得足够光量的小型化光学编码器。光学编码器1包括具有标尺轨道2′的标尺2、和读取头3,读取头3具有向标尺轨道2′发送光线的光源31、将从光源31发射的光线透射到标尺轨道2′的标尺侧透镜32、和接收由标尺轨道2′反射通过标尺侧透镜32的光线的光接收元件33。光源31被安排在标尺侧透镜32与光接收元件33之间。光源31的光轴Lsrc在标尺2的读取方向与标尺侧透镜32的光轴Ls重合,而在与标尺2的读取方向垂直的方向与标尺侧透镜32的光轴Ls分开预定距离D。
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公开(公告)号:CN119492400A
公开(公告)日:2025-02-21
申请号:CN202411017466.2
申请日:2024-07-29
Applicant: 株式会社三丰
Inventor: 夜久亨
Abstract: 提供了一种编码器,其可以通过抵消外部噪声的影响来高精度地测量位移。编码器包括转子、定子和计算单元。定子具有读取刻度并输出信号的偶数个检测器。计算单元具有相位计算单元和平均单元,相位计算单元基于由检测器输出的信号来计算相位,平均单元对由相位计算单元计算出的相位进行平均。偶数个检测器各自位于沿着测量方向从其他相邻检测器位移了刻度的周期的整数倍的位置处。由一半检测器输出的第一信号和由另一半检测器输出的第二信号在相位计算单元的输入处具有相反的极性。
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公开(公告)号:CN111427137A
公开(公告)日:2020-07-17
申请号:CN202010275486.5
申请日:2016-05-23
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G02B13/22
Abstract: 提供能够抑制部件数量的增加并且能够实现高精度光轴对准的远心光学装置。本发明的远心光学装置的特征在于其设置有:第一远心透镜面,其设置在物体侧;第二远心透镜面,其设置在像侧并且与所述第一远心透镜面共用焦点位置;和光路变更部,其在所述第一远心透镜面和所述第二远心透镜面之间设置在位于中心定位在所述焦点位置的光通过区域的外侧的外侧区域,所述光路变更部改变光路,从而防止入射至所述外侧区域的光束用于成像。
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公开(公告)号:CN106500599B
公开(公告)日:2020-07-17
申请号:CN201610811576.5
申请日:2016-09-08
Applicant: 株式会社三丰
Inventor: 夜久亨
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明涉及一种编码器。标尺包括在测量方向上布置的光栅图案。检测头可以相对于标尺在测量方向上移动,并且输出指示图案的检测结果的电信号。运算单元计算检测头相对于标尺的相对位移。检测头使光照射标尺。光接收单元包括在测量方向上布置的光接收元件阵列、并且将施加至光接收元件阵列的照射光的检测结果作为电信号输出。光学系统通过使用在测量方向上布置的透镜阵列使来自标尺的光在光接收单元的光接收表面上形成干涉条纹。透镜阵列中的邻接透镜之间的透镜阵列间距不等于光栅图案的间距的整数倍。
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公开(公告)号:CN103208484B
公开(公告)日:2017-11-24
申请号:CN201310013792.1
申请日:2013-01-15
Applicant: 株式会社三丰
IPC: H01L23/544 , H01L21/58 , H01L21/60
CPC classification number: H01L23/544 , H01L23/49838 , H01L24/83 , H01L2223/5442 , H01L2223/54426 , H01L2223/54486 , H01L2224/04042 , H01L2224/06135 , H01L2224/26165 , H01L2224/26175 , H01L2224/2919 , H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/73265 , H01L2224/83 , H01L2224/8314 , H01L2224/83191 , H01L2224/83192 , H01L2224/92247 , H01L2924/12043 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2924/00014 , H01L2224/32245 , H01L2224/48247
Abstract: 本发明公开了一种半导体封装,包括:半导体器件和基板,所述半导体器件在外周边上包括直线部分,并且所述基板支撑所述半导体器件。箔片定位图案形成于基板的前表面上,所述定位图案接触半导体器件的直线部分,以调节所述半导体器件的位置。
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公开(公告)号:CN107228685A
公开(公告)日:2017-10-03
申请号:CN201710184143.6
申请日:2017-03-24
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01D5/3473 , G01D5/34746 , G01D5/34776 , G01D5/347 , G01D5/30
Abstract: 本发明涉及一种光电编码器。标尺沿长度测量方向设置有按照伪随机码序列的2级代码图案。所述2级代码图案中的各个代码表示代码“1”或“0”,各个代码包括2位,并且2位中的各个位是L或H。通过作为L和H的组合的A图案来表现代码“1”,并且通过作为L和L的组合的B图案或者通过作为H和H的组合的C图案来表现代码“0”。当代码“0”连续时,交替使用B图案和C图案。该标尺通用于反射型编码器或者透过型编码器。检测头部包括根据需要对所述标尺的检测图像进行反转处理的反转处理单元。
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公开(公告)号:CN102207396A
公开(公告)日:2011-10-05
申请号:CN201110076078.8
申请日:2011-03-29
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01D5/34
CPC classification number: G01D5/34715
Abstract: 本发明提供了一种能够在光接收元件中获得足够量的光的小型化光学编码器。光学编码器包括标尺和读取头。标尺具有标尺刻度线。读取头具有向标尺发射光的光源、将从光源发射的光透射到标尺的标尺侧透镜以及接收已被标尺反射并已穿过标尺侧透镜的光的光接收元件。光源布置在标尺侧透镜与光接收元件之间,并且光源与标尺侧透镜之间的距离被设置为标尺侧透镜的焦距。光源的光轴在标尺刻度线的读取方向上与标尺侧透镜的光轴一致,而在与标尺刻度线的读取方向垂直的方向上与该标尺侧透镜的光轴分离预定的距离。
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