公开(公告)号：CN118794392A

公开(公告)日：2024-10-18

申请号：CN202410438234.8

申请日：2024-04-12

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 佐佐木诚治 ,  日高和彦 ,  酒井大辅

IPC: G01B21/14

Abstract: 本发明提供了可以使测量自动化的自动测量系统和用于自动测量的控制方法。自动测量系统包括：测量传感器工具，其利用探头检测待测量物体的表面以测量待测量物体的尺寸或形状；多轴移动机构，其相对于待测量物体相对地移动测量传感器工具。测量传感器工具包括用于保护探头的盖部。在移动机构使测量传感器工具接近待测量物体的待测量点的接近步骤中，盖部将探头收纳在盖部内。在接近步骤完成之后，探头从盖部露出以检测待测量物体的表面。

公开(公告)号：CN118794391A

公开(公告)日：2024-10-18

申请号：CN202410438232.9

申请日：2024-04-12

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 酒井大辅 ,  佐佐木诚治 ,  上田邦男

IPC: G01B21/14

Abstract: 本发明涉及自动测量系统和用于自动测量系统的控制方法。自动测量系统包括：测量传感器工具，其检测待测量物体的表面以测量待测量物体的尺寸或形状；移动机构，其相对于待测量物体相对地移动测量传感器工具；和观察相机，其对待测量物体进行成像。从通过观察相机对待测量物体进行成像而得到的图像数据中获取待测量点的位置和取向、姿态，在考虑观察相机与测量传感器工具之间的位置和姿态的偏离量的情况下，通过移动机构使测量传感器工具接近待测量点，并通过测量传感器工具获取待测量点的测量值。