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公开(公告)号:CN118794391A
公开(公告)日:2024-10-18
申请号:CN202410438232.9
申请日:2024-04-12
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/14
Abstract: 本发明涉及自动测量系统和用于自动测量系统的控制方法。自动测量系统包括:测量传感器工具,其检测待测量物体的表面以测量待测量物体的尺寸或形状;移动机构,其相对于待测量物体相对地移动测量传感器工具;和观察相机,其对待测量物体进行成像。从通过观察相机对待测量物体进行成像而得到的图像数据中获取待测量点的位置和取向、姿态,在考虑观察相机与测量传感器工具之间的位置和姿态的偏离量的情况下,通过移动机构使测量传感器工具接近待测量点,并通过测量传感器工具获取待测量点的测量值。