曝光装置及曝光方法、以及元件制造方法

    公开(公告)号:CN104919371A

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:CN201280078120.2

    申请日:2012-12-28

    Inventor: 依田安史

    Abstract: 一种曝光装置,具备两个载台(WST1、WST2),能彼此独立地移动,且具有于载置园片(wafer)(W)的面下方的位置分别设有光栅(RG)的台(WTB);以及测量载台(MST),其能与两个载台独立地移动,并且根据通过光学系统接收的能量束的受光结果进行与曝光相关联的测量。在曝光站(200)及测量站(300)中,分别设有第1、第2测量系统,通过对载台的光栅从下方照射测量光束,测量载台所具有的台的位置。

    维修方法、曝光方法及装置、以及元件制造方法

    公开(公告)号:CN101390194A

    公开(公告)日:2009-03-18

    申请号:CN200780006184.0

    申请日:2007-06-28

    Inventor: 依田安史

    CPC classification number: G03F7/70716 G03F7/70341 G03F7/70925 G03F7/70975

    Abstract: 一种能有效率地进行使用液浸法进行曝光的曝光装置的维修的维修方法。曝光装置透过投影光学系统(PL)与液浸区域(AR2)的液体(1)以曝光用光使该基板曝光,其包含:与形成液浸区域(AR2)的嘴构件(30)对向配置测量台(MTB)的移动步骤,使用嘴构件(30)对测量台(MTB)上供应液体(1)、将此供应的液体蓄积至圆筒部(91)内的蓄积步骤,以及朝向含以液浸法进行曝光时与有可能与液体(1)接触的液体接触部的至少部分区域、将以该蓄积步骤蓄积的液体(1)从喷射嘴部(90)喷出的洗净步骤。

    维修方法、曝光方法及装置、以及元件制造方法

    公开(公告)号:CN101390194B

    公开(公告)日:2011-04-20

    申请号:CN200780006184.0

    申请日:2007-06-28

    Inventor: 依田安史

    CPC classification number: G03F7/70716 G03F7/70341 G03F7/70925 G03F7/70975

    Abstract: 一种能有效率地进行使用液浸法进行曝光的曝光装置的维修的维修方法。曝光装置透过投影光学系统(PL)与液浸区域(AR2)的液体(1)以曝光用光使该基板曝光,其包含:与形成液浸区域(AR2)的嘴构件(30)对向配置测量台(MTB)的移动步骤,使用嘴构件(30)对测量台(MTB)上供应液体(1)、将此供应的液体蓄积至圆筒部(91)内的蓄积步骤,以及朝向含以液浸法进行曝光时与有可能与液体(1)接触的液体接触部的至少部分区域、将以该蓄积步骤蓄积的液体(1)从喷射嘴部(90)喷出的洗净步骤。

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