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公开(公告)号：CN100530287C
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200610093699.6
申请日：2006-06-13
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G09G3/006 , G09G2300/0842 , G09G2310/0248 , G09G2310/0275
Abstract: 一种缺陷像素检查方法，包含步骤：对多个像素部分中第一像素部分的电容性元件以及第二像素部分的电容性元件施加不同的电压；导通设于第一像素部分内像素晶体管的输入电极与第二像素部分内像素晶体管的输入电极之间的开关，并将第一像素晶体管的输入电极与第二像素晶体管的输入电极短路；读取第一像素部分的电容性元件的电压以及第二像素部分的电容性元件的电压；以及基于第一像素部分的电容性元件的电压与第二像素部分的电容性元件的电压之间的比较结果而检测像素部分的缺陷。
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公开(公告)号：CN101089712B
公开(公告)日：2010-11-10
申请号：CN200710110777.3
申请日：2007-06-13
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G02F1/1362 , G01R31/00 , G09G3/00
CPC classification number: G09G3/006 , G09G3/3611 , G09G2320/0295
Abstract: 本发明公开了一种液晶显示装置，其包括像素阵列部分、第一数据线、第二数据线、写单元、电压供给控制单元、数据线短路单元、读出单元，以及测试单元。
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公开(公告)号：CN101089712A
公开(公告)日：2007-12-19
申请号：CN200710110777.3
申请日：2007-06-13
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G02F1/1362 , G02F1/13
CPC classification number: G09G3/006 , G09G3/3611 , G09G2320/0295
Abstract: 本发明公开了一种液晶显示装置，其包括像素阵列部分、第一数据线、第二数据线、写单元、电压供给控制单元、数据线短路单元、读出单元，以及测试单元。
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公开(公告)号：CN1881389A
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN200610093699.6
申请日：2006-06-13
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G09G3/006 , G09G2300/0842 , G09G2310/0248 , G09G2310/0275
Abstract: 一种缺陷像素检查方法，包含步骤：对多个像素部分中第一像素部分的电容性元件以及第二像素部分的电容性元件施加不同的电压；导通设于第一像素部分内像素晶体管的输入电极与第二像素部分内像素晶体管的输入电极之间的开关，并将第一像素晶体管的输入电极与第二像素晶体管的输入电极短路；读取第一像素部分的电容性元件的电压以及第二像素部分的电容性元件的电压；以及基于第一像素部分的电容性元件的电压与第二像素部分的电容性元件的电压之间的比较结果而检测像素部分的缺陷。
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