公开(公告)号：CN101089712A

公开(公告)日：2007-12-19

申请号：CN200710110777.3

申请日：2007-06-13

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 川浦英明 ,  清水目和年 ,  安藤直树 ,  宫泽一幸 ,  平野胜久 ,  堀口则昭 ,  秋元修

IPC: G02F1/1362 ,  G02F1/13

CPC classification number: G09G3/006 ,  G09G3/3611 ,  G09G2320/0295

Abstract: 本发明公开了一种液晶显示装置，其包括像素阵列部分、第一数据线、第二数据线、写单元、电压供给控制单元、数据线短路单元、读出单元，以及测试单元。

公开(公告)号：CN1881389A

公开(公告)日：2006-12-20

申请号：CN200610093699.6

申请日：2006-06-13

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 清水目和年 ,  宫泽一幸 ,  古贺慎一

IPC: G09G3/00 ,  G02F1/13 ,  G01R31/00 ,  G01M11/00

CPC classification number: G09G3/006 ,  G09G2300/0842 ,  G09G2310/0248 ,  G09G2310/0275

Abstract: 一种缺陷像素检查方法，包含步骤：对多个像素部分中第一像素部分的电容性元件以及第二像素部分的电容性元件施加不同的电压；导通设于第一像素部分内像素晶体管的输入电极与第二像素部分内像素晶体管的输入电极之间的开关，并将第一像素晶体管的输入电极与第二像素晶体管的输入电极短路；读取第一像素部分的电容性元件的电压以及第二像素部分的电容性元件的电压；以及基于第一像素部分的电容性元件的电压与第二像素部分的电容性元件的电压之间的比较结果而检测像素部分的缺陷。

公开(公告)号：CN101154654A

公开(公告)日：2008-04-02

申请号：CN200710142757.4

申请日：2007-08-23

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 清水目和年 ,  山田隆章

IPC: H01L25/00 ,  H01L23/48 ,  H01L23/52 ,  H01L23/544 ,  H01L27/02 ,  H01L21/66 ,  G01R31/28 ,  G01R31/02

CPC classification number: G01R31/31855 ,  G01R31/318513

Abstract: 本发明的半导体器件、半导体集成电路及凸点电阻测定方法可容易高精度并低成本地测定将芯片间连接的内部凸点的连接电阻。半导体器件包括主芯片(2)和副芯片(3)，副芯片(3)通过主凸点(Ba，Bb，…)和测定/控制输入凸点(B1～B4)与主芯片(2)连接，上述两个芯片分别包括：每个主凸点的多个电压路径开关(T12a，T12b，…或T13a，T13b，…)；主凸点和测定路径开关的各个连接点(Na2，Nb2，…或Na3，Nb3，…)上所连接的多个电流路径开关(T22a，T22b，…或T23a，T23b，…)；以及控制电路(移位寄存器42或43)，主芯片(2)还包括：用于控制输入、供给固定电流以及电压测定的多个测定/控制端子(Ta～Tf)。

公开(公告)号：CN101154654B

公开(公告)日：2010-09-08

申请号：CN200710142757.4

申请日：2007-08-23

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 清水目和年 ,  山田隆章

IPC: H01L25/00 ,  H01L23/48 ,  H01L23/52 ,  H01L23/544 ,  H01L27/02 ,  H01L21/66 ,  G01R31/28 ,  G01R31/02

CPC classification number: G01R31/31855 ,  G01R31/318513

Abstract: 可容易高精度并低成本地测定将芯片间连接的内部凸点的连接电阻。半导体器件包括主芯片(2)和副芯片(3)，副芯片(3)通过主凸点(Ba，Bb，...)和测定或控制输入凸点(B1～B4)与主芯片(2)连接，上述两个芯片分别包括：每个主凸点的多个电压路径开关(T12a，T12b，...或T13a，T13b，...)；主凸点和测定路径开关的各个连接点(Na2，Nb2，...或Na3，Nb3，...)上所连接的多个电流路径开关(T22a，T22b，...或T23a，T23b，...)；以及控制电路(移位寄存器42或43)，主芯片(2)还包括：用于控制输入、供给固定电流以及电压测定的多个测定或控制端子(Ta～Tf)。

公开(公告)号：CN100530287C

公开(公告)日：2009-08-19

申请号：CN200610093699.6

申请日：2006-06-13

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 清水目和年 ,  宫泽一幸 ,  古贺慎一

IPC: G09G3/00 ,  G02F1/13 ,  G01R31/00 ,  G01M11/00

CPC classification number: G09G3/006 ,  G09G2300/0842 ,  G09G2310/0248 ,  G09G2310/0275

Abstract: 一种缺陷像素检查方法，包含步骤：对多个像素部分中第一像素部分的电容性元件以及第二像素部分的电容性元件施加不同的电压；导通设于第一像素部分内像素晶体管的输入电极与第二像素部分内像素晶体管的输入电极之间的开关，并将第一像素晶体管的输入电极与第二像素晶体管的输入电极短路；读取第一像素部分的电容性元件的电压以及第二像素部分的电容性元件的电压；以及基于第一像素部分的电容性元件的电压与第二像素部分的电容性元件的电压之间的比较结果而检测像素部分的缺陷。

公开(公告)号：CN101089712B

公开(公告)日：2010-11-10

申请号：CN200710110777.3

申请日：2007-06-13

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 川浦英明 ,  清水目和年 ,  安藤直树 ,  宫泽一幸 ,  平野胜久 ,  堀口则昭 ,  秋元修

IPC: G02F1/1362 ,  G01R31/00 ,  G09G3/00

CPC classification number: G09G3/006 ,  G09G3/3611 ,  G09G2320/0295

Abstract: 本发明公开了一种液晶显示装置，其包括像素阵列部分、第一数据线、第二数据线、写单元、电压供给控制单元、数据线短路单元、读出单元，以及测试单元。

公开(公告)号：CN1847869A

公开(公告)日：2006-10-18

申请号：CN200610073646.8

申请日：2006-04-13

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 清水目和年 ,  沟口弘明

IPC: G01R31/28 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2812 ,  G01R31/046 ,  G01R31/31717

Abstract: 一种包括输入端和连接到该输入端的输入电路的半导体集成电路包括如下组件。测试电路被提供在输入端和输入电路之间，并且改变输入端和预定电势之间的电阻值。测试端被用来操作测试电路。