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公开(公告)号：CN108078580B
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN201611020809.6
申请日：2016-11-21
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 吴明烨 , 金燕南 , 布莱恩·爱德华·内特 , 杰德·道格拉斯·帕克
Abstract: 本发明公开了一种放射成像方法，包括以下步骤，通过辐射源放射波束到物体上；通过探测器检测穿过所述物体的所述波束，并输出投射数据；获得无物体时的散射强度；获得有物体时的散射透射率；基于无物体时的所述散射强度和有物体时的所述散射透射率，计算有物体时的所述散射强度；基于有物体时的所述散射强度校正所述投射数据；及使用所述经校正的投射数据生成图像。
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公开(公告)号：CN104706371B
公开(公告)日：2017-11-07
申请号：CN201310686675.1
申请日：2013-12-13
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明涉及成像方法及成像系统。该成像方法包括以下步骤：通过射线源向探测对象发射若干条射线；通过一个或多个探测器模组产生响应穿过所述探测对象的所述射线的电信号，所述探测器模组包括至少一个探测器单元，至少部分所述射线斜入射至所述探测器单元；确定射向每一所述探测器的若干条所述射线的有效路径；及根据所述电信号和所述有效路径形成图像。本发明还涉及一种成像系统。通过该成像方法和系统形成的图像的质量较高，图像中无伪影。
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公开(公告)号：CN110047114B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN201910040575.9
申请日：2019-01-16
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 金燕南 , 范家华 , 吴明烨 , 陈峰 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
IPC: G06T11/00
Abstract: 本发明方法涉及在计算机断层扫描背景下避免方位角模糊，诸如在具有快速kV切换的双能量成像中。根据某些方面，在每个对应视图内，焦斑位置在患者坐标系中保持静止，并且对所述视图内的检测器信号进行相加。在一个实施例中，这产生了从患者坐标系内的同一位置处收集的信号内的低能量视图和高能量视图。
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公开(公告)号：CN108065950B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201611001451.2
申请日：2016-11-14
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 吴明烨 , 金燕南 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·迪曼 , 杰德·道格拉斯·派克
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明公开了一种放射成像方法，包括以下步骤，通过辐射源发射波束到物体上；通过探测器检测穿过所述物体的所述波束，并输出投影数据；确定所述物体沿着所述波束的位置；基于所述物体的所述位置确定卷积核；根据所述卷积核估算散射分布；基于所述散射分布校正所述的投影数据；及使用所述经校正的投影数据生成图像。所述散射分布能够更准确地估算并生能生成更清晰的图像。
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公开(公告)号：CN107019518B
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201610071120.X
申请日：2016-02-01
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 芮雪 , 吴明烨 , 金燕南 , 彼得·迈克尔·埃迪克 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
Abstract: 本发明公开了信号处理方法，其包括探测穿过包括多种材料的物体的X射线的总强度；获得多种材料的基础材料信息以及物体的光电吸收基础成分和康普顿散射基础成分的基础成分信息中的至少一组基础信息；根据至少一组基础信息和探测到的总强度来估算探测到的X射线的散射强度分量；及根据探测到的总强度和估算出的散射强度分量来获得入射到探测器上的初级X射线的强度估算值。本发明还公开了使用上述信号处理方法的成像系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108078580A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201611020809.6
申请日：2016-11-21
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 吴明烨 , 金燕南 , 布莱恩·爱德华·内特 , 杰德·道格拉斯·帕克
Abstract: 本发明公开了一种放射成像方法，包括以下步骤，通过辐射源放射波束到物体上；通过探测器检测穿过所述物体的所述波束，并输出投射数据；获得无物体时的散射强度；获得有物体时的散射透射率；基于无物体时的所述散射强度和有物体时的所述散射透射率，计算有物体时的所述散射强度；基于有物体时的所述散射强度校正所述投射数据；及使用所述经校正的投射数据生成图像。
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公开(公告)号：CN107019518A
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201610071120.X
申请日：2016-02-01
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 芮雪 , 吴明烨 , 金燕南 , 彼得·迈克尔·埃迪克 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
Abstract: 本发明公开了信号处理方法，其包括探测穿过包括多种材料的物体的X射线的总强度；获得多种材料的基础材料信息以及物体的光电吸收基础成分和康普顿散射基础成分的基础成分信息中的至少一组基础信息；根据至少一组基础信息和探测到的总强度来估算探测到的X射线的散射强度分量；及根据探测到的总强度和估算出的散射强度分量来获得入射到探测器上的初级X射线的强度估算值。本发明还公开了使用上述信号处理方法的成像系统。
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公开(公告)号：CN104665859A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201310628197.9
申请日：2013-11-29
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明涉及一种成像系统。该成像系统包括：X-射线源，用来发射X-射线束；检测器阵列，包括若干检测器，所述检测器产生响应斜入射至所述检测器的X-射线束的初始信号，所述初始信号包括响应入射至相邻所述检测器的X-射线束的视差串扰信号；及修正模块，连接于所述检测器阵列，且用来修正来自相邻检测器的视差串扰信号产生修正信号。该成像系统对视差串扰信号进行修正来提高图像的质量。
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公开(公告)号：CN111323437B
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN201911299957.X
申请日：2019-12-16
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 布莱恩·大卫·亚诺夫 , 吴明烨 , 付林 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 芮雪 , 付赓 , 金燕南 , 弗雷德里克·格伦伯格
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明题为“用于统计迭代重建和材料分解的系统和方法”。本发明提供了一种用于对要重建的对象进行成像的方法，该方法包括采集对应于对象的投影数据。此外，该方法包括基于所采集的投影数据来生成测量正弦图以及制定前向模型，其中该前向模型表示成像系统的特性。另外，该方法包括基于对象的估计图像和前向模型来生成估计正弦图以及基于成像系统的检测器的堆积特性和死区时间特性中的至少一者来制定统计模型。此外，该方法包括基于统计模型、测量正弦图和估计正弦图来确定对应于估计图像的更新以及基于所确定的更新来更新估计图像以生成对象的更新图像。另外，该方法包括输出对象的最终图像。
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公开(公告)号：CN112971816A
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN202011248037.8
申请日：2020-11-10
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 比朱·雅各布 , 吴明烨 , 马克·艾伦·阿达马克
IPC: A61B6/00
Abstract: 本发明题为“用于焦点运动检测和校正的系统和方法”。本发明所公开的技术可用于在扫描过程期间检测和校正由X射线焦点未对准引起的通道增益误差。本发明相对于常规技术的一个有益效果是不需要附加硬件来检测焦点漂移。相反，每个刀片的静态未对准被考虑作为估计和校正X射线焦点漂移或未对准的一部分。这样，减少了由于焦点运动引起的图像伪影的风险，并且避免了对检测焦点运动的昂贵硬件解决方案的需要。
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