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公开(公告)号：CN110047114B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN201910040575.9
申请日：2019-01-16
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 金燕南 , 范家华 , 吴明烨 , 陈峰 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
IPC: G06T11/00
Abstract: 本发明方法涉及在计算机断层扫描背景下避免方位角模糊，诸如在具有快速kV切换的双能量成像中。根据某些方面，在每个对应视图内，焦斑位置在患者坐标系中保持静止，并且对所述视图内的检测器信号进行相加。在一个实施例中，这产生了从患者坐标系内的同一位置处收集的信号内的低能量视图和高能量视图。
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公开(公告)号：CN108065950B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201611001451.2
申请日：2016-11-14
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 吴明烨 , 金燕南 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·迪曼 , 杰德·道格拉斯·派克
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明公开了一种放射成像方法，包括以下步骤，通过辐射源发射波束到物体上；通过探测器检测穿过所述物体的所述波束，并输出投影数据；确定所述物体沿着所述波束的位置；基于所述物体的所述位置确定卷积核；根据所述卷积核估算散射分布；基于所述散射分布校正所述的投影数据；及使用所述经校正的投影数据生成图像。所述散射分布能够更准确地估算并生能生成更清晰的图像。
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公开(公告)号：CN107019518B
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201610071120.X
申请日：2016-02-01
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 芮雪 , 吴明烨 , 金燕南 , 彼得·迈克尔·埃迪克 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
Abstract: 本发明公开了信号处理方法，其包括探测穿过包括多种材料的物体的X射线的总强度；获得多种材料的基础材料信息以及物体的光电吸收基础成分和康普顿散射基础成分的基础成分信息中的至少一组基础信息；根据至少一组基础信息和探测到的总强度来估算探测到的X射线的散射强度分量；及根据探测到的总强度和估算出的散射强度分量来获得入射到探测器上的初级X射线的强度估算值。本发明还公开了使用上述信号处理方法的成像系统。
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公开(公告)号：CN110678125A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201880013363.5
申请日：2018-01-05
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 金燕南 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 芮雪 , 付赓
Abstract: 本方法涉及基于硅的能量鉴别光子计数检测器的用途，诸如用于包括计算机断层摄影的基于X射线的成像。所描述的方法解决了受康普顿散射影响的X射线光子的分辨和分类，所述X射线光子可以被检测为由于碰撞或偏转事件而具有低于其本身级别的能级。
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公开(公告)号：CN110520760A
公开(公告)日：2019-11-29
申请号：CN201880015284.8
申请日：2018-01-11
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 付赓 , 芮雪 , 金燕南 , 郭建军 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 布莱恩·大卫·亚诺夫
IPC: G01T1/24
Abstract: 本方法涉及使用在检测器面板的主像素之间提供的参考像素。可以采用符合电路或逻辑，使得由同一X射线事件产生的测量信号可以在检测器面板上的适当位置处正确地，即，在参考像素和主像素两者处测量的信号可以被组合，以便提供所述测量信号的准确估计。
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公开(公告)号：CN110462442A
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201780084251.4
申请日：2017-12-05
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 付赓 , 金燕南 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 陈锋
Abstract: 本方法涉及使用诸如基于CZT或CdTe的检测器的能量分辨光子计数检测器以获取通过常规能量积分检测器不可用的光谱信息。在某些实施方案中，所讨论的本方法减少或消除了采用重合逻辑和具有短整形时间的整形放大器的设计中的由相邻像素中的瞬态信号引起的光谱污染。
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公开(公告)号：CN108078580A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201611020809.6
申请日：2016-11-21
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 吴明烨 , 金燕南 , 布莱恩·爱德华·内特 , 杰德·道格拉斯·帕克
Abstract: 本发明公开了一种放射成像方法，包括以下步骤，通过辐射源放射波束到物体上；通过探测器检测穿过所述物体的所述波束，并输出投射数据；获得无物体时的散射强度；获得有物体时的散射透射率；基于无物体时的所述散射强度和有物体时的所述散射透射率，计算有物体时的所述散射强度；基于有物体时的所述散射强度校正所述投射数据；及使用所述经校正的投射数据生成图像。
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公开(公告)号：CN107019518A
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201610071120.X
申请日：2016-02-01
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 芮雪 , 吴明烨 , 金燕南 , 彼得·迈克尔·埃迪克 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
Abstract: 本发明公开了信号处理方法，其包括探测穿过包括多种材料的物体的X射线的总强度；获得多种材料的基础材料信息以及物体的光电吸收基础成分和康普顿散射基础成分的基础成分信息中的至少一组基础信息；根据至少一组基础信息和探测到的总强度来估算探测到的X射线的散射强度分量；及根据探测到的总强度和估算出的散射强度分量来获得入射到探测器上的初级X射线的强度估算值。本发明还公开了使用上述信号处理方法的成像系统。
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公开(公告)号：CN110678125B
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN201880013363.5
申请日：2018-01-05
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 金燕南 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 芮雪 , 付赓
Abstract: 本方法涉及基于硅的能量鉴别光子计数检测器的用途，诸如用于包括计算机断层摄影的基于X射线的成像。所描述的方法解决了受康普顿散射影响的X射线光子的分辨和分类，所述X射线光子可以被检测为由于碰撞或偏转事件而具有低于其本身级别的能级。
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公开(公告)号：CN109788926B
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN201780058188.7
申请日：2017-09-12
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本文阐述了一种方法，该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描，其中，一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量；并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中，CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像，例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型，使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。
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