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公开(公告)号：CN110678125A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201880013363.5
申请日：2018-01-05
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 金燕南 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 芮雪 , 付赓
Abstract: 本方法涉及基于硅的能量鉴别光子计数检测器的用途，诸如用于包括计算机断层摄影的基于X射线的成像。所描述的方法解决了受康普顿散射影响的X射线光子的分辨和分类，所述X射线光子可以被检测为由于碰撞或偏转事件而具有低于其本身级别的能级。
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公开(公告)号：CN110520760A
公开(公告)日：2019-11-29
申请号：CN201880015284.8
申请日：2018-01-11
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 付赓 , 芮雪 , 金燕南 , 郭建军 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 布莱恩·大卫·亚诺夫
IPC: G01T1/24
Abstract: 本方法涉及使用在检测器面板的主像素之间提供的参考像素。可以采用符合电路或逻辑，使得由同一X射线事件产生的测量信号可以在检测器面板上的适当位置处正确地，即，在参考像素和主像素两者处测量的信号可以被组合，以便提供所述测量信号的准确估计。
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公开(公告)号：CN110462442A
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201780084251.4
申请日：2017-12-05
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 付赓 , 金燕南 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 陈锋
Abstract: 本方法涉及使用诸如基于CZT或CdTe的检测器的能量分辨光子计数检测器以获取通过常规能量积分检测器不可用的光谱信息。在某些实施方案中，所讨论的本方法减少或消除了采用重合逻辑和具有短整形时间的整形放大器的设计中的由相邻像素中的瞬态信号引起的光谱污染。
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公开(公告)号：CN110891489B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN201880029775.8
申请日：2018-05-07
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 芮雪 , 付赓 , 金燕南 , 郭建军 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 布莱恩·大卫·亚诺夫
Abstract: 本方法涉及定位在防散射准直器的隔膜下的检测器元件(即，参考检测器像素)的使用。由参考检测器像素检测到的信号可用于更正与相邻像素的电荷共享事件以及/或者实时地或作为校准步骤来表征或更正焦点失准。
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公开(公告)号：CN109788926A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201780058188.7
申请日：2017-09-12
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本文阐述了一种方法，该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描，其中，一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量；并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中，CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像，例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型，使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN108387922A
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201810109029.1
申请日：2018-02-02
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01T1/202
CPC classification number: G01T1/2018 , G01T1/208
Abstract: 基于硅光电倍增管(SiPM)的检测系统包括多个闪烁体、SiPM、前端电路、调整电路、以及能量和位置处理单元。SiPM具有对与辐射检测相对应的能量沉积的非线性响应。调整电路被配置成接收来自SiPM的模拟信号，并提供经调整的模拟信号，该经调整的模拟信号被配置成模拟对应于线性响应的信号。能量和位置处理单元利用经调整的信号来提供检在测器块中检测到的事件的能量和位置信息。
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公开(公告)号：CN108242068A
公开(公告)日：2018-07-03
申请号：CN201711415156.6
申请日：2017-12-22
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/5282 , A61B6/032 , A61B6/037 , A61B6/4417 , A61B6/488 , A61B6/5205 , A61B6/5235 , A61B6/545 , G06T11/005 , G06T7/11 , G06T7/12 , G06T7/136 , G06T2207/10104 , G06T2211/416
Abstract: 提供了用于医学成像系统的方法和系统。在一个实施例中，一种方法包括基于源自扫描仪的视场(FOV)之外的解剖结构的估计的放射活度来估计发射数据中的外部散射污染，所述解剖结构基于对成像系统中生成的图像执行的图像分割分析来识别，所述图像在获取发射数据之前生成。这样，应用于发射数据的散射校正可以包括源于FOV内和FOV外的散射，因此可以更准确。
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公开(公告)号：CN108242068B
公开(公告)日：2023-07-25
申请号：CN201711415156.6
申请日：2017-12-22
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本申请涉及用于成像系统的方法和CT/PET系统。在一个实施例中，一种方法包括基于源自扫描仪的视场(FOV)之外的解剖结构的估计的放射活度来估计发射数据中的外部散射污染，所述解剖结构基于对成像系统中生成的图像执行的图像分割分析来识别，所述图像在获取发射数据之前生成。这样，应用于发射数据的散射校正可以包括源于FOV内和FOV外的散射，因此可以更准确。
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公开(公告)号：CN110462442B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN201780084251.4
申请日：2017-12-05
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 付赓 , 金燕南 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 陈锋
Abstract: 本方法涉及使用诸如基于CZT或CdTe的检测器的能量分辨光子计数检测器以获取通过常规能量积分检测器不可用的光谱信息。在某些实施方案中，所讨论的本方法减少或消除了采用重合逻辑和具有短整形时间的整形放大器的设计中的由相邻像素中的瞬态信号引起的光谱污染。
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