公开(公告)号：CN102838992A

公开(公告)日：2012-12-26

申请号：CN201210316549.2

申请日：2008-01-24

Applicant: 通用电气公司

Inventor： S.P.M.卢雷罗 ,  J.S.瓦图利 ,  B.A.克罗蒂尔 ,  S.J.杜克洛斯 ,  M.马诺哈兰 ,  P.R.L.马伦范特 ,  V.S.文卡塔拉马尼 ,  C.比诺 ,  A.斯里瓦斯塔瓦 ,  S.J.斯托克洛萨

IPC: C09K11/85 ,  C09K11/61 ,  B82Y30/00 ,  B82Y20/00

CPC classification number: C09K11/7774 ,  A61B6/037 ,  B82Y30/00 ,  C01B13/328 ,  C01F17/0012 ,  C01F17/0093 ,  C01P2004/64 ,  C09K11/02 ,  C09K11/681 ,  C09K11/684 ,  C09K11/745 ,  C09K11/7771 ,  C09K11/7772 ,  C09K11/7777 ,  C09K11/7792 ,  G01T1/20 ,  G01T1/202

Abstract: 提供包括嵌在塑料基质中的闪烁化合物纳米尺寸颗粒的闪烁检测器。所述纳米尺寸颗粒可以由金属氧化物、金属卤氧化物、金属硫氧化物或金属卤化物制成。提供了制备所述纳米尺寸颗粒的方法。所述颗粒在结合到所述塑料基质中之前可被涂以有机化合物或聚合物。还提供通过引入二氧化钛纳米尺寸颗粒来使塑料基质的折射率与所述纳米尺寸颗粒相匹配的方法。可将所述闪烁体与一或多个光电检测器联接以形成闪烁检测系统。所述闪烁检测系统可适用于X射线和辐射成像装置如数字X射线成像、乳房造影术、CT、PET或SPECT，或者可用于辐射安全检测器或地下辐射探测器。

公开(公告)号：CN107076871B

公开(公告)日：2020-01-17

申请号：CN201580058721.0

申请日：2015-08-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E.伯肯 ,  J.S.普赖斯 ,  E.J.尼特斯 ,  W.R.罗斯 ,  C.比诺 ,  Y.A.普罗特尼科夫 ,  S.M.李

IPC: G01V5/14

Abstract: 一种井完整性检查系统(100)，配置成检查包括多个同心层的井结构(102)。井完整性检查系统(100)包括定位于井结构(102)中的检查探头(104)。检查探头(104)包括用于将多个辐射发射(134、164)传输至井结构(102)中的多个激励组件(132、162)。多个激励组件(132、162)包括至少中子激励组件(132)和X射线激励组件(162)。检查探头(104)还包括多个探测组件(136、166)，其配置成从井结构接收多个背向散射辐射回波(138、168)。多个探测组件(136、166)包括至少中子探测组件(136)和X射线探测组件(166)。井完整性检查系统(100)还包括可操作地联接至检查探头(104)的处理器(190)。处理器(190)配置成基于多个背向散射辐射回波(138、168)中的至少一个来确定井结构(102)的井完整性参数。

公开(公告)号：CN107076871A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201580058721.0

申请日：2015-08-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E.伯肯 ,  J.S.普赖斯 ,  E.J.尼特斯 ,  W.R.罗斯 ,  C.比诺 ,  Y.A.普罗特尼科夫 ,  S.M.李

IPC: G01V5/14

Abstract: 一种井完整性检查系统(100)，配置成检查包括多个同心层的井结构(102)。井完整性检查系统(100)包括定位于井结构(102)中的检查探头(104)。检查探头(104)包括用于将多个辐射发射(134、164)传输至井结构(102)中的多个激励组件(132、162)。多个激励组件(132、162)包括至少中子激励组件(132)和X射线激励组件(162)。检查探头(104)还包括多个探测组件(136、166)，其配置成从井结构接收多个背向散射辐射回波(138、168)。多个探测组件(136、166)包括至少中子探测组件(136)和X射线探测组件(166)。井完整性检查系统(100)还包括可操作地联接至检查探头(104)的处理器(190)。处理器(190)配置成基于多个背向散射辐射回波(138、168)中的至少一个来确定井结构(102)的井完整性参数。

公开(公告)号：CN105393081B

公开(公告)日：2019-01-25

申请号：CN201480039301.3

申请日：2014-05-08

Applicant: 通用电气公司

Inventor： B.P.布莱 ,  J.S.詹森 ,  C.A.奈菲斯 ,  C.比诺 ,  K.莱斯尼基

IPC: G01B21/04 ,  G01B21/20 ,  G01B11/00

Abstract: 本公开涉及可用于熔模铸造过程(包括不限于用于生产飞机发动机、陆基涡轮发动机等)中使用的模具和坩锅的无损评估(NDE)的系统和方法。按照一个方面，本公开提供一种用于无损评估的系统，其包括支承、3D扫描装置和计算机组件。按照另一方面，本公开提供一种用于无损评估的方法，其包括下列步骤：提供一种按照本公开、用于模具或坩锅的无损评估的系统；将模具或坩锅固定到系统的支承；以及操作与计算机组件结合的系统的3D扫描装置，以便创建3D结构差异图，其指示模具或坩锅是落在预期结构完整性参数范围之内还是之外。

公开(公告)号：CN105393081A

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201480039301.3

申请日：2014-05-08

Applicant: 通用电气公司

Inventor： B.P.布莱 ,  J.S.詹森 ,  C.A.奈菲斯 ,  C.比诺 ,  K.莱斯尼基

IPC: G01B21/04 ,  G01B21/20 ,  G01B11/00

CPC classification number: G06F17/50 ,  G01B11/24 ,  G01B21/04 ,  G01B21/20

Abstract: 本公开涉及可用于熔模铸造过程(包括不限于用于生产飞机发动机、陆基涡轮发动机等)中使用的模具和坩锅的无损评估(NDE)的系统和方法。按照一个方面，本公开提供一种用于无损评估的系统，其包括支承、3D扫描装置和计算机组件。按照另一方面，本公开提供一种用于无损评估的方法，其包括下列步骤：提供一种按照本公开、用于模具或坩锅的无损评估的系统；将模具或坩锅固定到系统的支承；以及操作与计算机组件结合的系统的3D扫描装置，以便创建3D结构差异图，其指示模具或坩锅是落在预期结构完整性参数范围之内还是之外。