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公开(公告)号：CN117751525A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202280050288.6
申请日：2022-07-20
Applicant: 高通股份有限公司
Abstract: 公开了一种用于模拟数字转换的装置。在示例性方面，该装置包括模拟数字转换器(ADC)。该ADC包括具有输入和输出的参考交叉检测器。该ADC还包括斜坡发生器，该斜坡发生器耦合在该参考交叉检测器的该输出与该参考交叉检测器的该输入之间。该ADC还包括电压移位器，该电压移位器耦合在该参考交叉检测器的输出与该参考交叉检测器的该输入之间。
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公开(公告)号：CN116964675B
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202280019411.8
申请日：2022-03-10
Applicant: 高通股份有限公司
IPC: G11C11/54 , G11C11/419 , G11C11/418 , G11C11/412 , G11C7/10 , G06N3/063
Abstract: 提供了一种存储器内计算位单元，该位单元包括用于对存储位进行存储的交叉耦合的反相器对。存储器内计算位单元包括由开关对形成的逻辑门，用于将存储位与输入向量位相乘。控制器在操作的计算阶段期间响应于符号位来控制该开关对，并且在操作的执行阶段期间响应于幅度位来控制该开关对。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106575967A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201580042801.7
申请日：2015-08-20
Applicant: 高通股份有限公司
CPC classification number: H03M1/72 , H03M1/0612 , H03M1/66 , H03M1/804 , H03M1/806
Abstract: 用于减小对于CDAC的参考电压的信号相关性包括：将去耦电容器划分为尺寸小于去耦电容器尺寸的多个电容器；在转换阶段期间从耦合至参考电压的采样缓冲器隔离多个电容器的至少一个；以及使用用于将虚设电荷泵入CDAC中的电荷泵来在每个转换步骤处提供补充由CDAC中电容器所汲取电荷所需的合适量电荷，从而CDAC针对每个转换步骤的每次代码改变汲取基本上相似量的电荷。
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公开(公告)号：CN108141223A
公开(公告)日：2018-06-08
申请号：CN201680056056.6
申请日：2016-08-24
Applicant: 高通股份有限公司
Abstract: 本公开的某些方面提供了使用时间交织(TI)逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)的Δ-Σ调制器(DSM)。例如，两个SAR ADC可以被配置为交替地采样和处理输入信号，并且使用额外回路延迟(ELD)针对DSM提供反馈信号。在其他方面，DSM可以使用两步SAR量化器来实现。例如，第一SAR ADC可以采样输入信号以生成DSM的输出的最高有效位(MSB)部分，而第二SAR ADC随后可以采样来自第一SAR ADC转换的残余并且生成DSM的输出的最低有效位(LSB)部分。利用这些技术，可以在高精度Δ-ΣADC中获得更高的带宽，而无需使用增加的采样速率。
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公开(公告)号：CN117981226A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202280061701.9
申请日：2022-08-23
Applicant: 高通股份有限公司
Abstract: 公开了一种用于流水线型模数转换的装置。在示例方面，该装置包括流水线型模数转换器(ADC)。该流水线型ADC包括第一级和第二级。该第一级包括采样器和耦合到该采样器的量化器。该第一级还包括电流分配电路，该电流分配电路耦合到该采样器。该第二级包括：采样器，该采样器耦合到该电流分配电路；和量化器，该量化器耦合到该第二级的该采样器。
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公开(公告)号：CN115039177A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202180011468.9
申请日：2021-01-21
Applicant: 高通股份有限公司
IPC: G11C11/419 , G11C7/10 , G11C8/16 , G11C7/16 , G11C11/412
Abstract: 提供了一种存储器内计算位单元，包括用于存储经存储位的一对交叉耦合的反相器。存储器内计算位单元包括用于将经存储位与输入矢量位相乘的逻辑栅极。逻辑栅极包括FET晶体管。FET晶体管的源极端子连接到交叉耦合反相器的输出节点，FET晶体管的栅极端子连接到输入矢量位，并且FET晶体管的漏极端子连接到电容器的第一板。电容器的第二板连接到读取位线。
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