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公开(公告)号：CN113874717B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202080036849.8
申请日：2020-05-01
Applicant: CKD株式会社
IPC: G01N23/04 , G01N23/083 , G01N23/18
Abstract: 提供一种可进行更高精度检查的检查装置等。依据X射线穿透图像算出表示利用X射线照射装置的X射线的照射输出的照射输出检测值，并以照射输出检测值成为既定值的方式控制利用X射线照射装置的照射输出。照射输出检测值依据X射线穿透图像中位于将照射源与X射线线传感器以最短距离连接的路径上的收容区域2x中除了片剂区域5x以外的区域及/或凸缘部区域9x的亮度所算出。因此，依据X射线穿透图像中最容易变亮的区域的亮度算出照射输出检测值，以此最容易变亮的区域的照射输出检测值成为既定值的方式，即以此最容易变亮的区域充分成为高亮度的方式控制X射线照射装置。因此，将利用X射线线传感器的检测输出的范围更扩大，能进行更高精度的检查。
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公开(公告)号：CN113811761B
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202080035081.2
申请日：2020-04-24
Applicant: CKD株式会社
Abstract: 提供一种可进行更合适的合格与否判定的检查装置等。对PTP薄膜照射X射线，并且根据穿透PTP薄膜的X射线，取得具有亮度的浓淡的X射线穿透图像。根据X射线穿透图像，执行PTP薄膜的检查。就检查而言，特定出和片剂的收容空间相对应的收容区域2b、和收容空间周围的凸缘部相对应的凸缘部区域3b，在各区域检查有无异物。构成为：于片剂的碎片或粉末位于收容区域2b的场合，不将该片剂的碎片或粉末检测为异物，于片剂的碎片或粉末位于凸缘部区域3b的场合，将该片剂的碎片或粉末检测为异物。根据检查对象是收容区域2b或是凸缘部区域3b的差异，可适当地改变片剂的碎片或粉末是否被当成异物检测，可进行更合适的合格与否判定。
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公开(公告)号：CN113711020B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202080029343.4
申请日：2020-03-17
Applicant: CKD株式会社
Abstract: 提供一种可谋求检查精度的提升等的检查装置、包装机及包装体的检查方法。X射线检查装置45具备：对所搬送的PTP薄膜25照射X射线的X射线照射装置51；拍摄被照射该X射线的PTP薄膜25的X射线传感器相机53。且将根据X射线传感器相机53所取得的X射线穿透画像的坐标系统，依据X射线照射装置51、PTP薄膜25及X射线传感器相机53的位置关系，转换成PTP薄膜25的坐标系统，再基于该转换的X射线穿透画像，执行有关PTP薄膜25的检查。
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公开(公告)号：CN113874717A
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202080036849.8
申请日：2020-05-01
Applicant: CKD株式会社
IPC: G01N23/04 , G01N23/083 , G01N23/18
Abstract: 提供一种可进行更高精度检查的检查装置等。依据X射线穿透图像算出表示利用X射线照射装置的X射线的照射输出的照射输出检测值，并以照射输出检测值成为既定值的方式控制利用X射线照射装置的照射输出。照射输出检测值依据X射线穿透图像中位于将照射源与X射线线传感器以最短距离连接的路径上的收容区域2x中除了片剂区域5x以外的区域及/或凸缘部区域9x的亮度所算出。因此，依据X射线穿透图像中最容易变亮的区域的亮度算出照射输出检测值，以此最容易变亮的区域的照射输出检测值成为既定值的方式，即以此最容易变亮的区域充分成为高亮度的方式控制X射线照射装置。因此，将利用X射线线传感器的检测输出的范围更扩大，能进行更高精度的检查。
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公开(公告)号：CN113811761A
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN202080035081.2
申请日：2020-04-24
Applicant: CKD株式会社
Abstract: 提供一种可进行更合适的合格与否判定的检查装置等。对PTP薄膜照射X射线，并且根据穿透PTP薄膜的X射线，取得具有亮度的浓淡的X射线穿透图像。根据X射线穿透图像，执行PTP薄膜的检查。就检查而言，特定出和片剂的收容空间相对应的收容区域2b、和收容空间周围的凸缘部相对应的凸缘部区域3b，在各区域检查有无异物。构成为：于片剂的碎片或粉末位于收容区域2b的场合，不将该片剂的碎片或粉末检测为异物，于片剂的碎片或粉末位于凸缘部区域3b的场合，将该片剂的碎片或粉末检测为异物。根据检查对象是收容区域2b或是凸缘部区域3b的差异，可适当地改变片剂的碎片或粉末是否被当成异物检测，可进行更合适的合格与否判定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113597548A
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202080022399.7
申请日：2020-02-05
Applicant: CKD株式会社
Abstract: 提供一种可谋求装置的小型化或检查精度的提升等的检查装置、包装薄片制造装置及包装薄片制造方法。X射线检查装置45具备：对所搬送的PTP薄膜25照射X射线的X射线照射装置51、52；拍摄被照射该X射线的PTP薄膜25的X射线传感器相机53。从第一X射线照射装置51照射X射线的第一X射线照射范围、从第二X射线照射装置52照射X射线的第二X射线照射范围的交界部被设定于非检查范围WB，该非检查范围WB设在第一检查范围WA1与第二检查范围WA2间，从第一X射线照射装置51照射且穿透第一检查范围WA1的X射线、从第二X射线照射装置52照射且穿透第二检查范围WA2的X射线被设定成在1个X射线传感器相机53上不重迭。
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公开(公告)号：CN111225183B
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN201910962152.2
申请日：2019-10-11
Applicant: CKD株式会社
Abstract: 提供可使在作业人员侧和支援人员侧所对应的图像处理装置一致，可更加可靠地防止不一致的不良状况的检查装置远程对应系统。通过切换装置(71)，将现场显示装置(73)和现场输入装置(72)与多个图像处理装置(52)中的1个连接。通过现场通信装置(74)发送给外部显示装置(84)的图像信号经由切换装置(71)，从连接对象的图像处理装置(52)而发送，通过现场通信装置(74)而接收的对外部输入装置(83)的输入的操作信号经由切换装置(71)发送给连接对象的图像处理装置(52)。即，外部显示装置(84)和外部输入装置(83)经由切换装置(71)，仅仅在其与和现场显示装置(73)和现场输入装置(72)连接的图像处理装置(52)之间进行信号的发送接收。由此，可使在作业人员侧和支援人员侧所对应的图像处理装置(52)一致。
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公开(公告)号：CN119562922A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202380053793.0
申请日：2023-04-11
Applicant: CKD株式会社
Inventor： 大谷刚将
Abstract: 提供了一种异种类片剂流出风险管理系统等，其可更有效地降低异种类片剂收容体向后工序流出的风险。异种类片剂流出风险管理系统(70)具备风险评估部(752)及降低风险措施执行部(753)。风险评估部(752)在按照生产进度生产PTP片的情况下评估风险，该风险是指，在接着要生产的PTP片中，误混入被在该PTP片之前一次生产的PTP片所收容的被当作异种类片剂的片剂，并且混入有该异种类片剂的PTP片向比PTP包装机(10)更后面的工序流出的风险。降低风险措施执行部(753)能根据风险评估部(752)的评估结果，执行用于降低该风险的措施。
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公开(公告)号：CN113748332B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202080031346.1
申请日：2020-03-23
Applicant: CKD株式会社
Inventor： 大谷刚将
IPC: G01N23/04
Abstract: [课题]提供一种可抑制检查效率降低且能更可靠地担保检查质量的均一性的检查装置等。一边照射可穿透PTP薄膜9的X射线，一边根据X射线传感器52a取得基于已穿透PTP薄膜9的X射线的X射线穿透图像，基于该X射线穿透图像执行检查。X射线穿透图像的取得，为以朝X射线的照射源的对向侧凸出的方式使PTP薄膜9弯曲，并以维持着PTP薄膜9的弯曲形状的状态下进行。X射线传感器52a被设为沿着PTP薄膜9的形状的弯曲形状。由此，可抑制照射于PTP薄膜9的各位置的电磁波强度的不均等。其结果，X射线穿透图像在各位置更为均质。
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公开(公告)号：CN114945819A
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202080092901.1
申请日：2020-11-27
Applicant: CKD株式会社
IPC: G01N21/894
Abstract: 提供可使袋部中的针孔的检测精度非常优异的检查装置等。检查装置包括至少一对照相机(52、53)。一对照相机(52、53)在袋部(2)分别位于上游侧位置(R1)时、位于中间侧位置(R2)时和位于下游侧位置(R3)时，至少对该袋部(2)进行拍摄。由此，可更加可靠地获得袋部(2)的全部区域的拍摄图像，并且在所获得的拍摄图像中，更加明确地显现袋部(2)的针孔。进而，通过根据该拍摄图像判断至少袋部(2)中的针孔的有无，使得袋部(2)的针孔的检测精度非常优异。
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