用于抛光半导体晶片的CMP浆料及使用该浆料的方法

    公开(公告)号:CN101374922B

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN200780003331.9

    申请日:2007-01-19

    CPC classification number: C09G1/02 H01L21/3212

    Abstract: 本发明公开了一种CMP浆料,其中将重均分子量为30~500且含有羟基(OH)、羧基(COOH)或其两者的化合物加入到包含磨粒和水且具有第一粘度的CMP浆料中,以便控制CMP浆料具有比第一粘度低5~30%的第二粘度。本发明还公开了一种使用该CMP浆料抛光半导体晶片的方法。根据本发明,CMP浆料的磨粒的团聚粒度可被减小,同时CMP浆料的粘度可降低并且抛光时晶片的整体平坦性可得到改善。因此,CMP浆料可有利地用于制造需要精细图案的半导体器件的制造过程中,并且能够在半导体制造过程中通过使用该浆料而改善半导体器件的可靠性和生产。

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