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公开(公告)号：CN103175786B
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201210551626.2
申请日：2012-12-18
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01N21/3504 , G01J3/453 , G01J3/02
CPC classification number: G16C20/10 , G01J3/027 , G01J3/4535 , G01N21/3504 , G01N2021/3595 , G01N2201/129
Abstract: 本发明提供在对一个或多个测量对象成分进行的定量分析中能同时降低干扰影响与测量误差的样品气体分析装置与样品气体分析装置用方法。样品气体分析装置（100）使用向样品照射光而得到的光谱对所述样品中的一个或多个测量对象成分进行定量分析，并根据从开始产生样品气体到经过规定时间为止的第一产生条件以及经过所述规定时间后的第二产生条件对在多变量分析中使用的库数据进行切换，当处于第一产生条件时，使用对测量对象外成分的干扰影响进行了修正的第一库数据对多个测量对象成分进行定量分析，当处于第二产生条件时，使用没有对测量对象外成分的干扰影响进行修正的第二库数据对多个测量对象成分进行定量分析。
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公开(公告)号：CN102906535B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201280001217.3
申请日：2012-04-26
Applicant: 福斯分析股份公司
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/4535
Abstract: 一种光谱仪（38），包括：一个扫描干涉仪（40，42，44），该扫描干涉仪具有一个光束分离器（40），该光束分离器用于将入射光辐射分成一个跟随反射光束路径的反射光束和一个跟随透射光束路径的透射光束；一个单色光辐射源（52），该单色光辐射源用于将一个基准光束沿着首先入射到该光束分离器（40）的一个第一表面（40’）上的一个第一传播路径（62）发射进入该干涉仪（40，42，44）；一个观察光辐射源（46），该观察光辐射源用于将一个观察光束（64）沿着首先入射到该光束分离器（40）的该第一表面（40’）上的一个第二传播路径（66）发射进入该干涉仪（4，6，8；），并且在该第一表面（40’）处与该基准光束重叠；其中当首先并且同时入射到该第一表面（40’）处时，该辐射源（52；46）合作以在该第一表面（40’）处对应的第一（62）与第二（66）传播路径之间生成一个第一夹角（θ），该第一夹角大于该观察光束（64）的发散半角（α）。
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公开(公告)号：CN103201603B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201180052338.6
申请日：2011-09-06
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Inventor： 平尾祐亮
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01B9/02061 , G01J3/4535
Abstract: 干涉仪（1）基于参照光检测器（25）的检测结果来检测移动镜（16）的位置，并且对测定干涉光进行计测，参照光源（21）构成为包含由半导体激光器构成的光源（21a）。参照光学系统（20）具有将从参照光源（21）射出的激光变换成准直光的参照光用准直光学系统（22），上述准直光相对固定镜（15）倾斜入射。
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公开(公告)号：CN103403528B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201280010861.7
申请日：2012-02-28
Applicant: 国立大学法人香川大学
Inventor： 石丸伊知郎
CPC classification number: G01N21/23 , G01J3/0224 , G01J3/453 , G01J3/4535
Abstract: 经由偏振器到达试样(S)的直线偏振光通过试样(S)附加延迟之后，经由第一偏振片(9)和第二偏振片(11)到达移相器(13)的可移动镜部(131)和固定镜部(132)。而且，由这些镜部反射的测量光经由检偏振器(15)通过成像透镜(17)在检测器(19)的受光面形成干涉图像。此时，通过移动可移动镜部(131)来使由该可移动镜部(131)反射的光束与由固定镜部(132)反射的光束之间的光路长度差连续地发生变化，因此由检测器(19)检测的干涉图像的成像强度连续地发生变化，从而能够获取类似于干涉图的合成波形。通过对此进行傅里叶变换，能够得到每个波长的振幅和每个波长的双折射相位差。
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公开(公告)号：CN103403528A
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：CN201280010861.7
申请日：2012-02-28
Applicant: 国立大学法人香川大学
Inventor： 石丸伊知郎
CPC classification number: G01N21/23 , G01J3/0224 , G01J3/453 , G01J3/4535
Abstract: 经由偏振器到达试样(S)的直线偏振光通过试样(S)附加延迟之后，经由第一偏振片(9)和第二偏振片(11)到达移相器(13)的可移动镜部(131)和固定镜部(132)。而且，由这些镜部反射的测量光经由检偏振器(15)通过成像透镜(17)在检测器(19)的受光面形成干涉图像。此时，通过移动可移动镜部(131)来使由该可移动镜部(131)反射的光束与由固定镜部(132)反射的光束之间的光路长度差连续地发生变化，因此由检测器(19)检测的干涉图像的成像强度连续地发生变化，从而能够获取类似于干涉图的合成波形。通过对此进行傅里叶变换，能够得到每个波长的振幅和每个波长的双折射相位差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103180699A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201180051362.8
申请日：2011-07-26
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Inventor： 原吉宏
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/4535 , G02B26/0858
Abstract: 在分光测定前的粗调工序中，使移动镜移动（＃11），将由4分割传感器接收到移动镜的反射光与固定镜的反射光的干涉光时的各分割元件的输出相加，来检测干涉光的对比度的变化（＃12），并且基于该对比度的变化，检测两反射光的相对倾斜量（＃13），对初始倾斜误差进行修正（＃14）。另一方面，在分光测定前的微调工序中，基于由4分割传感器接收到两反射光的干涉光时的各分割元件的输出的相位差，检测两反射光的相对倾斜量以及倾斜方向，对初始倾斜误差进行修正。
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公开(公告)号：CN103175786A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201210551626.2
申请日：2012-12-18
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G16C20/10 , G01J3/027 , G01J3/4535 , G01N21/3504 , G01N2021/3595 , G01N2201/129
Abstract: 本发明提供在对一个或多个测量对象成分进行的定量分析中能同时降低干扰影响与测量误差的样品气体分析装置与样品气体分析装置用方法。样品气体分析装置（100）使用向样品照射光而得到的光谱对所述样品中的一个或多个测量对象成分进行定量分析，并根据从开始产生样品气体到经过规定时间为止的第一产生条件以及经过所述规定时间后的第二产生条件对在多变量分析中使用的库数据进行切换，当处于第一产生条件时，使用对测量对象外成分的干扰影响进行了修正的第一库数据对多个测量对象成分进行定量分析，当处于第二产生条件时，使用没有对测量对象外成分的干扰影响进行修正的第二库数据对多个测量对象成分进行定量分析。
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公开(公告)号：CN108701207A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201680053468.4
申请日：2016-07-15
Applicant: 15秒誉股份有限公司
IPC: G06K9/00
CPC classification number: G01B11/14 , G01J3/26 , G01J3/2823 , G01J3/4535 , G06K9/00288 , G06K9/00677 , G06K9/00718 , G06K9/00771
Abstract: 一种装置包括存储器、与存储器通信并被配置为经由网络进行通信的通信接口以及与存储器和通信接口进行通信的处理器。处理器接收与客户端设备的用户相关联的面部图像数据、注册面部图像数据，并将与用户相关联的面部图像数据和上下文数据存储在数据库中。处理器还从与网络通信的至少一个图像捕获设备接收视频流数据、分析视频流数据和与视频流数据相关联的上下文数据以分别定义分析后的视频数据和分析后的上下文数据，并且基于将与视频流数据相关联的数据与存储在数据库中的数据进行比较来定义置信度。在置信度满足标准时，处理器定义特定于用户的上下文视频流。
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公开(公告)号：CN104737474B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201380054457.4
申请日：2013-08-21
Applicant: SK电信有限公司
Inventor： 曹正植
IPC: H04B10/85 , H04B10/548 , H04B10/25 , H04L9/08
CPC classification number: G01J3/4535 , H04B10/70 , H04L9/0852 , H04L9/0858 , H04L2209/24
Abstract: 公开了用于差分光学相位调制的方法和装置。根据本发明的某个实施方式，提供通过在光学相位调制器被排列在具有不同路径的非对称光学干涉仪外部的量子密钥分配系统中的发送单元和接收单元中的相位调制步骤中将两个时分单光子同时调制成相反值的差分调制方法，将相位调制器和相位调制器驱动器的驱动范围减小为与传统方法相比一半的方法和装置。
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公开(公告)号：CN103547528B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201280023910.0
申请日：2012-04-04
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G02B26/001 , G01B9/02051 , G01B9/02056 , G01J3/4535 , G01J3/4537 , G02B5/08 , G02B26/0833
Abstract: 光模块具备具有通过蚀刻硅区域（11）而形成的光透过性光学部件（12）的第1板状构件（10）、以及具有用于反射透过了光透过性光学部件（12）的光的光反射性光学部件（镜（21～24））的第2板状构件（20），第1和第2板状构件（10,20）相互接合，透过光透过性光学部件（12）的光的光路沿着第1板状构件（10）的部件形成面和第2板状构件（20）的主面。由此，实现了能够将光反射性光学部件与光透过性光学部件接近地配置且即使在与基板的特性相关的要求根据光学部件而相反的情况下也可以满足这些要求的光模块及其制造方法。
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