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公开(公告)号：CN115186568A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210769946.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种射线追踪法中计算最短屏蔽深度的方法，属于卫星空间环境分析技术领域。方法包括：S1、修改和编译GEANT4框架；S2、继承特定类，实现所述特定类中的相关函数；S3、计算所述射线每一步路径的垂直路径步长和斜线路径步长；S4、取所述垂直路径步长和所述斜线路径步长间的较小者，乘以材料密度，得到该步路径的屏蔽深度，累加所述射线各步路径的所述屏蔽深度，形成该条所述射线的最短屏蔽深度。本发明借助GEANT4软件实现了按照直线路径前行，但按垂直于入射方向进行屏蔽深度累加的方式，可保证计算的路径位于参与分析的空间之内，且屏蔽深度结果小于或等于直线走法，能够更加准确的评估电子等粒子的屏蔽深度。
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公开(公告)号：CN115186467A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210769884.1
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明提供了一种飞行器紫外辐照表征方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括：获取当前时刻飞行器的运动状态和运行姿态、太阳光线的方向；根据所述飞行器的运动状态以及所述太阳光线的方向，判断所述飞行器是否受紫外辐照；当所述飞行器受到紫外辐照时，根据所述太阳光线的方向以及所述飞行器的姿态，对所述飞行器不同受晒面的紫外辐照情况进行分析。本发明通过获取飞行器的运动状态、姿态状态以及获取太阳光线的方向，对飞行器表面不同部位受到的不同程度的紫外辐射进行表征，考虑了不同飞行器的结构及受晒面，较为真实地实现对飞行器在轨运行期间的紫外辐照进行实时量化表征。
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公开(公告)号：CN115186465A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210768685.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F30/15 , G06F113/28
Abstract: 本发明提供了一种计算单机内部深度‑剂量曲线的方法，属于空间环境分析技术领域。方法包括：S1、计算输入的深度‑剂量曲线，选取所要分析的空心的单机壳体；S2、进行射线跟踪分析，获取每一个扇形区域的屏蔽深度值；S3、将每一个扇形区域的屏蔽深度值与输入的深度‑剂量曲线的屏蔽深度值进行加和，之后依据加和的屏蔽深度值计算出对应的剂量值，以输入的深度‑剂量曲线的屏蔽深度值和依据加和的屏蔽深度值计算得到的剂量值构建输出的深度‑剂量曲线；S4、根据每一个扇形区域的权重对输出的深度‑剂量曲线进行累加，构建单机内部的深度‑剂量曲线。本发明实现了高效、精确地将外部环境的深度‑剂量曲线转化为单机壳体的深度‑剂量曲线。
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公开(公告)号：CN115171797A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210768357.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种材料中不同种类空位缺陷的识别和统计方法。属于模拟技术领域。所述方法包括建立与材料对应的体系模型；设定模拟参数，利用分子动力学方法对所述体系模型进行缺陷演化模拟计算；获取缺陷演化过程直至缺陷演化完成后的各体系结构，并获取所述体系结构中的空位缺陷及其坐标信息；利用团簇分析法将所述空位缺陷划分为不同种类的空位团簇；统计同一种类所述空位团簇的数目，根据各体系结构中空位团簇的信息，得到不同种类空位缺陷随时间演化的关系。本发明可以直观且准确的表征出半导体材料受辐照后材料中各类空位缺陷的存在情况，且方法逻辑清晰，步骤简单、易于操作。
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公开(公告)号：CN115170733A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210768480.0
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种飞行器轨迹云图实时显示与切换方法、系统、存储介质及服务器，涉及航天工程技术领域，所述的飞行器轨迹云图实时显示与切换方法包括如下步骤：建立地球三维场景模型；获取飞行器的空间运动状态表征数据并绘制飞行器运行轨迹；计算不同维度下空间环境数据；获取颜色标尺，根据所述颜色标尺与所述空间环境数据对所述飞行器运行轨迹进行着色，实现飞行器轨迹云图的显示与切换。本发明所述的飞行器轨迹云图实时显示与切换方法结合了飞行器空间运动状态表征显示技术以及环境数据驱动的云图显示技术，能实时显示数据变化和切换不同维度的数据，直观的展示出飞行器运行轨迹上空间环境数据的变化和恶劣程度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115169106A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210770286.6
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明提供了一种空间等离子体实时表征方法、装置及系统，涉及航天航空技术领域。本发明所述的空间等离子体实时表征方法，包括：初始化参数；根据轨道参数确定航天器的实时位置数据和实时速度数据，根据姿态参数确定航天器的实时空间姿态数据；根据实时位置数据确定等离子体环境的温度参数和密度参数，通过麦克斯韦等离子能量分布确定等离子体能谱，根据温度参数、密度参数和等离子体能谱确定实时空间等离子体环境数据；根据实时位置数据、实时速度数据、实时空间姿态数据和实时空间等离子体环境数据确定实时表征仿真数据。本发明所述的技术方案，准确描述空间等离子体对航天器产生的效应影响，从而提高航天器飞行安全。
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公开(公告)号：CN115169103A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210768583.7
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明提供一种太阳能电池辐照损伤的模拟计算方法，包括：测量太阳能电池的厚度，并确认其材料属性；构建所述太阳能电池的结构模型，将所述结构模型简化为具有若干个平行平板的层状结构；通过蒙特卡罗方法，使用空间辐照粒子照射所述结构模型，并通过积分计算所述层状结构中每层的位移吸收能量。本发明提供的太阳能电池辐照损伤的模拟计算方法能够快速评价太阳能电池在受到空间辐照粒子辐照后的位移损伤情况，相对于空间实验显著降低了实验成本，为辐照效应损伤机理分析及器件在轨性能退化预测提供依据，且能够计算传统方法无法计算的中子和光子等辐照粒子。
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公开(公告)号：CN115168927A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210762518.3
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/12 , G06F30/25 , G06F17/10 , G06F111/10 , G06F119/04
Abstract: 本发明提供了一种基于反向蒙特卡罗方法模拟计算辐射效应的方法，属于卫星空间环境分析技术领域。方法包括：S1、在Geant4软件中输入几何文件，构建与航天器对应的几何模型，选取辐射对象结构，根据辐射对象结构选取探针分布形式，并设置相关参数，相关参数包括探针数量；S2、导入反向蒙特卡罗能谱文件，设置反向追踪能量范围、分析参数、追踪粒子和追踪粒子数；S3、进行真实环境模拟处理，对每个探针分别生成相应的脚本文件，之后将脚本文件分别输入多个求解器进行同时求解；S4、对步骤S3中的求解结果进行求和以及归一化处理，获取最终结果。本发明利用多个求解器同时处理脚本文件进行批量计算，大大减少计算时间，提高计算效率。
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公开(公告)号：CN115167982A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210769818.4
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种航天器空间环境模型仿真计算方法、装置及可读存储介质，涉及航天器仿真计算技术领域，所述方法包括：基于航天器的空间环境模型编写Fortran源代码，调通所述Fortran源代码并自行调用；修改所述Fortran源代码，将所述Fortran源代码封装为动态链接库；通过C++程序调用所述动态链接库封装中的空间环境模型，并使用主函数进行调用计算，得到空间环境数据并输出。与现有技术比较，本发明解决了基于Fortran语言编写的空间环境模型大多难以在以C++为基础的仿真主程序中调用计算的问题，实现了空间环境的量化表征。
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公开(公告)号：CN115148308A
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202210770344.5
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供一种半导体器件中电子空穴对产额的模拟计算方法，包括以下步骤：测量待测半导体器件的厚度，并确认其材料属性；在Geant4环境中，根据步骤S1得到的参数构建所述半导体器件的结构模型；选择不同辐射粒子入射所述结构模型，并计算得到总的正电荷量以及单位距离上的电子空穴对数量；通过Geant4计算发生电离的位置，并计算其平均值，将所述平均值作为可调参数b；将所述电子空穴对数量和所述可调参数b代入Jaffe电子空穴对复合公式，计算不同电场强度条件下的电子空穴对产额。本发明提供的电子空穴对产额的计算方法，步骤简单，易于操作，能够大幅度降低试验的成本，且计算效率较高，对半导体器件损伤和空间环境模拟研究具有重大意义。
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