公开(公告)号：CN1287128C

公开(公告)日：2006-11-29

申请号：CN200410003741.1

申请日：2004-01-30

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 大村阳一 ,  冈徹 ,  仲嶋一 ,  佐久间浩和 ,  冈室贵士

IPC: G01D5/347 ,  G01B11/00

CPC classification number: H03M1/0678 ,  G01D5/347 ,  G01D5/34707 ,  G01D5/34715 ,  H03M1/301

Abstract: 本发明提供一种可以降低对受光元件的蔓延成分和交调失真，另外没有布线重合地具有稳定的相位差的光电式编码器。具备通过用来自光源(102)的发射光照射刻度(104)，产生规定间距(P)的周期性的光强度分布图案，和刻度相对变化位置的多个受光元件群，在各受光元件群上配置多个受光元件，使相同相位的多个受光元件相邻作为1个受光元件群，并列设置多个受光元件群，多个受光元件群具有规定的相位差，使相互相位差处于规定关系的多个受光元件群的、各自的相位轴上的面积重心(28，29；38，39)一致。

公开(公告)号：CN1480712A

公开(公告)日：2004-03-10

申请号：CN03143848.2

申请日：2003-06-03

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 大村陽一 ,  岡徹 ,  中島利郎 ,  仲嶋一 ,  佐久間浩和 ,  岡室貴士 ,  阪本雅彥 ,  杉本耕一

IPC: G01D5/34

CPC classification number: G01D5/342

Abstract: 一种光电式旋转编码器，其中，为了小型化且组装精度提高，使投光元件和受光元件一体化，同时，由一体化而产生的从投光元件向着受光元件的漫射光成份排除到外部。通过折返光学部件将投光元件所产生的光线折返到和光线的投光方向相反的方向上，通过具有检测图案部分的圆板由配设在和投光元件在同一基板上的受光元件接受折返后的光线，根据该受光信号检测圆板的旋转变位，其中，在配设上述投光元件和受光元件的基板前方侧配设来自上述投光元件的光线的漫射光成份通过其侧面部分到达外部的光学元件，用该光学元件覆盖上述基板，将光学元件和基板一体化。

公开(公告)号：CN1300037A

公开(公告)日：2001-06-20

申请号：CN00137231.9

申请日：2000-11-30

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 白附晶英 ,  鹿井正博 ,  仲嶋一

IPC: G06T1/00

CPC classification number: G06K7/10683

Abstract: 凹凸图形检测装置,设有具有光源的第1光学系统;透明导光体,其具有接收从光源发出的入射光的入射面,与该入射面相对地设置的放置具有凹凸图形(图中未示出)的指尖F的检测面,作为进一步反射来自该检测面的散射光的曲面的球面镜,光吸收面,其与该球面镜相对地设置且具有用于射出从前述球面镜发出的反射光的开孔;第2光学系统,用于将从所述开孔发出的光导引至摄像元件。所述凹凸图形检测装置可实现小型化,能够获得无变形的正确图像。