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公开(公告)号：CN105717086A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610128358.1
申请日：2016-03-07
Applicant: 吉林大学
CPC classification number: G01N21/6404 , G01J3/10 , G01N2021/6417
Abstract: 本发明涉及一种基于数字微镜的原子荧光光谱仪光源变频控制方法，该方法在采集阶段内，以高频电流和小直流电流控制空心阴极灯工作，同时控制数字微镜进行翻转；在空心阴极灯点亮时间内进行采样；在非采集阶段内，以低频电流和小直流电流控制空心阴极灯工作。本发明在小电流预热的基础上增加低频脉冲电流，能够提高空心阴极灯的稳定性，降低稳定时间，实现了同等时间内多次采样，提高了仪器工作效率，可延长空心阴极灯使用寿命，不仅适用于一次只能检测一种元素的单通道原子荧光光谱仪中光源的变频控制，还适用于一次能够检测多种元素的多通道原子荧光光谱仪中光源的变频控制。
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公开(公告)号：CN108956554B
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN201810477183.4
申请日：2018-05-18
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明涉及一种基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法，该方法包括下述步骤：计算得到数字微镜列位置与标准波长间的基本函数关系式；计算拟合误差并将其存到“波长误差”Column中的对应位置；针对待测样品，用户选择要测量的预检荧光波长，利用“波长误差”Column中存储的波长误差对预检荧光波长进行校正得到已校准波长，带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列，从而得到待测样品的测量波长，获得准确荧光强度值。带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列位置，从而测量待测样品的测量波长，获得准确荧光强度值。利用本发明能够准确测量待测样品波长位置的荧光强度信息。
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公开(公告)号：CN108693155B
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN201810477122.8
申请日：2018-05-18
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及一种基于DMD的原子荧光多通道检测光源杂质干扰校正方法，该方法如下：建立原子荧光元素特征谱线库；利用色散原子荧光检测系统对含有杂质的待测元素的荧光信号进行采集并生成谱图；利用色散原子荧光检测系统对杂质元素的荧光信号进行采集并生成谱图；根据含有杂质的待测元素荧光信号中杂质元素谱峰的强度及杂质元素的荧光信号谱图，计算干扰系数；利用非色散原子荧光检测系统，对元素进行多通道检测；根据多通道检测得到的含有杂质的待测元素及杂质元素的荧光强度和计算得到的干扰系数，便可对光源杂质干扰进行校正。本发明能够对检测过程中的光源杂质干扰进行有效地识别和扣除，提高了原子荧光光谱仪定量检测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN105717086B
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201610128358.1
申请日：2016-03-07
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明涉及一种基于数字微镜的原子荧光光谱仪光源变频控制方法，该方法在采集阶段内，以高频电流和小直流电流控制空心阴极灯工作，同时控制数字微镜进行翻转；在空心阴极灯点亮时间内进行采样；在非采集阶段内，以低频电流和小直流电流控制空心阴极灯工作。本发明在小电流预热的基础上增加低频脉冲电流，能够提高空心阴极灯的稳定性，降低稳定时间，实现了同等时间内多次采样，提高了仪器工作效率，可延长空心阴极灯使用寿命，不仅适用于一次只能检测一种元素的单通道原子荧光光谱仪中光源的变频控制，还适用于一次能够检测多种元素的多通道原子荧光光谱仪中光源的变频控制。
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公开(公告)号：CN113624339B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202110804101.4
申请日：2021-07-16
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明属于光谱分析技术领域，具体涉及一种基于DMD和中阶梯光栅的同向色散光谱分析仪及方法；其中待测光谱线通过细长型狭缝进入准直镜，经准直镜准直后变为复色平行光谱线入射进入棱镜，经棱镜分光后的光谱线经由聚焦透镜入射进入数字微镜，其中数字微镜将所需的特定波段范围内的待测光谱线反射至准直透镜后进入中阶梯光栅，经中阶梯光栅分光后的光谱线入射进入聚焦镜，经聚焦镜聚焦反射后入射进入CCD探测器，由CCD探测器接收并检测；可连续多次对不同特定波段的待测谱线进行实时检测，有效避免了级次重叠，提高检测准确性；此外，由于中阶梯光栅和棱镜同向色散，采用细长型狭缝作为入射狭缝，提高了系统的光通量以及对微弱光信号的检测能力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107677640B
公开(公告)日：2018-07-27
申请号：CN201710907215.5
申请日：2017-09-29
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/39
Abstract: 本发明公开了种基于激光诱导击穿光谱的塑料样品元素识别方法,包括如下步骤:1)基于NIST数据库建立元素特征谱线数据库;2)通过LIBS装置对塑料样品进行实验,获得塑料样品的二维数据矩阵;3)依据离散型的小波变换方法,对LIBS谱图进行基线校正;4)依据连续型的小波变换方法,对校正过的谱图进行谱峰识别;5)将NIST中的数据与所建立的特征谱线数据库中的数据进行比对,判定谱峰的元素归属。本发明可以实现塑料样品内元素的自动识别,减少了无用信息对识别过程的影响,达到提高元素识别准确率,减少分类时间,降低计算成本的目的。
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公开(公告)号：CN113624339A
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN202110804101.4
申请日：2021-07-16
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明属于光谱分析技术领域，具体涉及一种基于DMD和中阶梯光栅的同向色散光谱分析仪及方法；其中待测光谱线通过细长型狭缝进入准直镜，经准直镜准直后变为复色平行光谱线入射进入棱镜，经棱镜分光后的光谱线经由聚焦透镜入射进入数字微镜，其中数字微镜将所需的特定波段范围内的待测光谱线反射至准直透镜后进入中阶梯光栅，经中阶梯光栅分光后的光谱线入射进入聚焦镜，经聚焦镜聚焦反射后入射进入CCD探测器，由CCD探测器接收并检测；可连续多次对不同特定波段的待测谱线进行实时检测，有效避免了级次重叠，提高检测准确性；此外，由于中阶梯光栅和棱镜同向色散，采用细长型狭缝作为入射狭缝，提高了系统的光通量以及对微弱光信号的检测能力。
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公开(公告)号：CN110455760B
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201910747707.1
申请日：2019-08-14
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明属于光谱分析技术领域,具体涉及一种基于DMD的色散型AFS光源散射干扰扣除方法，该方法包括：确定待测元素可激发较强非共振荧光线的光源特征谱线；根据确定的光源特征谱线选用中心波长对应的窄带通滤光片,放置在原子化器前，保证激发光源中只有窄带滤光片带通范围内波长可透过，并经原子化器生成相应的共振荧光及非共振荧光；控制数字微镜进行全谱测量，确认参加检测的非共振荧光线信息在数字微镜上对应像元的范围；按范围测量所有非共振荧光强度并求和得到待测元素的荧光强度值。能有效避免光源散射干扰，提高待测元素定量检测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN110793951A
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201911188174.4
申请日：2019-11-28
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明涉及一种基于超强短脉冲供电HCL的光谱仪原子荧光检测方法，该方法如下：采用设定灯电流和占空比的强短脉冲作为点灯信号控制含待测元素的空心阴极灯点亮；根据已知待测元素的荧光谱线波长，确定DMD的翻转区域；查找对照表得到与待测元素此时试验条件对应的采集起始时间和采集时间长度，设置DMD控制板产生的门控信号使其脉冲起始时间等于采集起始时间，脉冲长度等于采集时间长度；步骤四：翻转步骤二所确定翻转区域的DMD，通过门控信号控制采集控制电路中AD模块采集荧光信号，实现待测元素荧光信号的测量。本发明提高了激发光源辐射强度，提高了信噪比，降低检出限。
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公开(公告)号：CN109883549A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910162585.X
申请日：2019-03-05
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明涉及一种基于数字微镜的弯曲谱线的校正方法，该方法如下：得到三维全谱数据；确定谱图中各条弯曲谱线范围；采用光强值加权法获取各弯曲谱线每一行的光谱中心位置及对应的信号强度；确定可拟合范围；步骤五、拟合出可拟合范围内各行像元位置与波长的关系式，得到所有像元对应的波长值；计算不可拟合部分像元对应的波长值；实现数字微镜弯曲翻转检测。本发明不用考虑装调误差及环境误差导致的误差项，可提高测量谱线的信噪比。
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