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公开(公告)号：CN113624339A
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN202110804101.4
申请日：2021-07-16
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明属于光谱分析技术领域，具体涉及一种基于DMD和中阶梯光栅的同向色散光谱分析仪及方法；其中待测光谱线通过细长型狭缝进入准直镜，经准直镜准直后变为复色平行光谱线入射进入棱镜，经棱镜分光后的光谱线经由聚焦透镜入射进入数字微镜，其中数字微镜将所需的特定波段范围内的待测光谱线反射至准直透镜后进入中阶梯光栅，经中阶梯光栅分光后的光谱线入射进入聚焦镜，经聚焦镜聚焦反射后入射进入CCD探测器，由CCD探测器接收并检测；可连续多次对不同特定波段的待测谱线进行实时检测，有效避免了级次重叠，提高检测准确性；此外，由于中阶梯光栅和棱镜同向色散，采用细长型狭缝作为入射狭缝，提高了系统的光通量以及对微弱光信号的检测能力。
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公开(公告)号：CN110455760B
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201910747707.1
申请日：2019-08-14
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明属于光谱分析技术领域,具体涉及一种基于DMD的色散型AFS光源散射干扰扣除方法，该方法包括：确定待测元素可激发较强非共振荧光线的光源特征谱线；根据确定的光源特征谱线选用中心波长对应的窄带通滤光片,放置在原子化器前，保证激发光源中只有窄带滤光片带通范围内波长可透过，并经原子化器生成相应的共振荧光及非共振荧光；控制数字微镜进行全谱测量，确认参加检测的非共振荧光线信息在数字微镜上对应像元的范围；按范围测量所有非共振荧光强度并求和得到待测元素的荧光强度值。能有效避免光源散射干扰，提高待测元素定量检测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN108680549B
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN201810646937.4
申请日：2018-06-22
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/64 , G01N21/01 , G05B19/042
Abstract: 本发明涉及一种基于DMD的色散型原子荧光光谱仪的测控系统，包括母板、灯板、色散采集控制板、非色散采集控制板和参比道控制板共5块PCB板；灯板、色散采集控制板、非色散采集控制板和参比道控制板通过插座与母板硬连接，并且色散采集控制板、非色散采集控制板和参比道控制板分别由屏蔽盒包裹；每个屏蔽盒上的外接接口包括一个PMT供电接口和一个PMT信号采集接口。本发明集成度高，稳定性好，能够配合DMD控制板的控制使光谱仪的光源、色散检测系统、非色散检测系统和光源谱线校正系统进行协调、有序的工作。
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公开(公告)号：CN107664632B
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN201710794368.3
申请日：2017-09-06
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及一种基于DMD的色散原子荧光多通道同时检测方法，该方法以基于DMD的色散原子荧光检测系统为基础，对多通道原子荧光进行同时检测，可以避免原子荧光的不同时间检测对光强度产生的影响，减小噪声影响，提高稳定性，同时节省目标元素溶液，目标元素溶液可以集中在一起进行检测。在一次样品检测过程中，根据每种待测元素的浓度确定激发光源组合方式，对待测元素同时进行激发，能够有效的避免不同元素浓度差异导致的误差。根据谱峰荧光强度补偿系数对谱峰存在重叠的待测元素的谱峰荧光强度进行补偿，能够解决因谱峰重叠造成的谱峰吸收问题，有效的避免道间干扰，从而可以准确确定待测元素的实际含量，检测精度高。
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公开(公告)号：CN110793951A
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201911188174.4
申请日：2019-11-28
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明涉及一种基于超强短脉冲供电HCL的光谱仪原子荧光检测方法，该方法如下：采用设定灯电流和占空比的强短脉冲作为点灯信号控制含待测元素的空心阴极灯点亮；根据已知待测元素的荧光谱线波长，确定DMD的翻转区域；查找对照表得到与待测元素此时试验条件对应的采集起始时间和采集时间长度，设置DMD控制板产生的门控信号使其脉冲起始时间等于采集起始时间，脉冲长度等于采集时间长度；步骤四：翻转步骤二所确定翻转区域的DMD，通过门控信号控制采集控制电路中AD模块采集荧光信号，实现待测元素荧光信号的测量。本发明提高了激发光源辐射强度，提高了信噪比，降低检出限。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109883549A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910162585.X
申请日：2019-03-05
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明涉及一种基于数字微镜的弯曲谱线的校正方法，该方法如下：得到三维全谱数据；确定谱图中各条弯曲谱线范围；采用光强值加权法获取各弯曲谱线每一行的光谱中心位置及对应的信号强度；确定可拟合范围；步骤五、拟合出可拟合范围内各行像元位置与波长的关系式，得到所有像元对应的波长值；计算不可拟合部分像元对应的波长值；实现数字微镜弯曲翻转检测。本发明不用考虑装调误差及环境误差导致的误差项，可提高测量谱线的信噪比。
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公开(公告)号：CN108693155A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810477122.8
申请日：2018-05-18
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6404
Abstract: 本发明涉及一种基于DMD的原子荧光多通道检测光源杂质干扰校正方法，该方法如下：建立原子荧光元素特征谱线库；利用色散原子荧光检测系统对含有杂质的待测元素的荧光信号进行采集并生成谱图；利用色散原子荧光检测系统对杂质元素的荧光信号进行采集并生成谱图；根据含有杂质的待测元素荧光信号中杂质元素谱峰的强度及杂质元素的荧光信号谱图，计算干扰系数；利用非色散原子荧光检测系统，对元素进行多通道检测；根据多通道检测得到的含有杂质的待测元素及杂质元素的荧光强度和计算得到的干扰系数，便可对光源杂质干扰进行校正。本发明能够对检测过程中的光源杂质干扰进行有效地识别和扣除，提高了原子荧光光谱仪定量检测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN105738332B
公开(公告)日：2018-05-25
申请号：CN201610073983.0
申请日：2016-02-02
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及一种适用于原子荧光散射干扰的扣除方法，该方法如下:对激发光源的荧光信号进行采集并处理得到无底电流等干扰的激发光源荧光信号谱图；对样品激发荧光信号进行采集并处理得到样品激发荧光信号检测谱图；找出散射干扰荧光信号及样品中待测元素受到激发而产生的可识别荧光信号；根据激发光源荧光信号和散射干扰荧光信号强度计算散射干扰系数；根据散射干扰系数对可识别荧光信号中存在的散射干扰荧光信号强度进行扣除，得到可识别荧光信号的有效信号强度。本发明能够对检测过程中的散射干扰进行有效的识别和扣除，提高了原子荧光光谱仪器检测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN106656121A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611074667.1
申请日：2016-11-30
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明涉及一种亚纳秒级数字延时脉冲发生装置，包括触发信号生成模块、温补晶振、触摸屏和通信模块分别与FPGA模块连接，FPGA模块经斜坡电路模块和输出驱动模块与延时输出端口连接组成，斜坡电路模块经电容放电补偿模块与FPGA模块连接，输出驱动模块与FPGA模块连接构成。本发明的自触发模式具有自动一键校准功能，自动为每个通道校准到最优配置，解决人工校准误差大的问题。外触发模式具有电容自放电补偿功能，减小电容在数字延时阶段自放电对精度的影响。触发信号生成模块对不同频率的触发信号调理，提高关键技术指标。外触发模式输出晃动控制在0.8ns以内，自触发输出晃动控制在0.1ns以内。电路结构简单，体积小、重量轻、功耗低、成本低、操作简单方便。
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公开(公告)号：CN105738332A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201610073983.0
申请日：2016-02-02
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6404
Abstract: 本发明涉及一种适用于原子荧光散射干扰的扣除方法，该方法如下:对激发光源的荧光信号进行采集并处理得到无底电流等干扰的激发光源荧光信号谱图；对样品激发荧光信号进行采集并处理得到样品激发荧光信号检测谱图；找出散射干扰荧光信号及样品中待测元素受到激发而产生的可识别荧光信号；根据激发光源荧光信号和散射干扰荧光信号强度计算散射干扰系数；根据散射干扰系数对可识别荧光信号中存在的散射干扰荧光信号强度进行扣除，得到可识别荧光信号的有效信号强度。本发明能够对检测过程中的散射干扰进行有效的识别和扣除，提高了原子荧光光谱仪器检测结果的准确性。
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