一种超短激光脉冲波形测量装置

    公开(公告)号:CN106197693B

    公开(公告)日:2019-11-08

    申请号:CN201610548538.5

    申请日:2016-07-13

    Abstract: 本发明公开了一种超短激光脉冲波形测量装置。所述的装置中,被测的垂直偏振的平行激光束经过分光镜后将光变成透射光和反射光,反射基频光经扩束后被双棱镜分成上下两平行基频光,以对称角度入射到倍频晶体,产生的水平偏振的二倍频光,将时间强度信息转换为强度自相关一维空间信息,所述的二倍频光束与分光镜后的透射光在变频晶体上实现变频,产生三阶相关信号光,将时间强度信息转换为强度三阶相关二维空间信息,最后通过简单的重构技术获得脉冲波形信息。本发明的超短激光脉冲波形测量装置成本低、结构紧凑简单,调节方便,可以测量皮秒、飞秒脉冲波形。

    基于三阶相关法的激光脉冲波形测量装置

    公开(公告)号:CN106052886B

    公开(公告)日:2019-11-08

    申请号:CN201610549016.7

    申请日:2016-07-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于三阶相关法的激光脉冲波形测量装置。被测的平行激光束经过分光镜后将光变成透射光和反射光,透射光经半透半反镜再一次分成透射光和反射光,所述的透射光和反射光经倍频晶体产生二倍频光,将时间强度信息转换为强度自相关一维空间信息,该二倍频光束与分光镜后的反射光束在和频晶体上实现三倍频转换,将时间强度信息转换为强度三阶相关二维空间信息。本发明通过简单的重构技术,不仅能够获得脉冲宽度信息,还能够精确地获得脉冲波形信息,能够处理皮秒、飞秒脉冲波形。测量装置成本低、结构简单,调节方便。

    一种用于高功率终端光学系统的杂散光管控系统和方法

    公开(公告)号:CN109541801A

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201811486696.8

    申请日:2018-12-06

    Abstract: 本发明公开了一种基于优化的终端光学系统和杂散光管理器件参数实现高功率终端光学系统的杂散光管控系统和方法,属于高功率激光装置光学系统领域。该系统包括晶体、楔形透镜、光学平板元件和吸收体盒,光源依次经过晶体、楔形透镜后到达光学平板元件并被光学平板元件反射。本发明提供技术方案不会损伤楔形透镜,不对终端光学系统产生污染;保证经过楔形透镜会聚的杂散光偏离出主光路的光束口径增大,降低杂散光通量,降低杂散光管理难度;设计的光学陷阱保证杂散光不会漏出吸收体盒,将不通过楔形透镜会聚的低通量杂散光和通过楔形透镜会聚的高通量杂散光进行管控,方案简单易行设计巧妙,特别适用于高功率终端光学系统的杂散光管控。

    一种多束激光时间同步测试方法

    公开(公告)号:CN105258807B

    公开(公告)日:2018-03-30

    申请号:CN201510654225.3

    申请日:2015-10-10

    Abstract: 本发明提供了一种多束激光时间同步测试方法。测试时在靶点处和参考光路中的基准点处分别放置两个光电管,参考光路首先发射激光脉冲,示波器测量给出参考光路脉冲到达靶点与到达基准点之间的时间间隔Δt1;然后在参考光路中放置挡光板使得参考光路脉冲不能到达靶点,参考光路和待测光路同时发射激光脉冲,示波器测量给出待测光路脉冲到达靶点与参考光路脉冲到达基准点之间的时间间隔Δt2;Δt2‑Δt1为待测光路脉冲与参考光路脉冲到达同一靶点的同步时间差值。更换待测光路,分别给出相应待测光路脉冲相对于参考光路脉冲到达靶点的时间同步差值。本发明操作过程简单,涉及设备少,无需挪动或增加测量设备即可实现多路激光脉冲到达靶点时间同步的直接测试。

    一种高功率超短激光脉冲对比度测量装置

    公开(公告)号:CN104535201A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201510000961.7

    申请日:2015-01-05

    Abstract: 本发明提供了一种高功率超短激光脉冲对比度测量装置。所述的测量装置中,在高功率激光脉冲入射方向上依次设置半波片、扩束镜、分束镜Ⅰ,在分束镜Ⅰ的透射光路上设置延迟调节器,在分束镜Ⅰ的反射光路上依次设置凸透镜Ⅰ、限幅器、凸透镜Ⅱ;从延迟调节器出射的平行光与从凸透镜Ⅱ出射的平行光并行进入和频晶体,由和频晶体产生的倍频光经柱状凸透镜会聚,会聚光经分束镜Ⅱ、分束镜Ⅲ沿水平方向分成左、中、右三路,经不同衰减后进入各自的光电探测器采集,获得对比度信息。本发明灵敏度高,测试动态范围宽。

    基于光限幅的激光脉冲对比度测量装置

    公开(公告)号:CN103712699A

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201410007476.8

    申请日:2014-01-08

    Abstract: 本发明提供了一种基于光限幅的激光脉冲对比度测量装置。所述的测量装置中,在高功率激光脉冲入射方向上依次放置准直镜、衰减片、分束镜Ⅰ,在分束镜Ⅰ的透射光路上依次设置倍频晶体、滤波片、分束镜Ⅱ,在分束镜Ⅰ的反射光路上依次设置半波片、分束镜Ⅲ;在分束镜Ⅲ的反射光路上依次设置凸透镜Ⅰ、限幅器、凸透镜Ⅱ、延迟调节器,由倍频晶体产生的倍频光经分束镜Ⅱ分成透射和反射两部分,分别与来自分束镜Ⅲ的透射和反射基频光并行进入两个三阶相关仪,两个三阶相关仪产生的相关信号经CCD采集,最后通过计算机进行数据处理。本发明调节灵活方便,测试动态范围宽。

    一种用于高功率激光测试系统的光纤耦合方法

    公开(公告)号:CN101819298A

    公开(公告)日:2010-09-01

    申请号:CN200910215304.9

    申请日:2009-12-22

    Abstract: 本发明提供了一种用于高功率激光测试系统的光纤耦合方法。被测高功率平行激光束依次经过衰减器、第一透镜、第二透镜、光纤接收端面后进入光纤;第一透镜与第二透镜构成望远缩束系统,第一透镜表面经第二透镜成像到光纤接收端面;光纤接收端面位于第一透镜和第二透镜组成的望远缩束系统的光轴上,并与该光轴垂直。本发明的光纤耦合方法通过光学望远缩束系统与光学成像系统的结合将具有大指向性漂移、大横向偏移的激光束稳定耦合到光纤,本发明的光纤耦合方法简单易行,操作方便,特别适用于高功率激光脉冲时间波形的测试。

    单发次超短激光脉冲对比度测量装置

    公开(公告)号:CN101762332A

    公开(公告)日:2010-06-30

    申请号:CN200910263670.1

    申请日:2009-12-17

    Abstract: 本发明提供了一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置。所述装置的光路为,被测的平行激光束经过第一半透半反镜后将光变成透射光和反射光,透射光依次经过直角棱镜、第一反射镜、二倍频晶体、滤光片和半波片,反射光经过第二反射镜,两束光以位相匹配角入射到和频晶体上产生三阶自相关信号,三阶自相关信号经第一滤波片和刀口遮挡滤波后用第二半透半反镜将光分成两束,一束光依次经过第一衰减片、第一柱面透镜和第二滤光片后进入第一CCD,另外一束光依次经过遮挡片、第二衰减片、第二柱面透镜和第三滤光片后进入第二CCD,两个CCD对三阶自相关信号分布的主峰和主峰外的区域分别进行测试。本发明可以获得连续的相关信号强度分布信息,可测试单发次超短脉冲对比度达到~106左右。

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