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公开(公告)号：CN101449191A
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：CN200780018431.9
申请日：2007-03-20
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G02B7/02
CPC classification number: G02B7/021 , H04N5/2257 , Y10T29/49826
Abstract: 本发明具有：2块透镜即第1透镜(1)、第2透镜(2)；夹持各第1透镜(1)、第2透镜(2)的筒状的透镜框(3)；及与所述第1透镜(1)、第2透镜(2)彼此相对的透镜面抵接的3个间隔物(7)。间隔物(7)以与第1透镜(1)、第2透镜(2)的曲面抵接的状态介于两者之间，来决定第1透镜(1)、第2透镜(2)两者的间隔。另外，所述透镜框(3)的内径在第1透镜(1)、第2透镜(2)之间是相同的，间隔物(7)与透镜框(3)的内壁抵接。由于透镜框(3)的内径在第1透镜(1)、第2透镜(2)之间是相同的，因此第1透镜(1)、第2透镜(2)以其中心完全一致的状态被夹持。
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公开(公告)号：CN1815206A
公开(公告)日：2006-08-09
申请号：CN200610004660.2
申请日：2006-01-27
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01N21/958 , G01N21/88 , G01M11/00 , G03F1/08
Abstract: 本发明揭示一种能高精度检测出叠积多个具有透光性的层的光学元件的缺陷的光学元件缺陷检测方法和缺陷检测装置。以相互不同的2个观察角度(θ1、 θ2)检测出亮点(10)的光强度，对检测出的各观察角度(θ1、θ2)的光强度进行比较，并根据缺陷的观察角度与光强度的相关关系，判断缺陷的正当性、即判断是伪缺陷还是真缺陷，从而严格判别该缺陷是真缺陷还是伪缺陷。
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公开(公告)号：CN102341645B
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201080010798.8
申请日：2010-01-28
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G02B27/00
CPC classification number: G01N21/8806 , F21S8/006 , G01J1/08 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/12 , G01J2003/1213 , G01J2003/1282 , G01N2021/9511 , G02B6/0018 , G02B6/0038 , G02B19/0028 , G02B19/0047 , G02B27/0994
Abstract: 本发明提供一种照射具有期望的光谱、且方向性被控制的光的光照射装置。本发明所涉及的光照射装置(100)包括光源(101)、导光体(107)、光谱调制用构件(104)，导光体(107)将从光源(101)入射的光从入射面引导至其内部，使该光在导光体(107)的侧面反射，将方向性被控制的光从出射面出射，光谱调制用构件(104)使方向性被控制的所述光的、特定的波长带的光谱衰减，在导光体(107)中，所述入射面小于所述出射面，在导光体(107)的出射面侧包括光谱调制用构件(104)。
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公开(公告)号：CN1637893A
公开(公告)日：2005-07-13
申请号：CN200510004058.4
申请日：2005-01-10
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/131 , G11B7/0901 , G11B7/123 , G11B7/1353 , G11B7/1381
Abstract: 本发明涉及具备光源和光检测器的光集成单元、光头装置及光盘装置。光集成单元具备为照射激光于光盘用的半导体激光器、用于利用激光形成主光束及两个子光束的衍射光栅、用于分割来自光盘的反射光的偏振光全息图(1)、以及检测反射光用的光检测器。偏振光全息图(1)包含沿着与光盘旋转时的半径方向在光学上对应的方向形成的第1分割线(51)，主光束M入射区域(45)以第1分割线(51)为边界分割，子光束A入射区域(46)及子光束B入射区域(47)避开第1分割线(51)配置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102549330A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201180003793.7
申请日：2011-08-29
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01N17/004 , F21S8/006 , G02B6/0026 , G02B6/0028 , G02B6/0068 , G02B6/0078
Abstract: 可防止方向性性能因具有较差方向性的杂散光进入并传播通过锥形导光构件而退化，并且由此可防止光谱与日光的对应程度降低。遮光构件41置于相邻的锥形导光构件4之间。具体而言，遮光构件41附连到或缠绕锥形导光构件4的周向壁的表面，而非用于允许光进出的一端表面和另一端表面。此外，遮光构件41被放置成杂散光不会从其周向壁(而非一端表面和另一端表面)进入锥形导光构件4。
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公开(公告)号：CN1769854A
公开(公告)日：2006-05-10
申请号：CN200510119378.4
申请日：2005-11-02
Applicant: 夏普株式会社
Abstract: 本发明揭示一种光学部件的缺陷检测方法和缺陷检测装置，判断部(13)使入射区(19)的叠层方向的尺寸L1大于光学部件(14)的导光层(22)的厚度L2的方式入射。即使检测用的光(18)的入射位置的定位精度低也能入射到导光层(22)。判断部(13)又使检测用的光(18)以小于光学部件(14)的叠层方向的尺寸L3的方式入射。能防止例如灰尘、伤痕等光学部件(14)中叠层方向Z的两个端面的散射因素使检测用的光(18)散射。因此，可通过检测从光学部件(14)出射的光，高精度检测出光学部件(14)的缺陷(25)。
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公开(公告)号：CN1609976A
公开(公告)日：2005-04-27
申请号：CN200410047737.5
申请日：2004-05-14
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B11/10
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/1365 , G11B11/10545 , G11B11/10597 , G11B2007/0006
Abstract: 提供一种用于磁光记录介质的拾取器，其通过消除偏振光之间的相位差改进了再现信号的质量，并能处置不同记录/再现系统的磁光记录介质。一由磁光记录介质反射的返回光束被极化，并通过设置在一个光源(52)和一个物镜(54)之间的一个分光衍射元件(55)将其分成±一级衍射光。第一与第二第一相位补偿元件(60，61)补偿该±一级衍射光相位，以使得在偏振化之间没有相位差，且进一步被第一与第二偏振/分离元件(56，57)偏振和分离，并被第一与第二光检测元件(58，59)接收。采用具有不同的相位补偿量的第一与第二第一相位补偿元件(60，61)能够处置不同记录/再现系统的磁光记录介质。
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公开(公告)号：CN1609975A
公开(公告)日：2005-04-27
申请号：CN200410045185.4
申请日：2004-05-14
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B11/10
CPC classification number: G11B7/1356 , G11B7/1365 , G11B11/10545
Abstract: 一个对光源(22)发出的和磁光记录介质(21)反射的光束进行分支的分光元件(24)，具有四个分光部分(25a至25d)，和三个放置在被四个分光部分中除了第一个分光部分(25a)之外的其余的三个分光部分(25b至25d)分支的光束路径上的相位补偿装置(27b至27d)，该相位补偿装置为由第M(M＝2至4)个分光部分分支的光束提供固定的相位δM。在此光拾取器(20)中，使用从四组光接收部分(26a至26d)中选出的三组或更少组光接收部分检测到的光束，分别地检测四种光记录介质(21a至21d)的伺服信号。
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