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公开(公告)号:CN1643406A
公开(公告)日:2005-07-20
申请号:CN03807183.5
申请日:2003-03-14
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G02B3/00 , G02F1/13357 , G02F1/13
CPC classification number: G02B3/0068 , G02B3/0012 , G02B3/0056 , G02F1/133526 , G02F1/133621 , H04N9/3108
Abstract: 在有多个透镜的第一及第二微透镜阵列6、7的微透镜阵列基板12中,第一微透镜阵列6被夹在两块无机介质基板21、24之间而形成,第二微透镜阵列7形成于两块无机介质基板21、24中的任何一片无机介质基板上。
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公开(公告)号:CN100437772C
公开(公告)日:2008-11-26
申请号:CN200610081969.1
申请日:2006-05-12
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B7/0065
Abstract: 全息记录再现装置(100),利用空间光振幅调制器(3)控制全息记录媒体(7)中的信号光(12)和参考光(13)的位置以及区域规模。因此,全息记录再现装置(100),通过将析像度高的空间光振幅调制器用作空间光振幅调制器(3),能任意设定信号光(12)和参考光(13)的位置以及区域规模。而且,全息记录再现装置(100)通过利用空间光振幅调制器(3)控制参考光(13)的位置,能使对全息记录媒体(7)的入射角变化。由此,实现角度多重记录。
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公开(公告)号:CN1306735C
公开(公告)日:2007-03-21
申请号:CN03801874.8
申请日:2003-04-02
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H04B10/12
CPC classification number: H04B10/25
Abstract: 根据对光纤(11)来的出射光的第1模块(12)的接收效率,决定相对于光纤(11)的第1模块(12a)的配置,按照该配置中的第1模块(12)侧的远端反射率的值,设定第1模块(12a)的对光纤(11)的耦合光输出使满足规定的数学公式。通过优先决定较大地影响小孔数值孔径提高的条件,有可能提高制造上的自由度并以低成本制造光通信系统。提供能提高制造上的自由度并制造低成本的光通信系统的光通信系统的制造方法。
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公开(公告)号:CN1611021A
公开(公告)日:2005-04-27
申请号:CN03801874.8
申请日:2003-04-02
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H04B10/12
CPC classification number: H04B10/25
Abstract: 根据对光纤(11)来的出射光的第1模块(12)的接收效率,决定相对于光纤(11)的第1模块(12a)的配置,按照该配置中的第1模块(12)侧的远端反射率的值,设定第1模块(12a)的对光纤(11)的耦合光输出使满足规定的数学公式。通过优先决定较大地影响小孔数值孔径提高的条件,有可能提高制造上的自由度并以低成本制造光通信系统。提供能提高制造上的自由度并制造低成本的光通信系统的光通信系统的制造方法。
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公开(公告)号:CN1303439C
公开(公告)日:2007-03-07
申请号:CN03807183.5
申请日:2003-03-14
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G02B3/00 , G02F1/13357
CPC classification number: G02B3/0068 , G02B3/0012 , G02B3/0056 , G02F1/133526 , G02F1/133621 , H04N9/3108
Abstract: 在有多个透镜的第一及第二微透镜阵列6、7的微透镜阵列基板12中,第一微透镜阵列6被夹在两块无机介质基板21、24之间而形成,第二微透镜阵列7形成于两块无机介质基板21、24中的任何一片无机介质基板上。
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公开(公告)号:CN1769854A
公开(公告)日:2006-05-10
申请号:CN200510119378.4
申请日:2005-11-02
Applicant: 夏普株式会社
Abstract: 本发明揭示一种光学部件的缺陷检测方法和缺陷检测装置,判断部(13)使入射区(19)的叠层方向的尺寸L1大于光学部件(14)的导光层(22)的厚度L2的方式入射。即使检测用的光(18)的入射位置的定位精度低也能入射到导光层(22)。判断部(13)又使检测用的光(18)以小于光学部件(14)的叠层方向的尺寸L3的方式入射。能防止例如灰尘、伤痕等光学部件(14)中叠层方向Z的两个端面的散射因素使检测用的光(18)散射。因此,可通过检测从光学部件(14)出射的光,高精度检测出光学部件(14)的缺陷(25)。
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公开(公告)号:CN1380564A
公开(公告)日:2002-11-20
申请号:CN02105669.2
申请日:2002-03-29
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/1374 , G02B3/02 , G11B7/00 , G11B7/1378 , G11B7/13922 , G11B7/13925 , G11B7/1398 , G11B2007/13727
Abstract: 提供一种物镜及其制造误差的校正方法以及使用该物镜的光拾取装置,物镜是两个面为非球面的单面物镜。物镜的数值孔径为0.75以上,设使用波长的至少一个的上述玻璃的折射率为n,设d线中的阿贝数为v时,满足1.75
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公开(公告)号:CN1862674A
公开(公告)日:2006-11-15
申请号:CN200610081969.1
申请日:2006-05-12
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B7/0065
Abstract: 全息记录再现装置(100),利用空间光振幅调制器(3)控制全息记录媒体(7)中的信号光(12)和参考光(13)的位置以及区域规模。因此,全息记录再现装置(100),通过将析像度高的空间光振幅调制器用作空间光振幅调制器(3),能任意设定信号光(12)和参考光(13)的位置以及区域规模。而且,全息记录再现装置(100)通过利用空间光振幅调制器(3)控制参考光(13)的位置,能使对全息记录媒体(7)的入射角变化。由此,实现角度多重记录。
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公开(公告)号:CN1266689C
公开(公告)日:2006-07-26
申请号:CN02816487.3
申请日:2002-08-13
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/1356 , G11B7/1359 , G11B7/1369 , G11B7/13927
Abstract: 在包括光源、在从光源至光记录媒体的光路中的物镜、及像差校正光学系统的光学头装置中,所述像差校正光学系统为校正规定的像差对透过的光束提供相位分布,校正所述像差时的所述像差校正光学系统的相位量被设定得使随着离开所述像差校正光学系与光轴相交点的距离增大,所述像差校正光学系统提供的相位量增大。这样,相对于物镜的中心偏移的容许量增大,能防止因中心偏移产生的像差的劣化。
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公开(公告)号:CN1497268A
公开(公告)日:2004-05-19
申请号:CN03160358.0
申请日:2003-09-25
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G02B3/00 , G02F1/1335 , G03B21/00 , H04N9/31
CPC classification number: G02F1/133526 , B29D11/00278 , G02B3/0012 , G02B3/0068 , G02B5/045
Abstract: 本发明的一个目的是提供制造能够提高光线的使用效率的微透镜矩阵和液晶显示设备,以及方便制造微透镜矩阵的方法和降低设备成本。通过只是用具有对应于第二微透镜矩阵形状的强度分布的平行光线照射第一透镜(12)以及采用透射光线来照射紫外线固化树脂层(33),就可以高对准精度的相互位置关系来设置第一和第二透镜(12,14)。通过用平行光线照射第一透镜(12),就可能均匀地曝光一较大的区域,并且有可能曝光晶片。
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