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公开(公告)号：CN103513322A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310255065.6
申请日：2013-06-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G02B6/00 , F21S8/00 , F21V8/00 , F21Y101/02
CPC classification number: G02B6/0068 , G02B6/0038 , G02B6/0045
Abstract: 本发明提供一种导光板及面光源装置。导光板(1)具备从点状光源射出的光所入射的入射面(10)和将从入射面(10)入射的光射出的出射面(11)，在与出射面(11)相反侧的背面形成有使光朝向出射面(11)反射的传播反射面(12)。出射面(11)由与入射面(10)相邻的传播区域(11a)、与传播区域(11a)相邻的扩散传播辅助区域(11b)、与扩散传播区域(11b)相邻的扩散传播区域(11c)构成，通过在扩散传播区域(11c)形成的棱镜上端的弯曲部来主要控制入射面附近的亮点·明暗线，并通过棱镜的直线部来主要控制导光板(1)的视场角特性。
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公开(公告)号：CN1115555C
公开(公告)日：2003-07-23
申请号：CN97111442.0
申请日：1997-05-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N21/8903
Abstract: 本发明是使用光的缺陷检查方法及其检查装置。用由半导体激光一维配置的列状光源和投影透镜在被检查物体上进行强度变化的虚线状照明。用线状传感器通过物镜摄像。接着一边用试样台使被检查物体依序移动一边通过用线状传感器的信号和试样台的信号形成图像的前处理部向图象处理部输入图像信号并进行图象处理，以此可以检测被检查物体上的光学不均匀部分，确认有否裂纹缺陷。以此方法可高精度、高速度地检测陶瓷基板和金属烧结材料等的裂纹缺陷。
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公开(公告)号：CN1093264C
公开(公告)日：2002-10-23
申请号：CN96106812.4
申请日：1996-06-10
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G02B5/18
CPC classification number: G02B5/1871 , G02B27/46 , Y10S359/90
Abstract: 一种其凹部基本上为矩形形状的相位光栅，光栅深度比通过等式：|n-n0|×(p-d′/e)/p×d′＝(λ/2)×(1+2m)，(其中，m＝0，±1，±2，…)计算得到的深度d′为更深一个规定范围内的值，所述深度d′取决于因相位光栅的衍射产生部分干涉的光的波长λ、相位光栅的间距长度p、相位光栅之基料的折射率n、相位光栅周围介质的折射率n0、以及作为光栅深度与光栅凹部斜面宽度之比的形态比e。
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公开(公告)号：CN1064757C
公开(公告)日：2001-04-18
申请号：CN96110780.4
申请日：1996-06-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N21/23
Abstract: 将液晶层3设在平行或正交尼科尔棱镜的两个偏振片2、6之间，并在其间放置一相移片4使第一偏振片透射方向与光轴一致，再测量第二偏振片透射光强为极限值时的旋转角度，并按相移片旋转角度计算双折射层的厚度。另一方法采用了一个半波片，首先将液晶层设在光强为极限值的位置，调整两个偏振片间的半波片使第一偏振片透镜方向与光轴一致，然后测量当第二偏振片透射光强度为极限值时的半波片旋转角度，再根据该角度计算双折射层厚度。
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公开(公告)号：CN102955195A
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：CN201210301026.0
申请日：2012-08-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G02B6/0061 , G02B6/0036 , G02B6/0038
Abstract: 一种导光板、模具及模具的加工方法。本发明提供一种导光板，能够做到不产生亮度不均、而且以较少的光源实现高画质。一种导光板，其具有第一面（A1）和与其对置的第二面（A2），使光沿着与第二面平行的第一方向入射，并使光朝向与第一面垂直的第三方向的第一面侧出射，该导光板具有：入光部（6）；光导通路径（Lp1），沿着第一方向引导在入光部中入射的光；以及出射部（3a、3b），使经由光导通路径引导的光朝向第三方向的所述第一面侧反射从而出射，出射部是在第二面中沿着与第一方向交叉的第二方向延伸、而且截面呈V字形状的第一V字形槽，第一V字形槽在第一方向设有多个，其深度形成为使第一V字形槽的第二方向的中央为最深。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100354114C
公开(公告)日：2007-12-12
申请号：CN200510063894.X
申请日：2005-04-07
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: B29C65/16
CPC classification number: B29C65/567 , B23K26/103 , B23K26/142 , B23K26/1462 , B29C65/1616 , B29C65/1632 , B29C65/1654 , B29C65/1664 , B29C65/1696 , B29C65/4815 , B29C65/4845 , B29C66/0014 , B29C66/00141 , B29C66/1222 , B29C66/1224 , B29C66/24221 , B29C66/326 , B29C66/534 , B29C66/65 , B29C66/652 , B29C66/71 , B29C66/8266 , B29D11/00 , B29K2069/00 , B29K2101/12 , B29L2011/0016 , G02B7/02
Abstract: 一种光学零件单元、光学零件的激光接合方法及装置，该光学零件，树脂流入长度相对于光学零件的半径的比例在0.25或其以下，从与光学零件的中央部相对的上侧位置向斜下方呈放射状地对激光照射部直接吹送气体。另外，由激光照射装置，使长边成为沿着内壁的方向的激光线束一边沿着长边方向移动一边照射。
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公开(公告)号：CN1680090A
公开(公告)日：2005-10-12
申请号：CN200510063894.X
申请日：2005-04-07
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: B29C65/16
CPC classification number: B29C65/567 , B23K26/103 , B23K26/142 , B23K26/1462 , B29C65/1616 , B29C65/1632 , B29C65/1654 , B29C65/1664 , B29C65/1696 , B29C65/4815 , B29C65/4845 , B29C66/0014 , B29C66/00141 , B29C66/1222 , B29C66/1224 , B29C66/24221 , B29C66/326 , B29C66/534 , B29C66/65 , B29C66/652 , B29C66/71 , B29C66/8266 , B29D11/00 , B29K2069/00 , B29K2101/12 , B29L2011/0016 , G02B7/02
Abstract: 一种光学零件单元、光学零件的激光接合方法及装置，该光学零件，树脂流入长度相对于光学零件的半径的比例在0.25或其以下，从与光学零件的中央部相对的上侧位置向斜下方呈放射状地对激光照射部直接吹送气体。另外，由激光照射装置，使长边成为沿着内壁的方向的激光线束一边沿着长边方向移动一边照射。
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公开(公告)号：CN1420650A
公开(公告)日：2003-05-28
申请号：CN02152202.2
申请日：2002-11-19
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H04B10/40 , G02B6/4214 , G02B6/4232 , G02B6/4246 , H01L2224/16225 , H01L2224/32225 , H01L2224/73204 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供了一种用于波长复用的单芯双向光发送/接收模块，该模块不需要以高精度制造的光波导，且该模块有极好的高频特性及很低的光和电串扰，并且可以低成本得到。在玻璃衬底3中埋入的光纤1的中间，提供了一个光照散部分，它具有一个波长选择过滤器2，相对光纤倾斜地放置。光照散部分被直接固定在一个背部输入型的光电探测元件4上，该元件通过倒装片接合法被安装在一个陶瓷衬底6上，且只有特定波长的光信号能被接收到。光电探测单元和光发射单元之间的光纤额外部分7有足够的长度，且该光纤的一端同光发射元件进行光耦合。简化的结构设计并且不需要光波导，使得本发明的光发送/接收模块给出很低的光和电串扰以及提供了极好的高频特性。
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公开(公告)号：CN1182211A
公开(公告)日：1998-05-20
申请号：CN97111442.0
申请日：1997-05-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N21/8903
Abstract: 本发明是使用光的缺陷检查方法及其检查装置。用由半导体激光一维配置的列状光源和投影透镜在被检查物体上进行强度变化的虚线状照明。用线状传感器通过物镜摄像。接着一边用试样台使被检查物体依序移动一边通过用线状传感器的信号和试样台的信号形成图像的前处理部向图象处理部输入图像信号并进行图象处理,以此可以检测被检查物体上的光学不均匀部分,确认有否裂纹缺陷。以此方法可高精度、高速度地检测陶瓷基板和金属烧结材料等的裂纹缺陷。
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公开(公告)号：CN1170139A
公开(公告)日：1998-01-14
申请号：CN96106812.4
申请日：1996-06-10
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G02B5/18
CPC classification number: G02B5/1871 , G02B27/46 , Y10S359/90
Abstract: 一种其凹部基本上为矩形形状的相位光栅,光栅深度比通过等式:丨n－no丨×(p－d′/e)/p×d′=(λ/2)×(1+2m),(其中,m=0,±1,±2,…)计算得到的深度d′为更深一个规定范围内的值,所述深度d′取决于因相位光栅的衍射产生部分干涉的光的波长λ、相位光栅的间距长度p、相位光栅之基料的折射率n、相位光栅周围介质的折射率no、以及作为光栅深度与光栅凹部斜面宽度之比的形态比e。
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