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公开(公告)号：CN1707631A
公开(公告)日：2005-12-14
申请号：CN200510067459.4
申请日：2000-07-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0045
Abstract: 一种激光功率控制方法，包括如下步骤：由一个检测部分对来自记录介质的反射光或透射光进行检测；根据该检测部分的输出由一个控制部分驱动激光器；并且通过将该检测部分的输出延迟一段时间来校正该检测部分的输出，其中该段时间是所述检测部分以一定的速率检测来自记录介质的反射光或投射光所需的时间，该速率是所述控制部分的输出变化率的倒数。
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公开(公告)号：CN1542756A
公开(公告)日：2004-11-03
申请号：CN200410007003.4
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 一种光学记录介质，其具有一个记录/再现条件记录区，用于记录记录/再现条件和确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。当在记录/再现装置中访问光学记录介质时，使用用于记录/再现装置的记录/再现条件。因此，通过使用针对光学记录介质和记录/再现装置的最优记录/再现装置而进行记录或再现。当第一次使用光学记录介质时，通过使用在光学记录介质中设置的检测记录区而进行检测记录，并记录所获得的记录/再现条件。
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公开(公告)号：CN1101042C
公开(公告)日：2003-02-05
申请号：CN97122851.5
申请日：1997-10-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00
CPC classification number: G11B19/12 , G11B7/00718 , G11B7/08505 , G11B7/0901
Abstract: 一种光学信息装置，将光束照射在信息媒体上执行至少再现和记录操作中的一种，包括：第一寻轨误差探测装置，用于探测第一区内光束和第一轨道间位置误差，第二寻轨误差探测装置，用于探测第二区内光束和第二轨道间位置误差；寻轨控制装置，用于对光束定位在预定轨道上进行寻轨控制；测定装置，用于确定光束被定位在第一区还是第二区内；切换装置，用于根据测定结果选择二探测装置的输出信号中的一个并将该信号送到寻轨控制装置。
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公开(公告)号：CN1269113C
公开(公告)日：2006-08-09
申请号：CN200410006897.5
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 公开了一种记录/再现方法，用于在可重写型光学记录介质上记录信息和再现信息，在其上可记录多个记录/再现条件以及装置信息，所述记录/再现方法包含：进行检测记录，其中将从检测记录数据再现的信号与预定的标准进行比较以测定信号质量；通过信号质量确定记录/再现装置的最优记录/再现条件，所述最优记录/再现条件被至少用于记录信息和再现信息中的一个；和在所述可重写型光学记录介质上记录所述最优记录/再现条件，其中当在所述光学记录介质上记录的多个记录/再现条件为预定的数目时，从所述的可重写型光学记录介质删除最旧的记录/再现条件，将所述最优记录/再现条件记录到所述可重写型光学记录介质上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1269112C
公开(公告)日：2006-08-09
申请号：CN200410006896.0
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 公开了一种记录/再现方法，用于在可重写型光学记录介质上记录和再现信息，所述方法包含：进行检测记录，其中将从检测记录数据再现的信号与预定的标准进行比较以测定信号质量；通过信号质量确定记录/再现装置的最优记录/再现条件，所述最优记录/再现条件被至少用于记录信息和再现信息中的一个；和在所述可重写型光学记录介质上记录所述最优记录/再现条件和对应的时间信息，当在所述光学记录介质上记录的多个记录/再现条件和时间信息为预定的数目时，从所述的光学记录介质删除最旧的记录/再现条件和相应的时间信息，将所述最优记录/再现条件和相应的时间信息记录到所述光学记录介质上，以及实施该记录/再现方法的记录/再现装置。
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公开(公告)号：CN1251205C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN03149106.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1542754A
公开(公告)日：2004-11-03
申请号：CN200410006896.0
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 一种光学记录介质，其具有一个记录/再现条件记录区，用于记录记录/再现条件和确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。当在记录/再现装置中访问光学记录介质时，使用用于记录/再现装置的记录/再现条件。因此，通过使用针对光学记录介质和记录/再现装置的最优记录/再现装置而进行记录或再现。当第一次使用光学记录介质时，通过使用在光学记录介质中设置的检测记录区而进行检测记录，并记录所获得的记录/再现条件。
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公开(公告)号：CN1495732A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03149127.8
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1495728A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03143044.9
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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