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公开(公告)号：CN1251204C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN03143045.7
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1667708A
公开(公告)日：2005-09-14
申请号：CN200410075796.3
申请日：2004-11-29
Applicant: 日本先锋公司 , 株式会社东芝 , 松下电器产业株式会社 , 三星电子株式会社 , 株式会社日立制作所
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B20/12
CPC classification number: G11B20/1217 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/00736 , G11B19/26 , G11B20/10 , G11B2020/10981 , G11B2020/1275 , G11B2220/2562
Abstract: 一种可以以一种或几种类型的记录速度在其上记录记录信息的记录介质。该记录介质包括记录有记录信息的记录区，和当在记录介质上记录记录信息时必要使用的记录速度范围信息记录区，其至少包含针对每种类型的记录介质预置的基本记录速度，其上还记录有记录速度范围信息，表示针对每种类型记录介质预置的记录速度范围。
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公开(公告)号：CN1209751C
公开(公告)日：2005-07-06
申请号：CN02121726.2
申请日：2002-05-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B27/24 , G11B7/00375 , G11B7/00745 , G11B20/1403 , G11B20/1883 , G11B20/1889 , G11B27/19 , G11B27/22 , G11B27/26 , G11B2220/20 , H03L7/08
Abstract: 一种光盘再现设备包括用于检测扇区的扇区检测部件；扇区再现时间测量部件，用于测量扇区再现时间及输出代表所测量扇区再现时间的扇区再现时间数据；用于检测未记录部分的未记录部分检测部件，其中，未记录部分是未记录数据的扇区部分；未记录部分时间测量部件，用于测量未记录部分再现时间并输出代表所测量未记录部分再现时间的未记录部分时间数据；以及扇区确定部件，用于根据扇区再现时间数据和未记录部分时间数据之间的关系，确定扇区是未记录扇区还是记录扇区，其中，未记录扇区是处于未记录状态的扇区。
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公开(公告)号：CN1602518A
公开(公告)日：2005-03-30
申请号：CN03801700.8
申请日：2003-01-30
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/24 , G11B20/12
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B19/125 , G11B19/26 , G11B20/1217 , G11B27/329 , G11B2020/10981 , G11B2020/1099 , G11B2020/1229 , G11B2020/1278 , G11B2220/2575
Abstract: 本发明提供信息介质及信息记录再现装置。本发明的信息介质具备具有导入区和可记录任意信号的数据区，上述导入区具有可记录信息信号的可记录部分。上述导入区的可记录部分具有标识符(I1)，该标识符规定对上述数据区的记录速度。从而可以提高规定记录速度的精度。
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公开(公告)号：CN1542755A
公开(公告)日：2004-11-03
申请号：CN200410006897.5
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 一种光学记录介质，其具有一个记录/再现条件记录区，用于记录记录/再现条件和确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。当在记录/再现装置中访问光学记录介质时，使用用于记录/再现装置的记录/再现条件。因此，通过使用针对光学记录介质和记录/再现装置的最优记录/再现装置而进行记录或再现。当第一次使用光学记录介质时，通过使用在光学记录介质中设置的检测记录区而进行检测记录，并记录所获得的记录/再现条件。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1495729A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03143045.7
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1483193A
公开(公告)日：2004-03-17
申请号：CN01821392.8
申请日：2001-10-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/0021 , G11B7/007 , G11B7/00745 , G11B7/24085 , G11B20/00086 , G11B20/00268 , G11B20/00376 , G11B20/00586 , G11B20/00594 , G11B20/0071 , G11B20/00768 , G11B20/10 , G11B27/3027 , G11B2220/2562
Abstract: 一种具有多个扇区的光盘，每一个扇区包括多个帧。子信息的位值“0”或“1”分配给构成扇区的多个帧，第一帧和最后一帧除外。当分配有子信息的位值“1”的帧的数据域被读出时，边沿位置被偏移、使得超前/滞后误差按照某种规则出现。当分配有子信息的位值“0”的帧的数据域被读出时，边沿位置被偏移、使得超前/滞后误差以所述某种规则的反转规则出现。
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公开(公告)号：CN100354950C
公开(公告)日：2007-12-12
申请号：CN200510074017.2
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1324580C
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN03143046.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1251206C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN03149107.3
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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