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公开(公告)号：CN1917557A
公开(公告)日：2007-02-21
申请号：CN200610126785.2
申请日：2001-07-04
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H04N1/32
CPC classification number: H04N1/32635 , G06K15/00 , H04N1/32609 , H04N1/32673 , H04N2201/0082
Abstract: 提供在对于复印对象数据的再生次数有限制的场合下，即使在复印中发生故障，也能按用户允许的再生次数可靠地复印出复印对象数据的成像控制方法及装置。参照与复印对象数据对应的附加复印管理信息，在对复印对象数据的再生次数有限制的场合下，从正常再生复印对象数据的性能优先模式切换为可使所要求的再生比性能优先模式更可靠地实施的安全优先模式，将复印了复印对象数据的次数作为复印履历进行管理，并根据复印对象数据的再生次数和所管理的复印履历对复印对象数据的复印进行控制。
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公开(公告)号：CN1251205C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN03149106.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1495732A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03149127.8
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1495728A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03143044.9
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN100354950C
公开(公告)日：2007-12-12
申请号：CN200510074017.2
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1324580C
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN03143046.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1251206C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN03149107.3
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1198269C
公开(公告)日：2005-04-20
申请号：CN99119710.0
申请日：1999-07-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B27/19 , G11B7/007 , G11B7/00718 , G11B7/00745 , G11B7/0901 , G11B7/0938 , G11B7/24085 , G11B27/3027
Abstract: 一种光盘，包括迹道和沟槽，沟槽以等于或大于约λ/NA的间距形成，其中，在沿大体上垂直于迹道的两个方向之一的方向相对子迹道位移一预定量的位置设置第1凹坑阵列，以预定的间距形成第1凹坑阵列，此处，预定间距是所取在从约0到约λ/NA范围内值的沟槽间距的函数，其中，在下述位置设置第2凹坑阵列，所述位置是在沿大体上垂直于迹道的两个方向中的另一个方向相对于迹道以一预定量位移的位置。以预定间距形成第2凹坑阵列，此处，预定间距是取在从约0到约λ/NA范围内的值的沟槽间距的函数，其中，λ是发射在光盘上光束的波长；NA是透镜的数值孔径。
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公开(公告)号：CN1100317C
公开(公告)日：2003-01-29
申请号：CN96113230.2
申请日：1996-07-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B19/02
CPC classification number: G11B7/131 , G11B7/0908 , G11B7/0941 , G11B7/0945 , G11B19/12 , G11B2007/0006
Abstract: 一种光盘装置，即使所装入的记录盘是未在卡盒内的CD或数字视频记录盘(DVD)，由于预先进行记录盘的判别，也能缩短装置的前导时间。而且，即使在把CD-R误插入装置的情况下，也不会破坏记录盘上的信息。在记录盘被装入时，微机147把系统切换为DVD用的光学系统。聚光镜头110无视了记录盘之后，再慢慢接近，从而求出FE信号、ENV信号、ASI信号的最大值。在ASI信号小于规定的电平时，把记录盘判定为CD-R。
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公开(公告)号：CN1392840A
公开(公告)日：2003-01-22
申请号：CN01802760.1
申请日：2001-07-04
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H04N1/32635 , G06K15/00 , H04N1/32609 , H04N1/32673 , H04N2201/0082
Abstract: 提供在对于复印对象数据的再生次数有限制的场合下，即使在复印中发生故障，也能按用户允许的再生次数可靠地复印出复印对象数据的成像控制方法及装置。参照与复印对象数据对应的附加复印管理信息，在对复印对象数据的再生次数有限制的场合下，从正常再生复印对象数据的性能优先模式切换为可使所要求的再生比性能优先模式更可靠地实施的安全优先模式，将复印了复印对象数据的次数作为复印履历进行管理，并根据复印对象数据的再生次数和所管理的复印履历对复印对象数据的复印进行控制。
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