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公开(公告)号：CN1398419A
公开(公告)日：2003-02-19
申请号：CN01804644.4
申请日：2001-02-07
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H01J29/07
CPC classification number: H01J29/073 , H01J2229/0023 , H01J2229/003 , H01J2229/0722
Abstract: 根据本发明的构成，采用在荫罩框架(1)的接合部相邻的两个边框构件中较短一方(31)的相对导磁率比另一方(21)的相对导磁率大或相同的、多边形形状的荫罩框架(1)，由此可提供一种可减轻自荫罩框架(1)泄漏的磁场引起的电子束轨迹紊乱的程度的阴极射线管。因此，本发明在产业上具有重大意义。
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公开(公告)号：CN1346505A
公开(公告)日：2002-04-24
申请号：CN00806031.2
申请日：2000-11-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H01J29/02
CPC classification number: H01J29/06 , H01J2229/003
Abstract: 一种内部磁屏蔽罩包括:一对相对的长侧壁(1);一对相对的短侧壁(2),以及位于中央的由所述两对侧壁围成的开口(3)。短侧壁(2)具有一般本垒板形状的缺口(4),后者在整个荧光屏上减小电子束的误着屏。同时,容易使管轴方向的地磁引起的误着屏量同与管轴成直角的水平方向的地磁引起的误着屏量得到平衡。结果,可以提供能够显示没有图像重合不良和色不匀的图像的阴极射线管。
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公开(公告)号：CN1314695A
公开(公告)日：2001-09-26
申请号：CN01117334.3
申请日：2001-03-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01J29/06
Abstract: 阴极射线管包括下列部分:内磁屏蔽,为锥的顶部有开口部的角锤筒形状,由相对的长边侧壁和相对的短边侧壁构成;罩;框架,其中,所述内磁屏蔽在所述长边侧壁的电子束入射侧端部边缘中沿该端部边缘的方向的中央部分上配有延长部,该延长部的高度比与该长边侧壁邻接的短边侧壁的电子束入射侧端部边缘的高度高。
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公开(公告)号：CN1947003B
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200580013286.6
申请日：2005-04-27
Applicant: 松下电器产业株式会社 , 精工电子纳米科技有限公司
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明，解决不是在作为测定时间所设定的时间后就得不到浓度的计算结果这样的现有荧光X射线分析的问题。本发明的荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置，采用其结构为：设定试料的测定条件之后开始测定，并对试料中所包含的元素的测定浓度及测定精度进行计算，且当该精度成为满足预先规定的测定条件之值时结束测定，从而输出此时的浓度。
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公开(公告)号：CN1965228B
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN200580013285.1
申请日：2005-04-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明是对于放置在X射线照射室(7)上侧的试料台架(2)上的试料(1)，在自试料(1)上方关闭试料罩(6)而遮蔽围住试料(1)之后，对试料(1)的下面照射X射线而进行分析的荧光X射线分析方法，其中，在试料(1)放置在试料台架(2)上并关闭试料罩(6)的情况下，由试料罩检测机构(8)检测出试料罩(6)已关闭，就自动地从X射线源(3)照射X射线而开始进行分析。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1993614A
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN200580026554.8
申请日：2005-07-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 一种荧光X线分析方法，可以测量未知试样中含有的元素浓度，而不需要依赖于人的视觉等判别试样，或不需要预先得到来自试样提供方的信息。(1)通过对试样照射X线来判定试样的种类是非金属类材料还是金属类材料的任一种，(2)根据判定的试样种类，选择荧光X线分析的测量条件，(3)根据所选择的测量条件，通过荧光X线分析，测量试样中含有的一种或多种元素的浓度，由此，例如可测量电子/电气设备的部件中含有的Cd、Pb、Hg等微量元素的浓度。
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公开(公告)号：CN1946529A
公开(公告)日：2007-04-11
申请号：CN200580012232.8
申请日：2005-05-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: B29B17/02
CPC classification number: B29B17/0412 , B26F1/386 , B29B17/02 , B29B2017/0456 , B29K2313/00 , B29K2705/00 , B29K2711/12 , B29L2031/445 , B29L2031/726 , Y02W30/622 , Y02W30/625 , Y10T83/2216 , Y10T83/758
Abstract: 提供一种由于作为再循环工序的一个环节而除去异种材料物，因此效率好，且在作业者的作业安全方面或作业环境方面都不存在问题的异种材料除去方法及其装置。在本发明的装置中，从塑料制品的外侧按压塑料制品，同时使工作部动作，并使刃部移动，从而冲裁异种材料物。
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公开(公告)号：CN1826517A
公开(公告)日：2006-08-30
申请号：CN200480020782.X
申请日：2004-07-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N21/3563 , G01N21/01
Abstract: 本发明的塑料识别装置将作为识别对象物的试验片(1)的至少2个面作为识别面使用，识别识别对象物的塑料的种类。本发明的塑料识别装置具备：识别试验片(1)中包含的塑料的种类的识别检测单元(3、4)；为了将试验片(1)的与识别检测单元(3、4)相对的识别面从第1面(1a)变为第2面(1b)而给试验片(1)施加外力将试验片(1)倾倒的倾倒机构(7a、7b)。
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公开(公告)号：CN1244126C
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：CN01804644.4
申请日：2001-02-07
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H01J29/07
CPC classification number: H01J29/073 , H01J2229/0023 , H01J2229/003 , H01J2229/0722
Abstract: 根据本发明的构成，采用在荫罩框架(1)的接合部相邻的两个边框构件中非较短一方(31)的相对导磁率比另一方(21)的相对导磁率大或相同的、多边形形状的荫罩框架(1)，由此可提供一种可减轻自荫罩框架(1)泄漏的磁场引起的电子束轨迹紊乱的程度的阴极射线管。因此，本发明在产业上具有重大意义。
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公开(公告)号：CN1230860C
公开(公告)日：2005-12-07
申请号：CN00819169.7
申请日：2000-12-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H01J29/02
CPC classification number: H01J29/06 , H01J29/073 , H01J2229/003
Abstract: 发明目的是，提供一种可减小因地磁等外部磁场引起电子束偏移而发生的着屏偏差的、能够在整个画面范围减轻彩色边纹和色相不均性的内部磁屏蔽罩。内部磁屏蔽罩，其外观呈具有多个侧面的方筒形状，并且至少具有一个从与保持构件(42)不相接触的部分延伸至张力架设构件(41)附近的裙部(37)，所说裙部(37)与构成荫罩框架的张力架设构件(41)实现了磁结合。
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